schematics spectrolab - Controlli Tecnologici Blog By Ametek

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schematics spectrolab - Controlli Tecnologici Blog By Ametek
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AMETEK
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Taylor-Hobson
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SPECTRO
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EDAX
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CAMECA
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Land Instruments
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ORTEC
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Ricerca, misura, prevenzione e controllo.
AMETEK, eccellenza e innovazione.
Immaginate un mondo più pulito, emissioni
e radiazioni tossiche ridotte, un futuro
più roseo per i vostri figli. Immaginate
precisione, affidabilità e sicurezza in un
unico strumento. E ora aprite gli occhi e
sfogliate queste pagine. Le vostre esigenze
si trasformeranno in realtà.
AMETEK è la più valida realtà a supporto
dell’innovazione e del controllo.
Analisi degli elementi, delle superfici e
della geometria di componenti meccanici,
rilevazione di radiazioni, monitoraggio delle
emissioni, misurazione delle temperature,
allineamento e livellamento ottico. Di
questo e di molto altro si occupano le
nostre divisioni: Taylor-Hobson, ORTEC,
SPECTRO, EDAX, CAMECA e Land
Instruments.
Efficienza, sicurezza, precisione e rapidità
sono ormai richieste dai maggiori standard
internazionali. I nostri prodotti sono in grado
di aiutarvi a raggiungere questi quattro
punti fondamentali, per una produzione di
eccellenza e una visione più ecosostenibile.
Un successo che si basa su più di 50 anni
di esperienza, mettendo sempre al centro
la qualità e la ricerca. Le soluzioni AMETEK
sono personalizzate e collaudate nei
diversi ambiti di competenza, dall’industria
AMETEK vi presenta le sue migliori aziende. alimentare a quella aerospaziale.
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Settori di competenza.
• Oil&Gas, carbone e combustibili fossili
• Metalmeccanico
• Industria estrattiva
• Vetro e ceramiche
• Plastica e gomma
• Prodotti tessili
• Farmaceutica e cosmetica
• Prodotti agricoli e alimentari
• Automazione
• Cartiere e polimeri
• Controllo ed emergenze ambientali
• Settore aerospaziale e automotive
• Nucleare
• Ottica
• Chimica e petrolchimica
• Fisica
• Fotovoltaico
• Geologico
• Elettronica e semiconduttori
• Materiali e lavorazione dei metalli
• Trattamento termico
• Edilizia
• Medicina
• Energia
• Ricerca e sviluppo
AMETEK non vi lascia mai soli. Qualsiasi
sia il vostro settore abbiamo le soluzioni
più adatte alle vostre esigenze e se non
trovate quello che fa al caso vostro, siamo
pronti ad affiancarvi nella progettazione e
fabbricazione di soluzioni personalizzate.
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AMETEK in breve.
Rete commerciale.
Il mondo evolve continuamente e le
richieste dei nostri clienti ci spingono a sfide
sempre più coinvolgenti. È per questo che
diamo ampio spazio alla sperimentazione,
alla ricerca e alla progettazione di strumenti
all’avanguardia. Le soluzioni AMETEK sono
frutto della continua sfida al superamento
dei vincoli tecnologici. Lavoriamo al vostro
fianco per fornirvi ogni giorno tutto questo.
Una rete commerciale capillare in Italia e
nel mondo formata da esperti professionisti
in grado di soddisfare ogni vostra esigenza.
In Italia la sede principale è a Robecco
sul Naviglio, a pochi chilometri da Milano,
centro produttivo e direzionale proiettato
verso l’Europa. Ma le divisioni AMETEK si
diramano in tutta la penisola, coordinate
da responsabili service ricchi di esperienza
e pronti ad entrare in contatto con voi,
ovunque operiate.
Trasformiamo le vostre richieste in strumenti
e servizi di qualità.
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Qualità.
Ogni giorno sentiamo parlare di qualità. Ma
cos’è realmente la qualità?
Basta tenere tra le mani un prodotto
AMETEK per rendersene conto.
AMETEK è un’azienda certificata secondo la
norma UNI EN ISO 9001:2008, e garantisce
un sistema di gestione all’avanguardia in
termini di precisione ed affidabilità, per
soddisfare al meglio le esigenze dei propri
La qualità è frutto di dedizione al lavoro, clienti.
conformità alle specifiche tecniche,
adeguatezza e facilità d’utilizzo degli AMETEK è anche un Laboratorio di Taratura
strumenti,
performance
elevate, secondo la norma UNI CEI EN ISO/IEC
funzionalità, risposta al cambiamento e alle 17025:2005 (Accredia 087) situato presso
sfide, attenzione per i clienti, amore per le la nostra sede in Robecco sul Naviglio, a
cose fatte bene. Qualità è prima di tutto pochi chilometri da Milano.
eccellenza nel proprio settore e passione
per la propria attività, anche nella fase
post-vendita.
Per AMETEK la ricerca, il miglioramento
continuo, la qualità del servizio e del
prodotto sono elementi fondamentali.
Formare, sensibilizzare e investire risorse in
questi settori sono gli ingredienti base che
permettono all’azienda di assicurare servizi
e prodotti di successo.
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Assistenza tecnica.
Grazie agli elevati standard di qualità dei
prodotti AMETEK la manutenzione è ridotta
al minimo. Quando però c’è bisogno
di aiuto AMETEK non vi lascia mai soli.
Una rete di assistenza su tutto il territorio
nazionale soddisfa tutte le vostre esigenze
con facilità e rapidità.
Il servizio di assistenza è veloce e puntuale.
I nostri tecnici sono sempre disponibili e
rintracciabili, pronti a fornire un primo aiuto
anche telefonicamente. Se poi è necessario
un intervento, nel giro di poche ore siamo
sul posto per risolvere il problema e
scongiurare dannosi fermi dei processi
produttivi. I ricambi sono disponibili sia
nel nostro magazzino centrale, sia a
bordo dell’autovettura del tecnico. Questo
permette di risolvere immediatamente tutti
i problemi che si possono verificare. E’
anche possibile acquistare i materiali di
consumo con una semplice telefonata al
nostro servizio di assistenza in sede. Nel
giro di poche ore riceverete i ricambi dove
meglio preferite.
Dalla sede centrale vengono smistate tutte
le richieste di intervento ai coordinatori del
servizio di assistenza, che provvedono
ad inviare al cliente il tecnico più vicino.
I tecnici sono in costante contatto
informatico e sanno in ogni momento che
tipo di intervento si dovrà effettuare. Tutto
questo per non perdere tempo prezioso.
Tutti questi processi sono poi monitorati
dal personale in sede attraverso il nostro
moderno sistema gestionale centralizzato,
il tutto per ottimizzare gli interventi, siano
essi di pura manutenzione ordinaria o
interventi di carattere straordinario. La
situazione è sempre sotto stretto controllo,
per permettere al cliente di non avere disagi
durante l’attività lavorativa.
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I tecnici AMETEK sono estremamente
qualificati, sono formati direttamente
dalla casa madre e offrono consulenza
immediata ai clienti in caso di necessità.
Sono inoltre in grado di indirizzare il cliente
verso soluzioni che possono essere di aiuto
nel processo produttivo, attraverso consigli
sull’uso della strumentazione o illustrando
prodotti alternativi.
Durante l’installazione dei nostri prodotti,
i tecnici AMETEK erogano la formazione
necessaria all’uso della strumentazione e
rimangono a disposizione dei clienti per
risolvere eventuali dubbi e problemi in fase
di start-up.
Inoltre AMETEK organizza corsi specifici
di formazione sulle tematiche tecniche sia
nella propria sede sia in quella richiesta dal
cliente.
www.ametekinstruments.it
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Sempre in continua evoluzione, TaylorHobson opera ai massimi livelli di precisione
e tecnologia, nel campo della superficie,
della rotondità e della misura della forma,
fornendo soluzioni per la metrologia, anche
con prodotti su misura per le esigenze
specifiche delle applicazioni più particolari.
Legata alla casa madre inglese TaylorHobson ha da poco rinnovato il proprio
logo, in occasione del festeggiamento dei
125 anni dalla fondazione dell’azienda. Era
infatti il 1886 a Leicester, nel Regno Unito,
quando l’imprenditore inglese William
Taylor avviò, insieme al fratello, una società
di lenti di qualità che diede un grande
contributo allo sviluppo dell’industria
cinematografica del primo Novecento. Da
quella prima esperienza il gruppo TaylorHobson è cresciuto, iniziando a navigare
il mercato degli strumenti di metrologia,
affermandosi oggi come produttore di fama
mondiale.
Il genio di William Taylor è sempre stato
convinto della possibilità di introdurre
sempre ulteriori perfezionamenti, al
fine di migliorare gli obiettivi e offrire
apparecchiature di misurazione di massima
precisione. E’ infatti con questa stessa
filosofia che verso il 1930 l’indomabile
creativo non rinuncia a sperimentare un
approccio analitico anche nell’hobby
personale del golf e modifica la palla da
gioco, trovando la soluzione per farla volare
più lontano e in modo più rettilineo: è alla
straordinaria inventiva di William Taylor
che si deve la singolare conformazione di
fossette sulle palle da golf.
Il medesimo ingegno e la grande tenacia
del fondatore continuano ad esprimersi
nell’azienda che punta coralmente
all’ottimizzazione
e
all’innovazione
dei propri prodotti, approfondendo la
conoscenza e le esigenze del mercato e
dei propri clienti, in modo da continuare a
realizzare soluzioni sempre più vicine alle
necessità dei consumatori.
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L’innovazione tecnologica e il costante
investimento nella ricerca sono in continua
crescita alla SPECTRO ANALYTICAL
INSTRUMENTS, società tedesca del
gruppo Ametek, rivolta allo sviluppo,
produzione e commercializzazione di
strumentazione per l’analisi chimica
industriale di campioni inorganici metallici
e non metallici, solidi, in polvere o liquidi.
SPECTRO fornisce soluzioni analitiche
che sfruttano i principi di funzionamento
dell’emissione ottica e della fluorescenza
a raggi x per una vasta gamma di
applicazioni, dove gli elementi chimici
vengono analizzati quantitativamente e
qualitativamente, attraverso opportuna
eccitazione con strumenti specifici: gli
spettrometri ARC/SPARK per l’analisi dei
metalli e delle loro leghe, gli spettrometri
ED XRF, anche portatili, per l’analisi di
tutti gli elementi chimici dal Mg all’U e gli
spettrometri ICP-OES, utili per analisi di
campioni liquidi.
Quattro le prerogative principali di
SPECTRO:
– Comprendere e focalizzare le esigenze
dei clienti, fornendo un servizio e un
supporto competente a livello mondiale.
– Progettare, produrre e garantire prodotti
e servizi di qualità, innovativi e ad alte
prestazioni, collaborando al meglio con
i fornitori, per soddisfare i clienti.
– Mantenere
la
leadership
nella
Spettroscopia
atomica,
fornendo
soluzioni sempre più orientate alle
diverse industrie esistenti.
– Mantenere un ambiente di lavoro
ottimale, sviluppando la crescita
personale dei dipendenti attraverso lo
sviluppo continuo di idee e scelte che
migliorino la qualità di prodotti e servizi.
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EDAX è da sempre sinonimo di microanalisi a
dispersione di energia dei raggi X, diffrazione
di elettroni retrodiffusi (EBSD) e sistemi a
microfluorescenza di raggi X.
La qualità dei suoi prodotti è certificata ISO
9001 e testata in laboratori all’avanguardia
diffusi in tutto il mondo per garantire sicurezza
e affidabilità.
Produce e commercializza prodotti di alta
qualità e sistemi per le migliori aziende
mondiali di semiconduttori, metalli, nel
settore geologico e biologico e per le
industrie dei materiali e della ceramica.
Progetta e fornisce alle aziende e ai laboratori
sistemi di microanalisi a fascio di elettroni e di
raggi X per l’analisi della composizione degli
elementi e della struttura di micro campioni
solidi, con particolare attenzione alle tecniche
EDS, EBSD, WDS, e micro-EDXRF.
Fin dal 1962, EDAX ha sviluppato sensori
ultra sensibili, dispositivi elettronici digitali e
software applicativi specializzati, per facilitare
la ricerca scientifica e l’industria. I settori
applicativi spaziano dall’arte alle scienze dei
materiali, dalle nanotecnologie ai metalli, dal
settore energetico a quello chimico, dalla
mineralogia all’industria dei semiconduttori.
Le grandi sfide scientifiche sono all’ordine nel
giorno e EDAX non si lascia certo intimorire.
CAMECA è leader mondiale nella
progettazione
di
strumentazione
all’avanguardia per la ricerca, e di strumenti
di controllo di processo per l’industria dei
semiconduttori.
Sono passati anni dalla pionieristica
microanalisi con sonda elettronica (EPMA) e
dalle prime applicazioni della spettrometria
di massa di ioni secondari (SIMS) degli anni
Sessanta.
E CAMECA è ancora oggi il punto di
riferimento mondiale indiscusso in queste
tecniche, oltre ad aver apportato negli anni
innovazioni rivoluzionarie e presentato
numerose tecniche complementari (LEXES ,
3DAP, ecc.).
CAMECA si è evoluta da produttore di
strumentazione scientifica per la comunità
internazionale di ricerca, a fornitore di
soluzioni di metrologia per l’industria dei
semiconduttori.
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LAND con le sue divisioni LAND Infrared
e LAND Combustion é un’azienda
specializzata nella progettazione e
realizzazione di strumenti per la misura
della
temperatura
senza
contatto,
per il monitoraggio del rendimento di
combustione e per l’analisi delle emissioni
di sostanze inquinanti.
LAND Infrared
Leader mondiale specializzata nel
monitoraggio della temperatura senza
contatto (Tecnologia I.R.), grazie
a più di 60 anni di esperienza nel
settore industriale, LAND offre una
vasta gamma di strumenti e sistemi
personalizzati progettati per garantire la
massima affidabilità e capaci di lavorare
in condizioni ambientali particolarmente
ostili.
LAND Combustion
Esperti nella progettazione, realizzazione
e vendita di analizzatori di gas portatili e
fissi per il monitoraggio del rendimento di
combustione e per l’analisi delle emissioni
inquinanti.
LAND completa la sua gamma anche
con una serie di misuratori di polveri e
di sistemi per la rilevazione e prevenzione
degli incendi
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La produzione ORTEC comprende
attrezzature
e
strumentazione
per
l’operatività di una centrale nucleare
e le inerenti misure in ambito
radioprotezionistico. Specializzata nella
progettazione e fabbricazione di sistemi di
spettrometria “chiavi in mano”, per diverse
applicazioni: nei laboratori di radiochimica
e radiofarmaceutica, nei laboratori di fisica
ambientale per il monitoraggio di aria,
acque ed alimenti, nei sistemi di rivelazione
della contaminazione corporea (WBC),
nei sistemi di decommissionamento degli
ORTEC è infatti oggi sinonimo di alta qualità,
attuali impianti nucleari italiani ai fini del
affidabilità e di avanguardia tecnologica,
rilascio di materiali.
leader nel settore della progettazione
e produzione di rilevatori di precisione, Tutta la strumentazione AMT ORTEC è ad
nell’elettronica di elaborazione del segnale, alta tecnologia, progettata, realizzata e
nella creazione di software e sistemi per utilizzata per la ricerca di base ed applicata,
l’industria, per il mondo accademico e per per la fisica e la ricerca biomedica, oltre
che per gli impieghi industriali per analisi
esigenze governative.
associate non distruttive dei materiali.
Impegno nella ricerca applicata e nel
miglioramento continuo del sistema di
gestione della qualità, per offrire prodotti
innovativi che diano le più alte garanzie
ai clienti. Questa è la politica che AMT
ORTEC persegue fin dal 1960, quando
nasce da un gruppo di scienziati del
National Laboratory di Oak Ridge, intenti
nella ricerca di rivelatori di particelle, che
crescerà negli anni fino a fornire allo stato
attuale soluzioni in quasi tutti i settori di
misurazione delle radiazioni ionizzanti.
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Gentili clienti,
state per conoscere le migliori soluzioni per la metrologia della forma e della superficie in campo mondiale. Sfogliando le
pagine di questo catalogo vi accorgerete subito di quanto sia per noi importante la varietà e la personalizzazione dei nostri
prodotti in base alle esigenze di utilizzo dei clienti.
Noi di Taylor-Hobson siamo sempre in continua evoluzione, seguendo i principi del fondatore William Taylor secondo cui
c’è sempre margine di miglioramento.
La conoscenza è per noi fondamentale: brevetti, tecnologie innovative, la ricerca e lo sviluppo sono il cardine del nostro
lavoro. Il 20% dei nostri dipendenti si occupa di ricerca.
Collaboriamo con diversi istituti metrologici nazionali e internazionali e con le Università per assicurarci di potervi offrire
sempre le tecniche e le tecnologie più appropriate alle vostre esigenze.
Ogni superficie ha le proprie caratteristiche che variano a seconda della fabbricazione. E un po’ come con le persone, le
differenze non fanno altro che arricchire e migliorare la nostra vita. E noi di Taylor-Hobson sappiamo come trattarle.
Saluti sinceri,
Giorgio Zonca
Sales Manager
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La
La
misurazione
della
finitura
superficiale
Lamisurazione
misurazionedella
dellafinitura
finiturasuperficiale
superficiale
Ogni
Ogni
superficie
superficie
ha ha
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qualche
qualche
forma
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modo
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di superficie
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delwww.taylor-hobson.com
modo
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qui
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Visita
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www.taylor-hobson.com
perper
ulteriori
ulteriori
spiegazioni
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e di
un
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un
elenco
elenco
di possono
risorse
di risorse
aggiuntive.
aggiuntive.
quantificate con l'uso di parametri, i più popolari sono qui descritti. Visita www.taylor-hobson.com per ulteriori spiegazioni e un elenco di risorse aggiuntive.
Parametri
Parametri
di di
ampiezza
ampiezza
Parametri di ampiezza
l1 l1
l1
Z Z
Z
l2 l2
l2
l3 l3
l3
l4 l4
l4
l5 l5
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Z Z
Rp1max
Rp1max
Z
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X
X X
X
X
X X
X
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Rv1max
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delle
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parametro
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internazionale
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di rugosità
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universalmente
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Rriconosciuto
è la mediaedaritmetica
delle
differenze assolute del profilo di rugosità dalla
èedilèpiù
il più
utilizzato.
utilizzato.
a riconosciuto
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riconosciuto
ed come
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Rq R(aqvolte
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indicato
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lunghezza
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di campionamento.
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Rt èRptl’altezza
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l’altezza
massima
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da picco
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massimo
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nella
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lunghezza
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di valutazione.
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R
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campione.
p nella
didei
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Rq (a
1 volte
1l lindicato come RMS) è il parametro rms corrispondente
1 1l l2 a2 Ra
z (x)
z (x)
z(x)
z(x)dxdx
dxdx
RaRa
= =
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l 0l 0
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1 l
1 l 2
z (x) dx
z(x) dx
Ra =
Rq =
WaW
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, Pqla, Pea Peq Psono
i parametri
i parametri
corrispondenti
corrispondenti
rispettivamente
rispettivamente
l 0
a,qW
q sono
0
all’ondulazione
all’ondulazione
e aieprofili
ai profili
primari.
primari.
Wa, Wq, Pa e Pq sono i parametri corrispondenti rispettivamente
all’ondulazione e ai profili primari.
||||
| |
Z
Rv1max
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R
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picchi
individuali
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ogni
lunghezza del campione.
p1max
da ogni
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deldel
campione.
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R
1max
la
più
grande
delle
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v
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, Wv,pW
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i parametri
i parametri
corrispondenti
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rispettivamente
rispettivamente
p,t,W
t sono
datvogni
lunghezza
del campione.
all’ondulazione
all’ondulazione
e aieprofili
ai profili
primari.
primari.
Wv, Wp, Wt, Pv, Pp, e Pt sono i parametri corrispondenti rispettivamente
all’ondulazione e ai profili primari.
Z Z
Z
Z
Z
X
X
X
X
X
zp4 zp4 zp2 zp2
Rz1max
Rz1max
Rz1max
zp3 zp3
zv1 zv1
zp3
zv1
Rz,RW
z,z,WPz,z Pz
Rz R= zR=p R+pR+v Redv ed
è laèmassima
la massima
altezza
altezza
da da
picco
picco
massimo
massimo
a picco
a picco
minimo
minimo
Rdella
Wz,
Pz di campionamento.
z, lunghezza
deldel
profilo
profilo
all’interno
all’interno
della
lunghezza
di campionamento.
Rz = Rp + Rv ed è la massima altezza da picco massimo a picco minimo
Rz1max
Rz1max
è ilèpiù
il più
largo
deidei
singoli
singoli
picchi
picchi
da ogni
dalunghezza
ogni
lunghezza
lunghezza
di campionamento.
di campionamento.
dellargo
profilo
all’interno
della
di campionamento.
Wz,R
WPz,1max
Psono
sono
i parametri
i parametri
corrispondenti
corrispondenti
rispettivamente
rispettivamente
all'ondulazione
all'ondulazione
z z z è il più largo dei singoli picchi da ogni lunghezza di campionamento.
e aieprofili
ai profili
primari.
primari.
Wz, Pz sono i parametri corrispondenti rispettivamente all'ondulazione
e ai profili primari.
Cut-off,
Cut-off,
valutazione
valutazione
e lunghezze
e lunghezze
di di
campionamento
campionamento
Un Un
cut-off
cut-off
è unè filtro
un filtro
cheche
utilizza
utilizza
strumenti
strumenti
elettronici
elettronici
o matematici
o matematici
perper
eliminare
eliminare
o ridurre
oCut-off,
ridurre
i dati
i dati
non
non
desiderati
desiderati
pereper
guardare
guardare
allealle
lunghezze
lunghezze
d'onda
d'onda
nella
nella
regione
regione
valutazione
lunghezze
di
campionamento
di interesse.
di interesse.
Le lunghezze
Le lunghezze
deldel
campione
campione
sono
sono
paripari
allaalla
lunghezza
lunghezza
λc del
λc del
cut-off
cut-off
Un cut-off è un filtro che utilizza strumenti elettronici o matematici per eliminare
deldel
filtro
filtro
(vedi(vedi
tabella
tabella
a destra)
a destra)
e sono
e sono
abbastanza
abbastanza
lunghe
lunghe
da comprendere
da comprendere
unauna
o ridurre i dati non desiderati per guardare alle lunghezze d'onda nella regione
quantità
quantità
statisticamente
statisticamente
affidabile
affidabile
di dati.
di dati.
di interesse. Le lunghezze del campione sono pari alla lunghezza λc del cut-off
del
filtro (vedi
tabella a destra)
e sono
abbastanza
lunghe
da del
comprendere
una
La lunghezza
La lunghezza
di valutazione
di valutazione
(l) viene
(l) viene
definita
definita
come
come
la lunghezza
la lunghezza
del
profilo
profilo
utilizzato
utilizzato
quantità
statisticamente
affidabile
dati. superficiale.
perper
la misurazione
la misurazione
dei dei
parametri
parametri
di rugosità
didirugosità
superficiale.
Di solito
Di solito
contiene
contiene
varie
varie
lunghezze
lunghezze
deldel
campione
campione
concon
cinque
cinque
lunghezze
lunghezze
La
lunghezza
di campione
valutazione
(l) viene
definita
come la lunghezza del profilo utilizzato
consecutive
consecutive
deldel
campione
adottate
adottate
come
come
standard.
standard.
per la misurazione dei parametri di rugosità superficiale.
Di
solito
varie
lunghezze
del
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con cinque
lunghezze
Quasi
Quasi
tuttitutti
icontiene
parametri
i parametri
sono
sono
definiti
definiti
oltre
oltre
unauna
lunghezza
lunghezza
deldel
campione,
campione,
consecutive
delpratica
campione
adottate
come
standard.
tuttavia
tuttavia
nella
nella
pratica
viene
viene
valutata
valutata
più
più
di una
di una
lunghezza
lunghezza
deldel
campione
campione
(solitamente
(solitamente
cinque)
cinque)
e viene
e viene
calcolata
calcolata
la media.
la media.
Quasi
tuttiuna
i parametri
sono
definiti
oltre
lunghezza
deldel
campione,
CiòCiò
fornisce
fornisce
una
stima
stima
statistica
statistica
migliore
migliore
deluna
del
valore
valore
misurato
misurato
del
parametro.
parametro.
tuttavia nella pratica viene valutata più di una lunghezza del campione
(solitamente cinque) e viene calcolata la media.
Ciò fornisce una stima statistica migliore del valore misurato del parametro.
CatAMETEKprodotti14.indd 14
X
zp5 zp5
zv3 zv3zzp1 zp1
p4
zp2zv5 zv5
zv4 zv4zv2 zv2
zp5
Rz R(JIS),
Pz P(JIS)
z (JIS),
z (JIS)
z
v3
zp1
zv5
zv4
zv2
Rz R(JIS)
(noto
(noto
anche
anche
come
come
parametro
parametro
di altezza
di altezza
10 punti
10 punti
ISOISO
nella
nella
norma
norma
z (JIS)
Rz solo
(JIS),
Psulla
(JIS)
z rugosità
ISO4287/1-1984)
ISO4287/1-1984)
è misurato
è misurato
solo
sulla
rugosità
e i profili
e i profili
primari
primari
ed èed è
numericamente
numericamente
la differenza
la parametro
differenza
media
media
dell'altezza
dell'altezza
tra tra
i ISO
cinque
i cinque
più
altialti
Rz (JIS)
(noto
anche come
di altezza
10 punti
nellapiùnorma
picchi
picchi
e i cinque
e i cinque
piùpiù
bassi
all'interno
all'interno
della
della
lunghezza
lunghezza
campionamento.
di campionamento.
ISO4287/1-1984)
èbassi
misurato
solo sulla
rugosità
e i di
profili
primari ed è
numericamente
la
differenza
media
dell'altezza
tra
i
cinque
più alti
(zp1+zp2+zp3+zp4+zp5)-(zv1+zv2+zv3+zv4+zv5)
(zp1+zp2+zp3+zp4+zp5)-(zv1+zv2+zv3+zv4+zv5)
RzRz
(JIS)
(JIS)
=picchi
= e i cinque più bassi all'interno della lunghezza di campionamento.
5 5
(zp1+zp2+zp3+zp4+zp5)-(zv1+zv2+zv3+zv4+zv5)
Pz P(JIS)
(JIS)
è ilèparametro
il parametro
rmsrms
corrispondente
corrispondente
daldal
profilo
profilo
primario.
primario.
z
Rz (JIS) =
5
Selezione
Selezione
della
corretta
corretta
lunghezza
lunghezza
diprofilo
di
cut-off
cut-off
Pz (JIS) è ildella
parametro
rms corrispondente
dal
primario.
RECOMMENDED
RECOMMENDED
CUT-OFF
CUT-OFF
ISOISO
4288-1997
Selezione della
corretta lunghezza
di4288-1997
cut-off
PERIODIC
PERIODIC
PROFILES
PROFILES NON-PERIODIC
NON-PERIODIC
PROFILES
PROFILES
CUT-OFFS
CUT-OFFS
SAMPLING
SAMPLING
LENGTH
LENGTH
/ /
EVALUATION
EVALUATION
LENGTH
LENGTH
RECOMMENDED CUT-OFF ISO 4288-1997
Rz (µm)
Rz (µm) Ra (µm)
Ra (µm)
Spacing
Spacing
Sm (mm)
Sm (mm)
PERIODIC PROFILES
NON-PERIODIC PROFILES
>0.013
>0.013
to 0.04
to 0.04
(0.025)
(0.025)
to 0.1
to 0.1
(0.006)
(0.006)
to 0.02
to 0.02
λc (µm)
λc (µm)
CUT-OFFS
0.080.08
λc/Lλc/L
(mm)
(mm)
SAMPLING LENGTH /
0.080.08
/ 0.4/ 0.4
EVALUATION
LENGTH
>0.04
>0.04
to 0.13
toSm
0.13
Spacing
(mm)
>0.1>0.1
toz 0.5
to 0.5>0.02
>0.02
0.1
to 0.1
R
(µm)
Rtoa (µm)
0.25
λc0.25
(µm)
0.250.25
/ 1.25
/(mm)
1.25
λc/L
>0.13
>0.13
to 0.4
to 0.4
>0.013 to 0.04
>0.4>0.4
to 1.3
to 1.3
>0.04 to 0.13
>1.3>1.3
to 4to 4
>0.13 to 0.4
>0.5>0.5
to 10
to 10 >0.1>0.1
to 2to 2
(0.025) to 0.1 (0.006) to 0.02
>10>10
to 50
to 50 >2 to
>210
to 10
>0.1 to 0.5 >0.02 to 0.1
>50>50
to 200
to 200 >10>10
to 80
to 80
>0.5 to 10
>0.1 to 2
0.8 0.8
0.08
2.5 2.5
0.25
8 8
0.8
0.8 0.8
/4 /4
0.08 / 0.4
2.5 2.5
/ 12.5
/ 12.5
0.25 / 1.25
8 / 40
8 / 40
0.8 / 4
>0.4 to 1.3
>10 to 50
>2 to 10
2.5
2.5 / 12.5
>1.3 to 4
>50 to 200
>10 to 80
8
8 / 40
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Parametri
Parametri
ibridi
ibridi
Spacing
Spacing
Parameters
Parameters
b2 b2
b1 b1
bn bn
b3 b3 b4 b4
0% 0%
c c
Z
Z
S1 S1 S2 S2S3 S3
Sn Sn
100%
100%
ln ln
Rapporto
Rapporto
materiale
materiale
Rmr
Rmr
(c),(c),
Rmr
Rmr
RSm
RSm
, W,Sm
WSm
, P,Sm
PSm
Il rapporto
Il rapporto
materiale
materiale
Rmr
Rmr
(c) (c)
è laèlunghezza
la lunghezza
della
della
superficie
superficie
di supporto
di supporto
(espressa
(espressa
in in
percentuale
percentuale
della
della
lunghezza
lunghezza
di valutazione
di valutazione
ln) ln)
ad una
ad una
profondità
profondità
c sotto
c sotto
il picco
il picco
piùpiù
alto.alto.
b1+b2+b3+b4
b1+b2+b3+b4
. . .+bn
. . .+bn
100
100 i =i n= n
Rmr
Rmr
(c)(c)
= =
x 100
x 100
= = ∑ ∑ bi bi
ln ln
ln ln i =i l= l
RδcRδc
è laèdifferenza
la differenza
di altezza
di altezza
tra tra
i due
i due
livelli
livelli
di sezione
di sezione
deldel
rapporto
rapporto
materiale
materiale
dato.
dato.
RSm
RSm
è laèdistanza
la distanza
media
media
tratra
i picchi
i picchi
deldel
profilo
profilo
in posizione
in posizione
mediana,
mediana,
misurata
misurata
entro
entro
deldel
campionamento
campionamento
la lunghezza.
la lunghezza.
(Un(Un
picco
picco
deldel
profilo
profilo
è ilèpunto
il punto
piùpiù
altoalto
deldel
profilo
profilo
tratra
un un
verso
verso
l'alto
l'alto
e uno
e uno
verso
verso
il basso
il basso
attraversamento
attraversamento
della
della
linea
linea
mediana).
mediana).
Se Se
n =nnumero
= numero
di distanze
di distanze
di picco,
di picco,
allora:
allora:
i =i n= n S1S+S
. . +S
1+S
2+S
2+S
3+3.+. . +S
n n
Rsm
Rsm
= 1= 1∑ ∑ Si Si
n n i =i 1= 1 = =
n n
WSm
WSm
ePSm
ePSm
sono
sono
i parametri
i parametri
corrispondenti
corrispondenti
rispettivamente
rispettivamente
all’ondulazione
all’ondulazione
e aieprofili
ai profili
primari.
primari.
Level
Level
c c
Rmr(c)
Rmr(c)
La La
curva
curva
deldel
rapporto
rapporto
materiale
materiale
(o curva
(o curva
Abbot
Abbot
Firestone)
Firestone)
mostra
mostra
prima
prima
di tutto
di tutto
come
come
il rapporto
il rapporto
varia
varia
concon
il livello.
il livello.
Z
Selectable Slice Level
Selectable Slice Level
% % 100%
0 100%
0
ln ln
Z
1 count
1 count
2 count
2 count
Level
Level
4 count
4 count
NOTNOT
counted
counted
5 count
5 count
6 count
6 count
7 count
7 count
X X
3 count
3 count
RHSC
RHSC
Rpk Rpk
RHSC
RHSC
Il numero
Il numero
di spot
di spot
elevati
elevati
è ilènumero
il numero
di picchi
di picchi
deldel
profilo
profilo
completo
completo
(entro
(entro
la la
lunghezza
lunghezza
di valutazione)
di valutazione)
cheche
proietta
proietta
sopra
sopra
la linea
la linea
media,
media,
o alo di
al sopra
di sopra
di di
unauna
linea
linea
parallela
parallela
allaalla
linea
linea
mediana.
mediana.
Questa
Questa
linea
linea
puòpuò
essere
essere
impostata
impostata
ad ad
unauna
profondità
profondità
selezionata
selezionata
al di
al sotto
di sotto
deldel
picco
picco
piùpiù
altoalto
o una
o una
distanza
distanza
selezionata
selezionata
sopra
sopra
o sotto
o sotto
la linea
la linea
mediana.
mediana.
Rk Rk
Rvk Rvk
0% 0% 20 20
40 40 60 60 80 80 100 100
Mr1Mr1
Mr2Mr2
Z
Rpk,
Rpk,
Rk,Rk,
Rvk,
Rvk,
Mr1,
Mr1,
Mr2
Mr2
Questi
Questi
parametri
parametri
sono
sono
stati
stati
specificamente
specificamente
progettati
progettati
perper
il controllo
il controllo
dell'usura
dell'usura
potenziale
potenziale
negli
negli
alesaggi
alesaggi
deidei
cilindri
cilindri
nelnel
settore
settore
della
della
produzione
produzione
automobilistica.
automobilistica.
EssiEssi
cercano
cercano
di descrivere
di descrivere
in termini
in termini
numerici
numerici
la forma
la forma
della
della
curva
curva
deldel
rapporto
rapporto
materiale.
materiale.
Il filtro
Il filtro
utilizzato
utilizzato
in Rk
in Rk
è descritto
è descritto
in DIN
in DIN
4776
4776
(ISO(ISO
13 13
565565
Parte
Parte
1 1998)
1 1998)
RpkRpk
è l'altezza
è l'altezza
deldel
picco
picco
ridotta
ridotta
- la-parte
la parte
superiore
superiore
della
della
superficie
superficie
cheche
sarà
sarà
presto
presto
portata
portata
via via
quando
quando
il motore
il motore
comincerà
comincerà
a correre.
a correre.
Z
1 count
1 count 2 count
2 count
3 count
3 count 4 count
4 count
6 count
5 count
5 count 6 count
Selectable Band Width
Selectable Band Width
Percentage
Percentage
Material
Material
Ratio
Ratio
X X
RPRP
deidei
picchi)
picchi)
c, WP
c, WP
c, PP
c, PP
c (Conteggio
c (Conteggio
Rk Rk
è laèprofondità
la profondità
della
della
rugosità
rugosità
base
base
- la-superficie
la superficie
a lungo
a lungo
termine
termine
in esecuzione,
in esecuzione,
cheche
influenzerà
influenzerà
le prestazioni
le prestazioni
e laedurata
la durata
deldel
cilindro.
cilindro.
(La(La
profondità
profondità
deldel
profilo
profilo
di base
di base
di rugosità).
di rugosità).
RvkRvk
è laè profondità
la profondità
della
della
canalina
canalina
- la- capacità
la capacità
di trattenere
di trattenere
l'olio
l'olio
della
della
canaline
canaline
profonde
profonde
cheche
sono
sono
state
state
lavorate
lavorate
nella
nella
superficie.
superficie.
RPcRPècilènumero
il numero
di picchi
di picchi
locali,
locali,
cheche
si proiettano
si proiettano
attraverso
attraverso
unauna
banda
banda
selezionabile
selezionabile
centrata
centrata
sulla
sulla
linea
linea
mediana.
mediana.
Il conteggio
Il conteggio
è determinato
è determinato
solosolo
sulla
sulla
lunghezza
lunghezza
di di
valutazione,
valutazione,
anche
anche
se iserisultati
i risultati
sono
sono
espressi
espressi
in picchi
in picchi
perper
cmcm
(o picchi
(o picchi
perper
pollice).
pollice).
UnUn
fattore
fattore
di moltiplicazione
di moltiplicazione
viene
viene
utilizzato
utilizzato
perper
determinare
determinare
il conteggio
il conteggio
deidei
picchi
picchi
quando
quando
la lunghezza
la lunghezza
di valutazione
di valutazione
è inferiore
è inferiore
a 1cm
a 1cm
(o 1in),
(o 1in),
quindi
quindi
la la
lunghezza
lunghezza
massima
massima
di valutazione
di valutazione
dovrebbe
dovrebbe
essere
essere
misurata.
misurata.
Mr1Mr1
è ilèrapporto
il rapporto
materiale
materiale
al limite
al limite
superiore
superiore
deldel
nucleo
nucleo
di rugosità.
di rugosità.
Nº.Nº.
of of
counts
counts
RPRP
=
= Peaks/cm
= Peaks/cm
c =c Assessment
Assessment
length
length
(cm)
(cm)
Mr2Mr2
è ilèrapporto
il rapporto
materiale
materiale
al limite
al limite
inferiore
inferiore
deldel
nucleo
nucleo
di rugosità.
di rugosità.
WPWP
e PP
sono
i parametri
i parametri
corrispondenti
corrispondenti
rispettivamente
rispettivamente
all’ondulazione
all’ondulazione
c ecPP
c csono
e aieprofili
ai profili
primari.
primari.
Note:
Note:
i parametri
i parametri
e leeprocedure
le procedure
sono
sono
tali tali
come
come
stabiliti
stabiliti
nelle
nelle
norme
norme
ISOISO
4287-1997,
4287-1997,
ISOISO
4288-1996,
4288-1996,
ISOISO
11 562
11 562
e altre
e altre
norme
norme
internazionali
internazionali
e seguiti
e seguiti
se necessario
se necessario
da attrezzature
da attrezzature
Taylor
Taylor
Hobson.
Hobson.
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STRUMENTI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLE SUPERFICI
Rugo s i met ri & P ro fi l o met ri
Nuova Serie Form Talysurf
PGI DIMENSION
Sistema automatico versatile per la misurazione di ottiche di precisione
Il nuovo PGI Dimension è uno strumento di metrologia ideale per la misurazione
precisa della forma 3D di lenti asferiche pianeggianti o con forte pendenza e stampi
di diametro <2 mm e fino a 300 mm
• Analisi versatile 2D e 3D per superfici sferiche, asferiche e diffrattive
• Progettato per un facile uso in ambiente di produzione
• Ripetibilità della forma < 100nm e pendenza angoli fino a 80 gradi
Il PGI Dimension è l’ultimo ritrovato, dinamico, flessibile per la metrologia
asferica basato su due principali tecnologie di TH
• Profilometria Asferica e Rotondità di elevata precisione
Il PGI Dimension fornisce la massima flessibilità ai clienti
grazie alla sua piattaforma modulare di misurazione ad
elevata precisione
- Adattabile a differenti budget e necessità tecniche
- Tecnologia da implementare come i mercati e le
richieste si evolvono
Le misurazioni possibili sull'ottica variano da componenti
piccoli (<2 mm di diametro) con livelli di inclinazione
rilevanti fino a componenti da 200 mm di diametro con 20
mm di abbassamento.
Questo permette a Talysurf 3D Optics di misurare ottiche
utilizzate in una serie di applicazioni come: telefoni
cellulari, macchine fotografiche digitali, lettori Blu-Ray,
proiettori, thermal imaging medico e infrarosso utilizzato
per sistemi di salvataggio e di sicurezza.
PGI Dimension è uno strumento ideale per il settore
Ricerca e sviluppo e per le necessità presentate dagli
stabilimenti produttivi poiché offre all'azienda un ampio
risparmio sui costi potenziale.
Le applicazioni includono :
Blu Ray, Ottica Infrarosso Hi-res cellulari,
Telecamere di precisione . . .
16
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PGI BEARINGS
Sistema Universale per la misurazione di Profili, Forma e Finitura
Superficiale
• Singola traccia di misurazione di forma,
dimensioni e finitura suprficiale
• Ampia capacità della traversa orizzontale (200mm)
e della colonna (700mm)
• Serie completa di software per l’analisi del profilo,
incluso arco gotico e doppio profilo
La capacità di misurare rugosità, ondulazione e profilo in un'unica
volta su superfici curve è diventata sempre più importante per i
produttori di cuscinetti di precisione.
Taylor Hobson offre una gamma di sistemi di misura con
caratteristiche in linea con le applicazioni a prestazione elevata per
cuscinetti piccoli (FormTalysurf PGI 420), medi (Form Talysurf PGI
820) e grandi (Form Talysurf PGI 1220) di ogni tipo funzionale.
• Piattaforma stabile: sistema su base e telaio con supporti AV
• Completamente programmabile:
automazione completa delle sequenze di misura più semplice
• Software personalizzato:
possibilità di personalizzare layout di uscita
Le applicazioni includono :
Cuscinetti a profilo sferico, gotico, logaritmico – Rulli – Sfere . . .
PGI ULTRA PRECISION
Sistema Ultra Preciso di misura della Forma e Superficie per
l’ispezione di elevata accuratezza.
Sfruttando la lunga tradizione di Taylor Hobson nella fabbricazione di
strumenti di misura d'avanguardia, la gamma Ultra Precision degli
strumenti Form Talysurf PGI offre una soluzione metrologica flessibile
e di alta precisione
applicabile a tutte le industrie manifatturiere. Una gamma
completa di funzionalità sulle analisi della superficie, fornita come
standard, permettono all’utilizzatore di filtrare e caratterizzare
completamente ogni parametro di finitura superficiale
riconosciuti nel settore.
Con un'ampia gamma di stili e accessori, questi strumenti
possono essere facilmente configurati come un sistema di
misura del profilo ad ampio campo, sfruttando il vantaggio
della miglior tecnologia nella risoluzione del trasduttore
del PGI per la massima precisione della misurazione dei
profili.
• Intervallo di risoluzione eccellente
• Precisione straordinaria per applicazioni di profili
• Configurazioni dello strumento flessibili
• Calibrazione dello strumento brevettata
Le applicazioni includono :
Iniettori di carburante, Cuscinetti ultra precisi, ottica...
17
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FORM TALYSURF INDUTTIVO
Soluzione di precisione per la misurazione
della finitura superficiale e del profilo
Basato sulla tecnologia induttiva consolidata nel settore, questa serie
di strumenti sono il riferimento per quanto riguarda l’affidabilità e la
precisione. Grazie alla vasta gamma di configurazioni ed accessori
per l’analisi, siamo in grado di adattare ciascun strumento ai requisiti
del cliente, permettendo di risparmiare denaro
• Opzione profilo per un maggior range di misura
• Piccoli componenti e caratteristiche possono essere misurate con
precisione
• Intervallo verticale pari a 1 mm / risoluzione da 16 nm
• Intervallo verticale pari a 28 mm/ risoluzione da 0,4 um (Profilo)
• Disponibili tre versioni di Traversa orizzontale
da 60mm - 120mm - 200mm
• Colonna motorizzata (CNC) da 450mm
Qualora si tratti dell'analisi di: rugosità, ondulazione, raggio, profilo
3D, rapporto materiale o anche arco gotico, il nostro software
personalizzato può ottimizzare il pacchetto di funzioni disponibile per
soddisfare le vostre esigenze di tutti i giorni.
Le applicazioni includono : Cuscinetti di precisione, blocco motore,
canna cilindro . . .
FORM TALYSURF INTRA
Soluzione portatile per la misurazione della finitura superficiale e
del profilo
Form Talysurf Intra è la scelta ideale; combina elevate specifiche alla
semplicità di utilizzo. Ha un noto passato di strumento robusto e di
mantenere la precisione della misura senza manutenzione o
assistenza continue. Qualità, flessibilità e semplicità d'uso hanno
permesso allo strumento di diventare uno standard di officina in
tantissimi settori.
• Ideale per la maggior parte delle applicazioni produttive e
d’officina
• Capacità di misurare la forma (profilo), così come la finitura
superficiale
• Unisce portatilità e precisione in un unico strumento
• Intervallo verticale pari a 1 mm / risoluzione da 16 nm
• Intervallo verticale pari a 10 mm/ risoluzione da 0,4 um (Profilo)
• Traversa orizzontale da 50 mm
Le applicazioni includono : Piste sfera, sedi di anelli di tenuta,
cuscinetti . . .
18
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Strumenti portatili serie Surtronic
SURTRONIC 25
Questa nuova edizione della gamma consolidata Surtronic è dotata
di un ampio display con la più semplice delle strutture di menu e i
parametri più aggiornati. La sua robusta meccanica e gli stili sono
ben noti grazie alla capacità di fornire misure affidabili e ripetibili
della finitura superficiale in una vasta gamma di applicazioni.
Surtronic 25 è alimentato a batteria e offre una portabilità totale. Lo
strumento può essere usato senza supporto (su superfici orizzontali,
verticali o rovesciate) o fissato su basamento per la misurazione di
lotti e per applicazioni di laboratorio.
Questo strumento preciso e affidabile
offre semplicità e flessibilità completa:
• Opzioni di parametro per adeguarsi all'applicazione specifica
• Ciclo di misura rapido
• Struttura del menu intuitiva
• Meccanismo di sollevamento dello stilo unico
per una flessibilità totale
• Lunghezza trasversale ampia e portata di raccolta estesa
• Gamma completa di accessori e portate di raccolta
• Opzione software potente
• Assistenza tecnica mondiale
SURTRONIC DUO
Lo strumento portatile per eccellenza per il controllo della rugosità superficiale.
Surtronic Duo è uno strumento di misura alimentato a batterie capace di controllare 5
parametri di rugosità in un ampio schermo LCD.
Surtronic Duo misura l'Ra, Rz, Rv, Rp e Rt con una semplice pressione del pulsante di
misura, visualizzando in pochissimo il valore sullo schermo.
Impiega solo 5 secondi per elaborare il risultato che salva fino alla misura successiva.
La pratica forma scomponibile permette una misura della superficie senza interferenze
da parte dell’operatore.
Infatti il pratico collegamento all’infrarosso tra le due parti permette una misura a
distanza del parametro di rugosità. Questo facilita per esempio la lettura del dato che
viene visualizzato immediatamente nella parte di strumento in mano all’operatore,
mentre la parte di misura rimane sul pezzo da controllare anche in una posizione
non orizzontale, grazie all’accessorio magnetico che permette di effettuare misure su
superfici non piane.
Il Surtronic Duo non richiede configurazioni o programmazioni, è subito pronto all’uso e
non necessita di una formazione dell’utente.
Il suo uso è semplice ed intuitivo.
L’autonomia delle batterie permette almeno 5.000 misure per poter lavorare in tutta
tranquillità senza interruzioni.
Il collegamento a infrarossi [IrDA] tra l’unità di misura e l’unità di controllo è efficace
fino alla distanza di un metro e quindi necessita di scomodi cavi di collegamento
19
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SURTRONIC S-100
I nuovi rugosimetri Surtronic della famiglia S-100 dispongono di un
grande schermo touchscreen e di un software estremamente intuitivo.
Sono strumenti portatili atti all'uso sia in reparto sia in laboratorio.
Le caratteristiche di versatilità comprendono la possibilità di
sollevamento dello stilo di 50 mm, la misura ad angolo retto e
una portata dello stilo superiore a 70 mm. Queste caratteristiche
permettono la misurazione anche delle superfici più complesse senza
l'uso di costosi accessori, supporti o apparecchiature di sollevamento.
Il robusto stilo può effettuare la misurazione anche se capovolto.
Le porte mini USB e USB standard disponibili sullo strumento mettono
a disposizione diverse opzioni per la connettività. Le misurazioni della
rugosità possono essere salvate internamente o su un dispositivo di
memoria USB. La porta USB può essere utilizzata anche per collegare
una stampante portatile. In questo modo è possibile allegare i dati
stampati relativi ad un pezzo e trasferirlo alla successiva fase di
produzione. La porta mini USB è utilizzabile per caricare il dispositivo
con qualunque carica batterie USB o per il collegamento a un PC per
l’analisi dei dati e la creazione di report, attraverso un SW
fornito assieme allo strumento.
L’involucro in gomma resistente agli urti garantisce una
notevole protezione e una confortevole presa. Lo schermo
touchscreen è incassato, protetto con mylar e di estrema
robustezza, e la meccanica è in acciaio inossidabile, dotata
di cuscinetti e ingranaggi anti-usura.
Esempi di applicazioni sono:
• Controllo del processo in produzione
• Automotive
• Costruzioni navali
• Tubazioni
• Lamiere d'acciaio
• Aerospaziale
• Rulli di stampa
• Pavimentazioni
• Incollaggio
• Controllo qualità in laboratorio
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PROFILOMETRI OTTICI 3D
P ro fi l o met ri
Serie Profilometri Non-Contatto
CCI MP - CCI MP HS
PROFILOMETRI OTTICI AUTOMATICI
Il Profilometro ottico 3D da banco permette misurazioni ottiche con alte precisioni alla
portata sia della produzione che dei laboratori di ricerca.
Il CCI MP è un modello avanzato di misura interferometrica (Profilometro 3D a non
contatto ). Utilizza un algoritmo di correlazione innovativo, brevettato, per trovare la
posizione di picco e fase di coerenza di una figura di interferenza prodotta dalla nostra
unità di scansione ottica di precisione.
Velocità, campi di lavoro, risoluzione, precisione, affidabilità - la nostra formula
per il vostro successo
Qualunque sia il componente da analizzare rapidamente, la garanzia nel risultato di
misurazione 3D è assicurata con il rivoluzionario profilometro ottico a non-contatto
modello CCI MP-HS.
Una alta velocità di scansione interferometrica (100 microns/sec) combinata con una
fotocamera da 1 MegaPixel e una risoluzione verticale di 1/10 Ångstrom forniscono
un'analisi incredibilmente dettagliata per tutti i tipi di superficie, tra cui : vetro, inchiostri
liquidi, foto resist, metalli, polimeri e paste.
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CCI HD
PER MISURE DI FILM SOTTILI
Il nuovo CCI HD, leader mondiale, unisce capacità di misurazione
dimensionale senza contatto con tecnologia avanzata di film sottili e
spessi.
Il CCI HD offre risultati con prestazioni leader del settore...
• Misurazione dello spessore film da 5 micron fino a 50 nm
• Fotocamera per l'immagine ad alta risoluzione da 4 MegaPixel
• AutoRange e AutoFringeFind per la facilità d'uso
• Singola modalità di funzionamento per tutti gli intervalli di
scansione dati
• Meccanismo di scansione Z forte, stabile e robusto
Gli ultimi interferometri possono ora utilizzare campi di riflessione
da diversi strati di una superficie rivestita per misurare lo spessore
e la ruvidezza dei rivestimenti. Possono essere utilizzati due diversi
approcci, a seconda dello spessore del rivestimento.
Il CCI HD è stato progettato per offrire entrambi i tipi di misurazione
spessore film in aggiunta a capacità di misure dimensionali e di
rugosità. È ora possibile studiare rivestimenti di film sottile fino a
50 nm (dipendente anche dall’indice di rifrazione) di interferometria.
Questo nuovo approccio consente lo studio delle proprietà quali lo
spessore del film, rugosità interfaccia, difetti e delaminazione delle
superfici rivestite, tutto da un'unica misurazione.
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CCI OPTICS
LEADER MONDIALE PER LA METROLOGIA OTTICA
La gamma di strumenti CCI Optics progettata per sfidare la vostra definizione di
impossibile per un continuo miglioramento delle prestazioni ottiche.
Il controllo delle caratteristiche di finitura superficiale per eccesso di tornitura a
diamantatura, ottica lucida o stampata è fondamentale per le prestazioni ottiche.
Il CCI Optics è l'ideale per studiare una serie di rugosità a basso errore di forma spaziale
e frequenza media, alta frequenza spaziale e ondulazione.
Espressamente progettato per componenti ottici asferici, Il software adatta i dati di
misura alla formula teorica per la progettazione dei componenti, ed allinea il profilo
risultante rispetto all'asse asferico.
Uno specifico software permette le analisi per le applicazioni ottiche.
Ora, con l’elaborazione a 64 bit, il software di controllo del CCI Optics presenta una
maggiore flessibilità e velocità di funzionamento.
I modelli su misura specifici per le applicazioni ottiche rendono il software TalyMap
l'ideale piattaforma di analisi del software. Il supporto multi-lingua è ora disponibile per
tenere il passo con l'economia globale e internazionale di produzione e partnership.
CCI SunStar
STRUMENTI PER LA METROLOGIA
DELLE CELLE SOLARI
La gamma di prodotti CCI SunStar consente il controllo dei parametri critici per
migliorare l’efficienza delle celle solari, in particolare è in grado di misurare
rugosità superficiale, profondità solchi, altezza passo e spessore del film.
Ottimizzando la profondità dei solchi delle cellule è importante minimizzare il
costoso uso di argento.
Per controllare le dimensioni dei solchi il CCI SunStar offre la possibilità di
misurare le tracce sia in altezza che
in larghezza consentendo l'ottimizzazione del rendimento delle celle con un
conseguente riduzione dei costi.
L'alta velocità di misura fornisce un rendimento elevato campione e l'opzionale
automazione offre la possibilità di analizzare più zone e / o punti. L’insieme
di questi dati permettono un campionamento più rappresentativo dello stato
superficiale.
Una camera ad alta risoluzione combinata con un obiettivo a grande area sono
essenziali per la comprensione delle proprietà superficiali necessarie per migliorare
l'efficienza del prodotto.
L'ultima generazione del software assicura conformità con i
parametri 3D della normativa standard ISO 25178 e una piena
tracciabilità metrologica.
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Guida alla misura della rotondità
Perché Misurare la rotondità
Verificare la rotondità migliora le prestazioni
E’ opinione comune che i più grandi benefici allo sviluppo
della razza umana sono portati dall’invenzione prima di
tutto dell’alfabeto ed in secondo luogo della ruota.
Guardandosi intorno è a tutti evidente quanto in grande
misura dipenda la nostra vita da dispositivi dotati di organi
rotanti.
Tutti i sistemi, dai più semplici ai più complessi, dalle Centrali Elettriche
agli Elettrodomestici, dagli orologi ai mezzi di trasporto, hanno
componenti CIRCOLARI. In qualsiasi processo produttivo si vedrà
che le macchine utensili producono componenti rotondi o cilindrici.
E’compito della progettazione stabilire ed indicare “quanto” dovranno
essere rotondi, è compito della metrologia verificare se le specifiche
sono rispettate. La rotondità influisce sul funzionamento e sulle
prestazioni in molti modi, non ultimo il mantenimento di una pellicola
di lubrificante tra componenti accoppiati. Sebbene sia la rotondità
che le dimensioni giochino un ruolo importante nel assemblaggio, la
rotondità viene valutata indipendentemente dalle dimensioni, perciò
deve essere misurata con metodi dedicati.
Diametro non vuol dire rotondità
Molti credono erroneamente che sia sufficiente misurare il diametro di
un particolare in diverse posizioni, assumendo che la differenza delle
letture rappresenti il “Fuori rotondità” del componente.
Un’evidente prova di questo errore si ottiene misurando il diametro
di particolari trilobati equilateri. Facilmente il diametro dei pezzi non
cambia anche se chiaramente non sono rotondi!
Come si misura la rotondità
Definizione di rotondità
Un componente si definisce “rotondo” se tutti i punti di una sua sezione sono equidistanti da un centro comune. Perciò per misurare la rotondità, è necessaria la rotazione del
componente congiunta alla possibilità di misurare la variazione del raggio.
Metodo con Blocco a “V” (3 punti)
Un grafico del risultato non è sufficiente.
Così come per la scelta del processo di lavorazione, è il livello
di precisione richiesto che determina la strumentazione è il
metodo di misura da utilizzarsi. Nei casi in cui la cicolarità è
una caratteristica non critica, un semplice metodo è quello di
posizionare il pezzo in un blocco a V e ruotandolo registrare
lo scostamento di lettura di un comparatore a contatto con
esso. Se il pezzo è perfettamente Circolare, il tastatore del
comparatore non si muoverà. Come è evidente in questo
diagramma, il metodo a “3 punti” è molto influenzato dalla
spaziatura e fase delle irregolarità del profilo oltre che
dall’angolo della “V”. Quindi i risultati ottenuti non forniranno
indicazioni accurate sul funzionamento del componente ne’
informazioni utili per correggere la macchina utensile che
l’ha prodotto.
E’ preferibile rappresentare i risultati delle variazioni radiali mediante
un grafico o profilo polare. L’errore di rotondità può essere determinato
sovrapponendo una maschera e centrando ad occhio il profilo. E’ in
questo modo possible identificare il picco più alto e la valle più profonda
e misurare la distanza tra i due. Questo metodo è evidentemente
dipendente dall’esperienza e capacità dell’operatore ed è esposto ad
errori.
Metodo con Riferimento Circolare
Il pezzo viene fatto ruotare su un mandrino molto preciso
che costituisce il riferimento. L’asse del pezzo viene
allineato con l’asse del mandrino stesso, usando una tavola
di centraggio e di livellamento. Durante la rotazione, un
trasduttore misura le variazioni radiali tra il pezzo e l’asse
del mandrino. Sfruttando un’adeguata accuratezza del
mandrino e della testa di lettura, il metodo con riferimento
circolare può essere utilizzato per verificare la maggior
parte delle specifiche di precisione spinta di rotondità ed è
adatto sia a misure di rotondità interna sia esterna.
Gli strumenti moderni
“Restituiscono un Valore!”
Innanzitutto sostituiamo la vecchia
maschera con un “cerchio ideale”
creato dal computer. Poichè il cerchio
è estrapolato dai dati reali misurati, è
possible calcolare matematicamente la
variazione del profilo misurato dal suo
cerchio di riferimento. In questo modo è
possible numericamente ed in maniera
affidabile, descrivere una condizione di
“Fuori rotondità”.
Cerchi di Riferimento
Il loro utilizzo nell’analisi del Picco – Valle, “Fuori Rotondità” (RONt)
Cerchio ai Minimi Quadrati (LSCI)
Cerchio Minimo Circoscritto (MCCI)
E’ quel cerchio per il quale la somma dei quadrati
delle distanze dei punti del profilo misurato dal
cerchio stesso è minima. Questo è anche il luogo
dei punti che dividono il profilo in aree minime
equivalenti sottese internamente ed esternamente
dal profilo. E’ questo il metodo più comunemente
utilizzato come riferimento. L’errore di rotondità è
quindi espresso come Massimo scostamento dal
LSCI (in assoluto: Altezza del Picco più alto più
Profondità della Valle più profonda).
Definito come il cerchio di raggio minimo che
contiene tutti i punti del profilo misurato. L’errore
di rotondità è dato dal Massimo scostamento del
profilo da questo cerchio. Talvolta viene riportato
come Cerchio di riferimento dell’Anello Campione.
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Cerchio di Riferimento
a Zona Minima (MZCI)
La zona minima viene delimitata da due cerchi
concentrici che includono il profilo rilevato.
La distanza fra loro dovrà essere minima.
L’errore di rotondità è dato dallo scostamento
radiale dei due cerchi.
Cerchio Massimo Inscritto (MICI)
Definito come il cerchio di raggio massimo che esclude
tutti i punti del profilo misurato. L’errore di rotondità è
dato dal Massimo scostamento del profilo da questo
cerchio. Talvolta viene riportato come Cerchio di
riferimento dell’Tampone Campione.
Note:
Le denominazioni LSCI, MZCI, MCCI e MICI si applicano a cerchi di
Riferimento per l’analisi della rotondità. Le equivalenti denominazioni
per l’analisi della cilindricità sono LSCY, MZCY, MCCY e MICY.
Parametri di rotondità RONt, RONp e RONv
Eccentricità (ECC)
Parametro RONt (rotondità totale) è il parametro più
comunemente utilizzato. E’ la massima deviazione
dal cerchio di riferimento, ed è la somma di RONp
(Picco di rotondità) e RONv (Valle di rotondità), i
quali non sono altro che i parametri associati.
Tutti i parametri di rotondità sono dati dalla
deviazione dal cerchio di Riferimento, i risultati sono
quindi dipendenti dal tipo di Riferimento utilizzato.
Questo è il termine utilizzato per definire la posizione
del centro di un profilo rispetto ad un punto dato. E’ una
quantità vettoriale, pertanto è definito da una distanza e
da una direzione. Il parametro di eccentricità è espresso
come distanza tra il centro del profilo ed il punto di
Riferimento; la direzione è espresso angolarmente
rispetto al punto stesso.
Concentricità (CONC)
Scentratura/Oscillazione (Runout)
Parametro analogo all’eccentricità ma definito
solamente come distanza, non come direzione.
E’ il diametro del cerchio descritto dal centro del
profilo rispetto al punto di Riferimento. Pertanto
il valore della concentricità è due volte il valore
dell’eccentricità.
Talvolta viene definito come TIR (Total Indicated Reading).
Runout è la differenza radiale tra due cerchi concentrici in
un punto di Riferimento e disegnati in modo da comprendere
tutti i punti del profilo misurato. Molto utile, di conseguenza,
poichè è indice degli effetti combinati degli errori di forma e
concentricità, in grado quindi di fornire a priori informazioni
riguardo le prestazioni di un componente che ruota attorno
ad un punto (asse) di Riferimento.
Parametri Associati
Planarità (FLTt)
Perpendicolarità (SQR)*
Dato un piano di riferimento, la planarità è calcolata
come scostamento Massimo picco-valle da quel piano. Il
Riferimento può essere calcolato ai Minimi Quadrati (LS) o
a Zona Minima (MZ).
Avendo definito un asse, il valore di perpendicolarità è
lo scostamento minimo assiale dei due piani paralleli
perpendicolari all’asse di Riferimento che contengono
completamente il piano medio calcolato sul profilo misurato.
Il Riferimento può essere calcolato ai Minimi Quadrati (LS) o
a Zona Minima (MZ).
Cilindricità (CYLt)
Coassialità (COAX ISO/DIN)
Utilizza due o più piani di rotondità per generare un cilindro;
è la minima separazione radiale dei due cilindri coassiali
all’asse di Riferimento che contengono completamente i
profili misurati. Il Riferimento può essere calcolato ai Minimi
Quadrati (LS), a Zona Minima (MZ), Massimo Inscritto (MI) o
Minimo Circoscritto (MC)
E’ il diametro di un cilindro coassiale con l’asse di Riferimento
e che contiene l’asse del cilindro misurato per valutarne la
coassialità.
Filtri
Filtri e Loro Effetti
Le misure di rotondità contengono sempre imperfezioni con
differenti caratteristiche opr (ondulazioni per rivoluzione),
come evidenziato nell’esempio riportato sopra. I filtri
vengono utilizzati per isolare frequenze (opr) o campi di
frequenze per permettere dettagliate analisi di effetti
singolari di lavorazione e/o funzionamento del componente.
I Filtri possono essere utilizzati per rimuovere tutte
le informazioni al di fuori di un determinato campo di
frequenze. Abbassando il valore di OPR del filtro smorzerò
maggiormente gli errori del profilo. La scelta del filtro è
suggerita nella normativa (ISO 12181).
I filtri internazionalmente accettati sono 1-15 opr, 1-50 opr,
1-150 opr, 1-500 opr e 1-1500 opr.
I tipi di filtro possono essere Gaussiani (consigliato) o 2CR.
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Utili riferimenti Normativi ISO per la
Misura della rotondità e della Geometria
ISO 1101:2004 Geometrical Tolerancing - Form, orientation, location and run-out
ISO 12180-1 & 2:2003 Cylindricity - Terms, definitions and parameters of cylindrical form
ISO 12181-1 & 2:2003 Roundness - Terms, definitions and parameters of roundness
ISO 12780-1 & 2:2003 Straightness - Terms, definitions and parameters of straightness
ISO 12781-1 & 2:2003 Flatness - Terms, definitions and parameters of flatness.
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STRUMENTI PER IL CONTROLLO DELLA ROTONDITÁ & FORMA
Ro t o ndi met ri
Nuovi Rotondimetri Serie Talyrond
GAMMA DI ROTONDIMETRI AD ALTA PRECISIONE
TALYROND 595
Tutti gli assi di riferimento di Talyrond 595 sono lavorati con accuratezza e migliorati
ulteriormente con correzioni software innovative fornendo linearità e rotondità con
precisione senza pari. Il centraggio e il livellamento sono comandati da motori ad alta
risoluzione che permettono una configurazione accurata e completamente automatizzata
per gli obiettivi definiti.
I trasduttori Talymin 5 consentono di misurare
a livello nanometrico, mentre l’orientamento del
braccio automatico garantisce una versatilità
impareggiabile assicurando l’accesso alle parti
più complesse. Parte integrante del TR595 sono
i supporti attivi antivibrazione forniti con una
custodia ambientale che elimina le influenze
esterne e consente una misurazione più vicina
rispetto al processo di fabbricazione.
• Meccanismo di posizionamento / orientamento
del braccio completamente automatico
• Calibrazione automatica del braccio,
della colonna e del tastatore
• Mandrino a cuscinetto d’aria
ad alta precisione + / - 0,01 um
• Risoluzione del tastatore 0,3 nm
• Sistemi anti-vibrazione e di isolamento
ambientale attivo
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TALYROND 585
Talyrond 585 è uno strumento completamente automatico per la
rotondità / cilindricità insuperabile in precisione e affidabilità, in
6 versioni per la soluzione per ogni applicazione. L'elettronica ha
permette il pieno controllo di tutti gli assi con modalità rapide e
accurate e garantisce la giusta combinazione di misurazione e
velocità di movimento per il più impegnativo dei componenti.
L’orientamento del braccio brevettato Taylor Hobson offre la piena
automazione in qualsiasi posizione rendendolo il più
versatile degli strumenti e un punto di riferimento del settore nella
strumentazione per la rotondità.
• Orientamento del braccio completamente automatico
• Calibrazione automatica
• Centraggio e livellamento
• Mandrino a cuscinetto d’aria ad alta precisione + / - 0,015 um
• Risoluzione del tastatore 0,3 nm
• Unità di linearità verticale 300 mm, 500 mm o 900 mm
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TALYROND 565
Talyrond 565 è uno strumento estremamente popolare che fornisce,
tra gli altri, parametri per rotondità, cilindricità e linearità, il sistema
è stato progettato per la stabilità e la precisione ed è costituito da
un asse di cuscinetti d’aria privo di attrito montato all’interno di una
base in ghisa e una colonna lavorata con precisione.
In 6 modelli per scegliere colonne che vanno da 300mm a 900mm in
altezza nonché tavole con centramento e livellamento automatico
o manuale a seconda delle esigenze. Talyrond 565 è lo strumento
che fornisce la misurazione completa all’utente e con capacità di
analisi conforme agli standard nazionali ed internazionali.
•
•
•
•
•
Calibrazione del tastatore automatica
Centraggio e livellamento automatico
Mandrino a cuscinetto d’aria ad alta precisione + / - 0,015 um
Risoluzione del tastatore 0,3 nm
Unità di linearità verticale 300 mm, 500 mm o 900 mm
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GAMMA DI ROTONDIMETRI A GRANDE CAPACITÀ
TALYROND 450
Progettato per gli organi di trasmissione e per le industrie di macchine
utensili, questo strumento utilizza una testina di misura rotante montata
su un'unità di rettilineità verticale. La testina rotante consente ai produttori di misurare
la rotondità di componenti non rotazionali simmetrici o prismatici come i blocchi
motore, gli alberi motore, le teste dei cilindri e molti altri.
Il solido telaio di ghisa e la colonna garantiscono la stabilità durante la
misura, mentre il mandrino ad alta precisione e l'unità di rettilineità
verticale assicurano misure ripetibili e affidabili di rotondità, cilindricità e rettilineità.
Un tavolo con X,Y ad elevata capacità con centratura e livellatura
completamente automatizzate garantisce configurazione e ripetibilità
precisa tra operatori. L'intero sistema è completamente automatizzato
e utilizza il software Ultra di Taylor Hobson dotato di molte funzionalità
atte a garantire una misura e un'analisi conformi agli standard nazionali e internazionali.
• Capacità di livellatura e centratura totalmente automatizzate
• Tavolo X,Y con carico di 1000 kg e controllo della posizione molto preciso
• Mandrino a precisione elevata con alta capacità di carico per speciali bracci
ribaltabili con diametro profondo
• Misurazione di rettilineità, parallelismo e cilindricità fino a 1,5 metri
• Altezza della colonna fino a 2000 mm
• Software Ultra basato su Windows con misura riferibile agli standard
nazionali e internazionali
TALYROND 365/385 XL
Questi sistemi sono estremamente richiesta per la misura dei cuscinetti di diametro
ampio e dei componenti non rotazionali simmetrici. Il sistema si basa sulla popolare
gamma di Taylor Hobson Talyrond 365 e utilizza un mandrino pneumostatico privo di
attrito e una colonna ad alta precisione con posizionamento regolabile per
consentire di misurare cuscinetti fino a 1 metro di diametro.
Il sistema è dotato di centratura e livellamento completamente automatizzati e
taratura automatica dell'indicatore; caratteristiche che riducono notevolmente il tempo
di misura e di configurazione aumentando così la produttività.
Esistono due tipi di sistema, con movimentazione/orientamento del braccio
completamente automatizzati o manuali, in entrambi i casi questi meccanismi
brevettati consentono di accedere anche al più difficile dei componenti.
• Capacità di livellamento e centratura completamente automatizzati
con modalità di inseguimento radiale
• Calibrazione automatica del tastatore
• Meccanismo brevettato di movimentazione/orientamento
del braccio completamente automatizzato o manuale, a scelta
• Unità di rettilineità verticale fino a 900 mm
• Ampio intervallo di diametri con colonna
e braccio radiale da 300 mm regolabili
• Software Ultra basato su Windows con misura riferibile
agli standard nazionali e internazionali
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GAMMA DI ROTONDIMETRI DA BANCO
TALYROND 130
Un sistema di misura della rotondità per l’officina montato su banco,
robusto per misure precise e rapide in ambienti produttivi ad elevato
volume. Questo sistema usa un mandrino con cuscinetto ad aria con
un livellamento e una centratura manuale del campione da misurare.
Dotato di un pick-up Talymin 5 e di un braccio manuale, Talyrond
130 può misurare a livello di nanometro, con una capacità di carico
fino a 20 kg. Queste caratteristiche lo rendono ideale per la misura di
componenti medi e piccoli. Grazie al potente software Ultra di Taylor
Hobson, la semplice ed intuitiva interfaccia utente aiuta a ridurre gli
errori dell'operatore, permettendo un uso senza la necessità di una
particolare formazione.
• Mandrino con cuscinetto ad aria di elevata precisione e con
accuratezza della misura di rotondità pari a +/- 0,2 um
• Pick-up Talymin 5 con un range pari a 2 mm
• Livellamento e centratura manuale rapida
• Software di rotondità Ultra su piattaforma Windows con capacità di
misura secondo gli standard nazionali e internazionali
TALYROND 131C
Talyrond 131C è uno strumento adatto alla misura della cilindricità
e della rotondità, economico, capace di un funzionamento in
automatico per mezzo della motorizzazione delle varie parti dello
strumento.
Come per il modello 130 anche questo sistema usa un mandrino con
cuscinetto ad aria con un livellamento e una centratura manuale del
campione da misurare. Anche in questo caso le ridotte dimensioni
dello strumento permettono la sua collocazione in officina, oltre al
classico uso nel laboratorio metrologico.
Il software Ultra di Taylor Hobson permette all'utente di creare
programmi e, come per gran parte della gamma di rotondimetri Taylor
Hobson, è possibile includere un'interfaccia utente semplificata,
particolarmente utile nella misura di parti multiple e senza l'esigenza
di seguire particolari corsi di formazione.
• Mandrino con cuscinetto ad aria di elevata precisione e con
accuratezza della misura di rotondità pari a +/- 0,2 um
• Pick-up Talymin 5 con un range pari a 2 mm
• Braccio e colonna motorizzati attraverso un controllo CNC
• Livellamento e centratura manuale rapida
• Software di rotondità Ultra basato su Windows con capacità di
misura
secondo gli standard nazionali e internazionali
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Nuovi Rotondimetri Serie Surtronic ®
SURTRONIC® serie R-100
Sistema di rotondità ad alta velocità per i cuscinetti, per il settore automobilistico
e per le industrie di precisione
Una gamma di prodotti di rotondità solidi per l'officina e accurati per qualsiasi
sala collaudo. Grazie a una collaborazione a stretto contatto con produttori
che spaziano lungo un'ampia serie di settori, ad esempio quello dei cuscinetti
di precisione e dell'ingegneria automobilistica e aerospaziale, Taylor Hobson
si è concentrata sugli attributi chiave che sono più importanti per il controllo
di qualità nelle industrie di precisione di oggi. La nuova Serie R di strumenti
Surtronic offre una soluzione flessibile per tutte le esigenze in fatto di rotondità
forma ed armoniche grazie a una varietà di sistemi e di accessori specifici per
l'applicazione, oltre a sistemi che possono venire realizzati su misura in
base alle esigenze specifiche del cliente.
• Velocità (3 componenti/minuto compresa l'impostazione)
• Precisione (accuratezza del mandrino di ±25 nm)
• Resistenza (adatto a un funzionamento 24 su 24, 7 giorni su 7)
• Facilità di utilizzo (software touch screen)
• Analisi delle armoniche
• Dispositivo di Centraggio
Comuni a tutte le serie Surtronic R sono le misure di rotondità,
planarità, coassialità, eccentricità, r
un-out radiale e assiale e concentricità
SURTRONIC® serie R-80
Sistema di rotondità robusto e veloce, dedicato per il settore
industriale in genere
Una gamma di prodotti di rotondità solidi per l'officina e accurati per
qualsiasi sala collaudo. La nuova Serie R di strumenti Surtronic®
offre una soluzione flessibile per tutte le esigenze in fatto di rotondità
e di forma con una varietà di sistemi e di accessori specifici per
l'applicazione, oltre a sistemi che possono essere realizzati su misura
in base alle esigenze specifiche del cliente.
• Velocità (3 componenti/minuto compresa l'impostazione)
• Precisione (accuratezza del mandrino di ±25 nm)
• Resistenza (adatto a un funzionamento 24 su 24, 7 giorni su 7)
• Facilità di utilizzo (software touch screen)
Ulteriori tipologie di misurazione sono possibili a seconda
del modello utilizzato.
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ALLINEAMENTO DI MOTORI A TURBINA
AEROSPECT SPS 1000T
Aerospect SPS è un sistema di allineamento dei motori per il settore industriale che
riduce notevolmente i tempi di impilamento e ottimizza la prestazione del motore. Il
sistema Aerospect è costituito da un mandrino pneumostatico a capacità di carico
elevata di acciaio temprato per utensili su una piastra di granito. Il mandrino offre
un livello elevato di precisione mantenendo la robustezza adeguata agli ambienti di
officina, richiesta durante il processo di allineamento e costruzione.
Le misure vengono eseguite con 4 teste con indicatori di precisione (8 su richiesta)
montate su due colonnine con indicatori che garantiscono una configurazione semplice
e rapida.
Gli speciali bracci oscillanti permettono all'operatore di caricare e scaricare i
componenti in modo rapido e sicuro. Sviluppato con la collaborazione di un produttore
di motori leader, il sistema è dotato del software Aerospect basato su Windows, usa
algoritmi unici per ottimizzare l'allineamento e aiuta a eliminare gli effetti tipo "albero
a gomiti" e "banana" dovuti all'impilamento scorretto. Le caratteristiche includono:
• Asse principale del mandrino pneumostatico con precisione assiale
e radiale di <0,125 um
• Capacità di centratura e livellamento totale con capacità di carico di 454 Kg
• Tavolo con profilo rialzato comodo per la misura dei pezzi
e per impilamenti a basso profilo
• Configurazione con indicatore multiplo (8 su richiesto)
con 4 misure simultanee dell'indicatore
• Testa dell'indicatore oscillante per carico/scarico sicuri dei componenti
• Software di predizione impilamento Aerospect con programmazione
e configurazione per officina semplici
• Assistenza software per livellamento e centratura
• I parametri includono rotondità, planarità, scentratura, angolo e valore SP
AEROSPECT SPS 150DT
Aerospect SPS 150DT è costituito da un mandrino pneumostatico montato su un
tavolo di granito sostenuto da un telaio robusto, le dimensioni ridotte e il design
ergonomico del sistema lo rendono ideale per componenti e gruppi turbina ridotti.
Le misure vengono eseguite con 4 teste con indicatori di precisione (8 su richiesta)
montate su due colonnine con indicatori che offrono l'accesso a diverse caratteristiche
sui componenti più intricati.
Sviluppato con la collaborazione di un produttore di motori leader, il sistema è dotato
del software Aerospect basato su Windows che offre tutti i parametri di misura richiesti
per assemblaggio e produzione. Le caratteristiche includono:
• Asse principale del mandrino pneumostatico con precisione assiale
e radiale di <0,125 um
• Capacità di centratura e livellamento totale con capacità di carico di 1136 Kg
• Configurazione con indicatore multiplo (8 su richiesto) con 4 misure simultanee
dell'indicatore
• Sistema a ponte con braccio ribaltabile per accedere ad alesaggii profondi
• Software di predizione impilamento Aerospect con programmazione e
configurazione per officina semplici
• Assistenza software per livellamento e centratura
• I parametri includono rotondità, planarità, scentratura, angolo e valore SP
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STRUMENTI DI CONTROLLO ALLINEAMENTO & LIVELLAMENTO
Autocollimat o ri – Li v el l e - Tel es co pi
Serie di Autocollimatori
AUTOCOLLIMATORE DIGITALE A
DOPPIO ASSE _ Serie Ultra
Utilizzando la più recente tecnologia CCD il nuovo Ultra Dual Axis
Autocollimator è uno strumento altamente versatile che offre elevata
precisione e stabilità per una vasta gamma di applicazioni. Questo
autocollimatore digitale viene controllato utilizzando un tablet con un
intuitivo software touch-screen.
Set up facile
Questo autocollimatore ad ampio range di utilizzo è dotato di un
puntatore laser per una facile installazione. Combinando questo
con la chiara visualizzazione sul display del tablet il set up risulta
estremamente facile sia per lunghe distanze o piccoli bersagli.
Risultati brillanti
L’Ultra Autocollimator include come standard il software Electro Optics
di Taylor Hobson che permette il calcolo e l’analisi di una serie di
caratteristiche come rettilineità, torsione, ortogonalità, parallelismo,
planarità poligoni e tavole rotanti.
L’Ultra Autocollimator coniuga un’ampia gamma di misurazioni con
una elevata precisione su tutto il range
• Ampio intervallo di misurazione (1800 secondi)
• Elevata precisione su tutta la gamma (0,2 secondi)
• Visualizzazione e funzionamento
simultaneo sui due assi
• Puntatore laser per un facile set up
• Semplice funzionamento con touch screen
• Software chiaro
con il pacchetto completo di applicazioni electro optics
• Disponibile in una vasta gamma di lingue
tra cui giapponese e cinese
• Base di livellamento robusta semplice da usare
• Ampia gamma di accessori
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AUTOCOLLIMATORE OTTICO TA51
Il TA51 ha un ampio campo di lettura pur mantenendo una elevata
precisione di misura, questo sistema è molto richiesto per la misura
e la calibrazione di tavole rotanti e di altri dispositivi angolari, quali
poligoni e clinometri.
In abbinamento con il software di allineamento Taylor Hobson
(inserimento manuale dei dati), questo sistema può offrire funzioni
di misura quali angoli, rettilinearità, ortogonalità e parallelismo.
Il sistema può essere calibrato secondo glii standard riconosciuti
dando all’utilizzatore una totale affidabilità dei risultati, mantenendo
un’elevata integrità della misurazione.
Il sistema viene fornito di una base robusta con capacità di
livellamento che permettendo una veloce e semplice configurazione;
la visualizzazione e i micrometri a doppio asse fanno di questo
strumento una scelta molto diffusa.
• Micrometri a doppio asse
• Precisione fino a 0,5 arco secondi
• Design robusto semplice da utilizzare
con visualizzazione a doppio asse
• Ampio intervallo di misura pari a 10 minuti
• Ampia gamma di accessori
AUTOCOLLIMATORE OTTICO VA900
VA900 ha un ampio intervallo di misurazione ed eccellente precisione pari a 1 arco
secondo. Grazie alle dimensioni ridotte e al design robusto può essere facilmente
adattato alle più svariate applicazioni.
In combinazione con il software di allineamento Taylor Hobson (inserimento manuale
dei dati), questo sistema può offrire funzioni di misura quali angolazione, linearità,
ortogonalità e parallelismo.
Grazie all'ampio campo ottico e al reticolato a campo scuro
(altre opzioni disponibili su richiesta) può essere usato facilmente
anche su superfici a bassa riflettenza o a sezione trasversale ridotta.
Ciò lo rende un sistema ideale per ambienti di officina.
Il sistema può essere calibrato secondo glii standard riconosciuti
dando all’utilizzatore una totale affidabilità dei risultati,
mantenendo un’elevata integrità della misurazione.
•
•
•
•
•
Precisione fino a 1 arco secondi
Ampia gamma di accessori
Design robusto semplice da utilizzare con display a doppio asse
Ampio intervallo di misura di +/- 900 arco secondi
Ampia gamma di accessori
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Serie di Livelle & Clinometri
LIVELLA ELETTRONICA TALYVEL 6
I sistemi di Livelle Elettroniche Talyvel di Taylor Hobson offrono misurazioni versatili
e precise di angoli, livelli, planarità e rettilinearità. Talyvel 6 utilizza un trasduttore a
pendolo e comunica direttamente con un computer touch screen per combinare in
maniera eccezionale accuratezza, stabilità e ripetibilità elevate con una risposta rapida e
una notevole comodità di utilizzo.
Le applicazioni comprendono la misura della rettilinearità delle guide di scorrimento
delle macchine utensili, della planarità delle tavole superficiali o il livello assoluto dei
supporti strutturali; Talyvel 6 può anche funzionare come comparatore differenziale per
rilevare le partenze da un livello preimpostato e l'assetto fuori livello.
• Sistema differenziale opzionale per misurazioni di confronto
• Dongle wireless opzionale con una portata fino a 10 m
• Trasduttori a pendolo altamente affidabili con regolazione
rapida per gravità o livello assoluto
• Alta risoluzione e accuratezza di 0,2 sec nella portata centrale
• Letture in secondi di arco o in gradienti
• Software multi-lingue, compreso giapponese e cinese
CLINOMETRO DI PRECISIONE MICROPTIC TB100
Questi clinometri Microptic sono stati progettati per offrire semplicità e precisione molto
elevate permettendo di configurare e misurare attrezzature, piani inclinati ecc.
I sistemi utilizzano una scala in vetro con una divisione precisa montata su un mandrino
posto su un cuscinetto ad alta precisione.
Sull'estremità del dispositivo c'è una una sensibile bolla ad aria che fornisce il
riferimento orizzontale. TB100 opera su un'ampiezza completa di 360 gradi, inoltre
può essere usato in posizione verticale o in orizzontale come un tavola di misurazione
circolare.
Le caratteristiche comprendono:
• Ampiezza di misura completa di 360 gradi
• Lettura diretta fino a 10 arco secondi
• Stima entro 2 arco secondi
• Base di appoggio in acciaio temprato
• Scale micrometriche circolari e suddivise per una lettura accurata
INCLINOMETRO DIGITALE
L'inclinometro digitale è uno strumento robusto progettato per una lettura chiara
e semplice, ideale quando è richiesta un'angolazione di precisione su un'ampiezza
notevole. I quattro i lati del sistema sono lavorati con precisione e permettono di
misurare l'angolazione da ogni lato. Il sistema può passare dalla modalità assoluta alla
modalità relativa premendo semplicemente un pulsante.
L'alimentazione a batteria, il design robusto e la struttura compatta lo rendono ideale
per quasi tutte le situazioni.
Le caratteristiche comprendono:
• Programma di taratura integrato che assicura l'integrità della misura
• Lettura diretta fino a 4 arco secondi
• Precisione fino a 2 minuti dell'arco
• Grande ampiezza di misura pari a +/- 45 gradi
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Serie di strumenti per MicroAllineamento
TELESCOPI DI MICROALLINEAMENTO
CON MICROMETRI INTEGRATI
Il telescopio di microallineamento permette all'utente di impostare linee ottiche reali per
applicazioni quali allineamento e misurazione di cuscinetti e alesaggi. Grazie ai due
micrometri di precisione è possibile misurare lo spostamento sull'asse X o Y con
precisione da 0,05 mm su 30 m.
Una vasta gamma di accessori e target di precisione migliora ulteriormente questa serie
rendendola estremamente versatile per un gran numero di applicazioni applicazioni.
Questi strumenti offrono un'elevata precisione pur mantenendo la robustezza richiesta
per gli ambienti più esigenti. I parametri includono allineamento, parallelismo,
ortogonalità, livello/planarità e rettilineità per applicazioni di allineamento dei cuscinetti
dell'albero dell'elica sino all’allineamento del telaio dei velivoli.
Le caratteristiche includono quanto segue:
•
•
•
•
•
Coassialità tra meccanica e ottica, inferiore a 6 um
Parallelismo tra l’asse ottico visivo e l'asse meccanico inferiore a 3 arco secondi
Riferimento cilindrico di precisione per il fissaggio semplice
Micrometri di precisione sull'asse X e Y con una risoluzione pari a 0,02 mm
Ampia gamma di accessori per facilitare allineamento e misura
SISTEMA LASER DI MICROALLINEAMENTO
Il laser di microallineamento è uno strumento di misura a laser dotato
di componenti elettronici e ottici di ultima generazione per la misura
precisa di rettilineità, planarità, perpendicolarità, allineamento e altro
ancora.
Comprende un trasmettitore laser a elevata stabilità con microregolazione incorporata per l'allineamento fine del raggio laser, un
ricevitore PSD (dispositivo di posizionamento a precisione elevata)
con un software e un sistema di elaborazione elettronica completo da
usare su laptop, notebook o PC.
Il software offre agli utenti assistenza completa per le misure
geometriche dettagliate e permette la registrazione dei dati su report.
•
•
•
•
Design compatto semplice
Software facile guidato da icone
Uscita digitale con monitor grafico chiaro ed emissione di report
Funzionante a batteria con tecnologia wireless bluetooth
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Cari Clienti,
sfogliando le pagine di questo catalogo troverete informazioni dettagliate sul nostro lavoro e sui nostri prodotti, ma
soprattutto vi accorgerete che nonostante gli anni passino, le tecnologie evolvano e le sfide cambino, la passione per quello
che facciamo è rimasta sempre la stessa.
Grazie al vostro aiuto, negli anni, vi abbiamo proposto soluzioni innovative e mirate. Nuovi strumenti analitici e nuove
tecnologie per l’analisi degli elementi dei materiali nel settore industriale, della ricerca, in ambito accademico, per l’industria
dei semiconduttori. Per SPECTRO, EDAX e CAMECA il dialogo con ogni singolo cliente è importante tanto quanto la
qualità dei prodotti.
Ci siamo addentrati in diversi campi, assicurando una rapida soluzione a qualsiasi problema: alimentare e metalli, geologico
e biologico, energetico e chimico, solidi e liquidi; nessun limite è stato posto alle capacità analitiche dei nostri dispositivi.
Oltre alle caratteristiche che hanno sempre contraddistinto i nostri strumenti da laboratorio, abbiamo puntato sulla
semplicità d’uso e sulla praticità grazie allo sviluppo di prodotti semplici, flessibili e performanti.
Ma soprattutto abbiamo investito nella formazione intensiva e continua e nello sviluppo del personale grazie a meeting,
corsi, webinar online. Il patrimonio umano ci ha permesso di superarci, di compiere scelte che hanno migliorato la qualità
del nostro agire.
È grazie a tutto ciò che la nostra leadership nella spettroscopia atomica si è rafforzata. È grazie al capitale umano che
è possibile accrescere la conoscenza e affrontare le sfide che il mercato ci propone. È anche grazie a voi se oggi possiamo
offrirvi una gamma di prodotti e di servizi unici a livello mondiale, per un semplificato approccio al nostro lavoro e al
progresso dell’umanità.
Buona ricerca,
Demetrio Meroni
Sales Manager
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Principio di funzionamento di uno spettrometro EDXRF
Gli spettrometri a raggi X SPECTRO sono basati sul metodo dell’analisi della fluorescenza a raggi X
in dispersione di energia (ED-XRF). Gli atomi nel campione, che sia in forma solida, polvere o liquida,
vengono eccitati da raggi X emessi da un tubo a raggi X. Per la sensibilità crescente la radiazione
dell’eccitazione primaria può essere polarizzata utilizzando componenti specifici tra il tubo radiogeno e
il campione (ED-P(olarizzazione)-XRF). Tutti i segnali specifici dell’elemento emessi dagli atomi dopo la
ionizzazione fotoelettrica vengono misurati contemporaneamente in un rilevatore a semiconduttori fisso
o in un contatore proporzionale.
L’intensità della radiazione del segnale di ogni elemento, che è proporzionale alla concentrazione
dell’elemento nel campione è ricalcolato internamente grazie a un una serie di curve di calibrazione
archiviate e può essere mostrato direttamente in unità di concentrazione.
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Principio di funzionamento di un analizzatore di leghe metalliche stationary
Il principio del metodo di analisi degli analizzatori di leghe metalliche stationary SPECTRO è la
spettrometria a emissione ottica.
Il materiale viene vaporizzato grazie ad una scarica ad arco o a scintilla.
Gli atomi e gli ioni contenuti nel campione vengono eccitati fino ad emettere una radiazione luminosa
caratteristica.
La radiazione emessa viene trasmessa, sotto forma di fascio luminoso, alla parte ottica dello
spettrometro, dove viene scomposta nei suoi componenti spettrali. Tra tutte le lunghezze d’onda
emesse da ogni elemento, la linea più adatta per l’applicazione è misurata tramite un fotomoltiplicatore.
L’intensità della radiazione, che è proporzionale alla concentrazione dell’elemento nel campione,
è ricalcolata internamente da un set di curve di calibrazione memorizzate e può essere mostrato
direttamente come percentuale di concentrazione.
SCHEMATICS SPECTROLAB
7
1
2
3
6
8
5
4
1. Spark Stand
3. Light Path
5. PMT Segment
7. Readout & Electronics
2. Excitation
4. CCD Segment
6. UV-PLUS
8. PC Stand (optional)
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SPETTROMETRI ICP
SPECTRO GENESIS
SPECTRO GENESIS è il primo e unico ICP-OES disponibile con un
insieme completo di metodi in grado di "rilevare & analizzare" con
semplicità, senza dover sviluppare ulteriori metodi. SPECTRO GENESIS
copre tutte le applicazioni ambientali e industriali più comuni, come
l’analisi di acque reflue, del suolo, dei fanghi di depurazione, delle
polveri e dei metalli.
Conforme alle norme nazionali ed internazionali, SPECTRO GENESIS è
pronto all’uso, con un pacchetto d’istruzioni che includono la modalità
d’introduzione e preparazione del campione e la documentazione delle
diverse applicazioni. Per ampliare ulteriormente la gamma delle
applicazioni di SPECTRO GENESIS, inoltre è a disposizione anche un
pacchetto di accessori.
SPECTRO GENESIS offre una reale alternativa economica
per ICP sequenziali e spettrometri ad assorbimento atomico.
Consente anche a chi non ha familiarità con gli ICP di beneficiare dei
vantaggi della tecnologia leader CCD ICP e di utilizzare un sistema
analitico potente, a costi ridotti e facile da utilizzare.
SPECTROBLUE
SPECTROBLUE è uno spettrometro a emissione ottica al plasma
accoppiato induttivamente (ICP-OES) che fissa nuovi parametri di
riferimento tra gli spettrometri compatti, di fascia media per un
funzionamento semplificato, bassa manutenzione ed economicità.
Con un sistema ottico Paschen-Runge con lunghezza focale di 750
mm e 15 rilevatori a schiera lineari CCD, fornisce risoluzione ottica e
sensibilità impareggiabili. L'approccio unico UV-PLUS a trasparenza
completa elimina i gas di spurgo consumabili e garantisce un'ottima
stabilità a lungo termine.
Un generatore robusto e collaudato contiene una grande riserva
di energia in grado di gestire i carichi al plasma più
estremi. Il calore del tubo ceramico del generatore
ad alta potenza viene eliminato attraverso l'utilizzo
di un'innovativa tecnologia con raffreddamento ad
aria che riduce la necessità di un costoso sistema di
raffreddamento esterno ad acqua.
Oltre a queste caratteristiche, il sistema ICP-OES
SPECTROBLUE è dotato del software SPECTRO di
proprietà SMART VISION ANALYZER. Con la sua
interfaccia altamente adattabile, il software facilita gli
utenti a qualsiasi livello di competenza nello sfruttare
appieno il funzionamento semplificato dello strumento e
le sue uniche capacità analitiche.
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SPECTRO ARCOS
Il suo aspetto già da solo è in grado di dare un segnale netto: SPECTRO ARCOS differisce dai normali ICP-OES. Il lato sinistro dello strumento
ospita un esclusivo sistema ottico – un’evoluzione importante con risoluzione, precisione e stabilità imbattibili.
SPECTRO ARCOS può essere dotato di un’interfaccia sia per l’osservazione radiale sia per quella assiale del plasma. Il nuovo sistema ottico
CCD con il montaggio ottico di tipo Paschen-Runge garantisce la risoluzione ineguagliabile di 8,5 picometri nella gamma di lunghezze d’onda
da 130 a 340 nm.
Altri punti di forza di SPECTRO ARCOS sono: il nuovo generatore free-running, estremamente robusto con un tubo di ceramica e un
alimentatore allo stato solido, il sistema UV-PLUS, economico e a bassa manutenzione per un’alta trasparenza nel range VUV fino a 130 nm, e il
veloce sistema di lettura con otto decadi di range dinamico e una misurazione della frequenza transitoria fino a 10 Hz.
La logica brevettata del sistema ICAL monitora
automaticamente il funzionamento di SPECTRO
ARCOS garantendo condizioni operative continue
e ottimali.
Un alto grado di flessibilità, una struttura chiara
e un funzionamento semplice caratterizzano
l’interfaccia grafica “Smart Analyzer Vision”. Nel
determinare procedure di misurazione conformi
alla norma, nel reprocessing quantitativo degli
spettri immagazzinati o nel creare metodi di
misurazione, gli operatori ne apprezzano le
funzioni facilmente accessibili e lineari.
SPETTROMETRI ICP-MS
SPECTRO MS
SPECTRO MS è uno spettrometro di massa a campo settoriale
double-focusing basato sul design Mattauch-Herzog con una nuova
tecnologia a ottiche ioniche e rilevatore all’avanguardia. Oggi è l’unico
strumento sul mercato in grado di misurare simultaneamente il range
completo di massa utilizzato per la spettrometria di massa inorganica
da 6Li a 238U con un fascio di ioni permanente inviato al detector.
La scansione delle masse una dopo l’altra che ha bisogno di
molto tempo non è più richiesta. Al contrario, ogni massa nello
spettro rilevante è coperta approssimativamente da 20 dei 4800
canali che il nuovo rilevatore a semiconduttori offre in totale, per
una lettura simultanea a un tasso molto alto. In questo modo ad
ogni misurazione lo spettro di massa completo è determinato e
memorizzato per la valutazione immediata o la rielaborazione
successiva.
Ogni singolo componente di SPECTRO MS è stato ottimizzato in
vista di prestazioni analitiche e di un funzionamento semplice.
Di conseguenza SPECTRO MS offre una risoluzione eccezionale,
specialmente per matrici del campione complesse. Il low background
abbinato all’alta sensibilità dà il rapporto segnale/rumore necessario
per limiti di rilevabilità molto bassi. Le più semplici operazioni di
routine e le funzioni del software più sofisticate offrono agli utenti
possibilità straordinarie.
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SPETTROMETRI XRF
SPECTRO xSORT
SPECTRO XSORT è uno spettrometro portatile ED-XRF compatto dal design
ergonomico per un test degli elementi rapido, lo screening e l’analisi di un’ampia
gamma di materiali nei luoghi, negli ambienti e nelle condizioni più varie.
Impiega componenti innovativi ed efficienti sperimentati per l’eccitazione dei
campioni e di rilevamento del segnale. Produzione di alta qualità e cura dei
particolari sono la base della precisione, della velocità e della sicurezza eccezionali
di questo sistema che offre risultati sul posto come se foste in laboratorio.
Per le applicazioni Non Metal con SPECTRO xSORT è possibile generare risultati
come in laboratorio per tutti gli elementi rilevanti da Al a U con un singolo ciclo di
misurazione che dura soltanto pochi secondi.
Per le applicazioni Metal possono essere analizzati fino a 41 elementi in soli due
secondi compresi gli elementi leggeri Mg, Al e Si, che richiedono un tempo di
misurazione leggermente superiore.
In soli 10 secondi è possibile analizzare differenti leghe di alluminio e magnesio.
Durante questo processo anche gli elementi leggeri, come Al, Mg, Si, P e S sono
misurati nell’aria - senza complicate tecniche aggiuntive come il flussaggio di o il
vuoto, semplificando decisamente le operazioni.
Lo strumento dispone di una batteria ricaricabile e di un alloggiamento robusto.
Quando non in uso, può essere trasportato comodamente nella custodia in
dotazione al sistema.
SPECTRO MIDEX
Molte attività di analisi degli elementi nell’industria, nella
ricerca e nelle scienze necessitano di un sistema di
misurazione non distruttivo che sia estremamente
sensibile e che offra un piccolo spot di misurazione.
Lo spettrometro a fluorescenza di raggi X
SPECTRO MIDEX è stato progettato per queste
esigenze fino ai minimi dettagli. Con il
contributo dei nostri clienti è stato ampliato
e ottimizzato. Il risultato è uno SPECTRO
MIDEX che fissa nuovi standard per
prestazioni analitiche e facilità d’uso.
Giunto alla sua terza generazione, lo
spettrometro a fluorescenza di raggi
X SPECTRO MIDEX si è evoluto fino
a diventare lo strumento ideale per
un’analisi veloce e non distruttiva
di piccole zone e la mappatura
rapida di grandi superfici (fino
al doppio del formato CE,
233x160 mm, 9.2x6.3'').
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SPECTRO iQ II
Sensibilità, precisione e velocità di uno strumento d’analisi sono di particolare importanza per le
applicazioni di controllo dei processi industriali. SPECTRO iQ stabiliva già dei modelli a riguardo.
Il nuovo SPECTRO iQ II mantiene questi standard con tecnologie aggiuntive avanzate e un
allineamento in direzione della semplicità e della affidabilità delle funzioni.
In molti campi, la precisione di misurazione dei principali componenti e la sensibilità per gli
elementi in traccia rilevanti collocano SPECTRO iQ II nella stessa classe di prestazione dei più
evoluti e costosi spettrometri di fluorescenza dei raggi X a dispersione di lunghezza d’onda. Le
applicazioni in precedenza dominio di questo tipo di strumenti oggi possono essere trattate con
l’esclusiva tecnologia di dispersione dell’energia di SPECTRO.
Chiarezza, semplicità e attenzione: tutte caratteristiche del software SPECTRO
iQ II. La nuova interfaccia grafica utente visualizza tutte le funzioni importanti di
routine a colpo d’occhio. Il touch screen può rendere il funzionamento ancora
meno complicato e più intuitivo.
SPECTRO XEPOS
SPECTRO XEPOS HE è uno spettrometro XRF avanzato per applicazioni impegnative, in
particolare per l’analisi degli elementi critici di processo e ambientali.
Validi componenti offrono nuovi livelli di sensibilità e precisione soprattutto per gli
elementi medi e pesanti. Ottima eccitazione per polarizzazione e target secondari, un
campionatore automatico per un massimo di 12 campioni, pacchetti di applicazioni
preinstallate e moduli software rendono SPECTRO XEPOS HE uno dei più avanzati
analizzatori di elementi disponibile.
Il range di applicazioni comprende, tra l’altro: l’analisi di campioni geologici,
suoli, fanghi di depurazione, rifiuti e oli esausti, così come stabiliscono le verifiche di
conformità RoHS, rendendo SPECTRO XEPOS HE un brillante congegno multi-task.
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SPETTROMETRI MOBILI E PORTATILI
SPECTRO iSORT
Il nuovo SPECTRO iSORT è uno spettrometro portatile alimentato a
batteria, utile per l'identificazione on-site e l'analisi di tutte le leghe di
metallo comune. Per eccitare il campione lo strumento sfrutta un arco
e non richiede né l'argon, né una sorgente radioattiva.
Grazie alla batteria ricaricabile, già integrata nello strumento, è
possibile effettuare diverse centinaia di misurazioni. SPECTRO iSORT
può essere usato per testare il materiale durante la produzione, per
l'identificazione dei componenti negli impianti chimici e petrolchimici,
per l'analisi di punti di saldatura o per una determinazione rapida
di leghe metalliche per l'acquisto, la vendita o la fusione dei rottami
metallici.
Grazie alla procedure chiamata “fingerprinting” (impronta digitale) lo
SPECTRO iSORT è in grado di riconoscere il materiale del campione
analizzato. In funzione del materiale stesso lo strumento utilizza
autonomamente i parametri di misura ottimali senza l’intervento
manuale di un operatore.
Il software ICAL consente un rapido controllo dello strumento
eliminando la necessità di lunghe ricalibrazioni nel caso di
cambiamento del luogo di lavoro e di sbalzi elevati di temperatura.
SPECTROSCOUT
Il nuovo analizzatore alla fluorescenza dei raggi X a dispersione di energia (ED XRF)
SPECTROSCOUT ha la stessa potenza analitica degli analizzatori da banco da laboratorio
come SPECTRO XEPOS, unita alla stessa facilità di trasporto di uno strumento portatile
come SPECTRO xSORT. In questo modo SPECTROSCOUT è in grado di fornire risultati sul
campo veloci, affidabili, e di ottima qualità professionale a un costo sorprendentemente
basso.
Per tutti gli elementi rilevati nell’intervallo Na-U SPECTROSCOUT fornisce prestazioni
eccezionali per ampi livelli di concentrazione. Inoltre è molto rapido. Per la sua
precisione senza precedenti e la velocità sul campo, SPECTROSCOUT è l’ideale per
applicazioni in loco.
Il software, supportato da un’interfaccia touchscreen, è semplice ed intuitivo. Pacchetti
applicativi predefiniti sono sviluppati ed adattati per ogni esigenza. La calibrazione
iCAL richiede solo 1 campione e solo 5 minuti per la
standardizzazione. Leggero e di piccole dimensioni può
essere trasportato con semplicità. E un sistema video
integrato opzionale consente un saggio chimico preciso,
oltre alla memorizzazione delle immagini.
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SPECTRO xSORT
SPECTRO xSORT è uno spettrometro portatile ED-XRF compatto dal design
ergonomico per un test degli elementi rapido, lo screening e l’analisi di un’ampia
gamma di materiali nei luoghi, negli ambienti e nelle condizioni più varie.
Impiega componenti innovativi ed efficienti sperimentati per l’eccitazione
dei campioni e di rilevamento del segnale. Produzione di alta qualità e cura
dei particolari sono la base della precisione, della velocità e della sicurezza
eccezionali di questo sistema che offre risultati sul posto come se foste in
laboratorio.
Per le applicazioni Non Metal con SPECTRO xSORT è possibile generare risultati
come in laboratorio per tutti gli elementi rilevanti da Al a U con un singolo ciclo di
misurazione che dura soltanto pochi secondi.
Per le applicazioni Metal possono essere analizzati fino a 41 elementi in soli due
secondi compresi gli elementi leggeri Mg, Al e Si, che richiedono un tempo di
misurazione leggermente superiore.
In soli 10 secondi è possibile analizzare differenti leghe di alluminio e magnesio.
Durante questo processo anche gli elementi leggeri, come Al, Mg, Si, P e S sono
misurati nell’aria - senza complicate tecniche aggiuntive come il flussaggio di o il
vuoto, semplificando decisamente le operazioni.
Lo strumento dispone di una batteria ricaricabile e di un alloggiamento robusto.
Quando non in uso, può essere trasportato comodamente nella custodia in
dotazione al sistema.
SPECTROTEST
SPECTROTEST è un analizzatore di leghe metalliche mobile ideale
per molte applicazioni nella produzione, nella lavorazione e nel
riciclo dei metalli. Fornisce prestazioni superiori soprattutto quando
sono richieste analisi precise, quando i materiali sono complessi da
identificare o nel caso di un gran numero di campioni da testare.
Il design dello strumento offre molti vantaggi ergonomici per un
funzionamento in loco senza fatica e in sicurezza. La sonda sottile e
leggera è facilmente convertibile dalla modalità di eccitazione a arco
a quella a scintilla. Una sonda con ottica UV integrata è disponibile
per la misura di elementi particolari (C, P, S, Sn, B ed N); nella
sua versione più recente può anche essere utilizzata con modalità
d’eccitazione ad arco.
SPECTROTEST è anche in grado di identificare l’elemento Carbonio
negli acciai basso legati in modalità di eccitazione arco. In modalità
scintilla l’analisi di Fosforo Carbonio e Zolfo fa parte delle possibili
applicazioni oltre all’identificazione di acciai duplex utilizzando il
contenuto di azoto.
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SPETTROMETRI OES STATIONARY
SPECTROMAXx
L’analizzatore di metalli stazionario SPECTROMAXx è principalmente
utilizzato per testare il materiale nelle fonderie e per controlli in
entrata e in uscita nel settore metalmeccanico in tutto il mondo.
È in grado di determinare tutti gli elementi utilizzati nell’industria
metallurgica e di eseguire l’analisi di tracce di carbonio, fosforo, zolfo
e azoto.
La terza generazione SPECTROMAXx è stata migliorata con l’uso
di pulsanti toolbar, un sistema di gestione dell’utente, e separando
le fasi di funzionamento e programmazione dello strumento. La
misurazione non è più controllata attraverso il menu ma con simboli
e pulsanti toolbar. Una volta che la procedura è stata avviata, solo le
funzioni che sono utili in quel momento rimangono attive nel software
di controllo – tutti gli altri comandi sono nascosti. Con i nuovi profili
di applicazione, le informazioni specifiche del cliente possono essere
impostate prima dell’inizio dell’operazione, sollevando i tecnici di
laboratorio dagli incarichi amministrativi.
SPECTROMAXx controlla in modo indipendente tutti i parametri
di funzionamento. Determina in maniera dinamica il tempo di
misurazione richiesto, basato sulle proprietà del campione, e indica
perfino quando il supporto della scintilla deve essere pulito, a
seconda del tipo di campioni da esaminare.
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SPECTROLAB
Con il nuovo SPECTROLAB, SPECTRO introduce una nuova categoria
nel campo della spettrometria ad emissione ottica caratterizzata
da un miglioramento delle prestazioni di analisi, una maggiore
flessibilità d’indagine e semplicità d’uso. A seconda delle esigenze
individuali, la capacità analitica può essere progettata sulla base
di dieci matrici standard, Fe, Al, Cu,Ni, Co, Mg, Ti, Sn, Pb e Zn, o
in alternativa, delle cinque matrici di metalli preziosi, Au,
Ag, Pt, Pd e Ru.
Il sistema ottico unico di SPECTROLAB utilizza i vantaggi specifici di
entrambi i sistemi di determinazione definiti in precedenza: tubi
fotomoltiplicatori e CCDs. SPECTROLAB contiene due moduli
spettrali separati, i cui i segnali vengono elaborati
contemporaneamente da un sistema di lettura ad alte prestazioni
completamente ridisegnato.
Dotato di queste e di altre componenti di alta qualità, SPECTROLAB è
progettato per le più sofisticate esigenze di analisi dei metalli nella
produzione, trasformazione e riciclo industriale.
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Principi della fluorescenza a raggi X a dispersione di energia.
La tecnica della fluorescenza a raggi X (XRF) è una tecnica di spettroscopia in emissione di raggi x
che permette l’identificazione degli elementi chimici che sono presenti, o compongono, il campione
esaminato. Tale tecnica permette quindi di stabilire la presenza di un determinato elemento ed,
utilizzando un’appropriata metodologia di misura e di analisi dei dati, stabilire la concentrazione di
esso nel campione.
Il processo a livello di interazione radiazione-materia è il seguente: un fascio di raggi X emesso dalla
sorgente (tubo a raggi X) con opportuna energia ed intensità investe il campione da esaminare e
riesce a espellere un elettrone dei livelli più interni (effetto fotoelettrico) creando così una vacanza.
Tale posizione viene successivamente rioccupata da un elettrone che appartiene ad uno dei gusci
più esterni, che nella diseccitazione produce un fotone che ha una energia pari alla differenza tra
le energie dell’elettrone nelle due posizioni iniziale e finale. Successivamente il posto di questo
elettrone viene occupato da un altro proveniente da un guscio più esterno e così via…
Si genera così un processo ‘a cascata’ e le relative radiazioni emesse vengono denominate righe di
fluorescenza K, L, M, N, etc.. a seconda di quale transizione elettronica le abbia generate. In seguito
tutta la radiazione di fluorescenza emessa dal campione viene raccolta da un detector e analizzata.
Poiché ogni elemento della tavola periodica ha energie di emissione K, L, M, etc… ben definite,
analizzando lo spettro del campione è possibile risalire a quali elementi compongano lo stesso
(analisi qualitativa) e alla rispettiva concentrazione (analisi quantitativa).
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Struttura del spettrometro a microfluorescenza (µXRF) della EDAX
In generale, gli spettrometri XRF sono contraddistinti da un fascio di raggi X avente diametro
millimetrico. Ciò che contraddistingue la µXRF, è la possibilità di avere, tramite un sistema ottico
chiamato Ottica Policapillare, un fascio di diametro micrometrico (30micron) per poter quindi
eseguire una vera microanalisi.
L’immagine di seguito mostra in modo schematico la struttura dello spettrometro µXRF Orbis.
La radiazione a raggi X generata dal tubo viene accoppiata ad un sistema di ottica policapillare e resa
quindi di diametro 30µm. I raggi X di fluorescenza emessi dal campione vengono raccolti dal detector
e analizzati da un onico (computer). In Orbis si hanno inoltre due telecamere integrate, una a basso
ingrandimento (fino a 10X) per visualizzare e posizionare il campione; l’altra ad alto ingrandimento
(fino a 70X) per evidenziare microregioni da andare ad analizzare. Il campione è illuminato da 4
banchi indipendenti di LEDs bianchi.
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SPETTROMETRI MICRO-XRF
ORBIS µXRF
Il nuovo spettrometro EDAX Orbis Micro-XRF incorpora tecnologia
avanzata e funzionalità basate su oltre 10 anni di esperienza e di
posizione da leader nell’innovazione industriale.
Questi strumenti da banco sono disponibili sia con ottica per raggi
X mono-capillare che policapillare per altissime intensità, coprendo
così un’ampia gamma di applicazioni analitiche. L’ Orbis è semplice
da utilizzare, offre funzioni avanzate per una maggiore produttività
analitica, ed è ingegnerizzato per accomodare campioni di diverso tipo
o forma.
La sorgente a raggi X, le ottiche ed il detector garantiscono i migliori
risultati analitici per un vasto range di applicazioni.
Il software ‘ Orbis Vision Software’ permette una funzionalità sia
per le operazioni di routine che per le applicazioni più particolari ed
esigenti.
Tra le varie caratteristiche abbiamo:
• Analisi non distruttiva con minima/nulla preparazione del campione.
Analisi rapida e facile sia con camera portacampioni in basso vuoto
che in atmosfera. Si possono analizzare tutti gli elementi dal Na a U.
• Camera portacampioni di grandi dimensioni con la possibilità di
alloggiare una vasta gamma di campioni.
• Esclusiva torretta motorizzata con ottiche video e per raggi
X integrate, permettendo un analisi co-assiale ai raggi X e un
posizionamento accurato del campione senza perdere in qualità
dell’immagine video. Ottica policapillare con fascio di raggi X fino a
30µm per microanalisi. La torretta può opzionalmente montare due
collimatori da 1mm e 2mm per un’analisi quantitativa mediata su aree
più grandi del campione.
• Ruota motorizzata con 6 filtri e controllata via software: permette
di selezionare un eventuale filtro da applicare al fascio primario per
aumentare la sensibilità e rimuovere eventuali interferenze spettrali. Si
eliminano anche le linee caratteristiche del tubo e si riducono i picchi
di diffrazione e la Bremsstrahlung sulle regioni da analizzare.
• Il software ‘Orbis Vision Software’
Permette un ampio range di analisi qualitative e quantitative nonchè
un’elevata capacità di processamento e salvataggio dati. Fornisce gli
strumenti e soluzioni semplici per un ampia gamma di applicazioni
analitiche.
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ALCUNE APPLICAZIONI
INDUSTRIALE (1):
Misura della distribuzione dei metalli in
catalizzatori ceramici.
Montaggio Video
L’Orbis ha eseguito una mappatura della
distribuzione di Pd su un pellet di allumina
(estruso) con un carico di Pd riportato del 5 wt%.
La riga L del Pd è stata usata per limitare la
profondità di penetrazione dell’analisi attraverso
la superficie sezionata del pellet.
L’immagine ‘termica’ standard mostra il Pd
essere principalmente distribuito in un sottile
guscio sulla superficie del pellet. Uno scaling
speciale dell’immagine tramite il software EDAX
rivela un livello più basso di concentrazione
del Pd nel core del pellet altrimenti oscurato
nell’immagine standard a causa dall’elevato
di Pd nel guscio più esterno. Tramite il collimatore
opzionale da 2 mm può essere anche misurato
la concentrazione media dei vari metalli
presenti sul pellet ceramico omogeneizzato.
Pd(L): 3 log band scaling
Pd(L): standard thermal scaling
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INDUSTRIALE (2):
Misura del piombo (Pb) su schede a circuiti
stampati in base alla normativa ROHS.
L’Unione Europea attua delle
Importanti restrizioni sui contenuti di Hg, Br, Cd, Cr esavalente, Pb nei
componenti di consumo elettronici e sugli elettrodomestici.
La micro-XRF può essere utilizzata per determinare i livelli di Pb, Cd, Hg ed
identificare componenti ad alto contenuto di Cr e Br per un’analisi più specifica.
In questo esempio è riportata la mappatura di una scheda elettronica.
Si nota subito il contenuto di piombo sulle saldature.
Mappa di S(K): lo zolfo in questa forma nodulare è
spesso associato con la Troilite.
Mappa di S(K): lo zolfo in questa forma nodulare è
spesso associato con la Troilite.
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ALCUNE APPLICAZIONI
TEST NON-DISTRUTTIVI
Misure su Beni Culturali
Per preservare questa foto in bianco e nero dallo sbiadimento per invecchiamento,
una sezione della stessa è stata analizzata in modo non distruttivo tramite Orbis. In
particolare è stata effettuata una mappatura della distribuzione di aregnto (Ag) metallico
usato per creare le varie tonalità di grigio nella foto.
Immagine video composita: la foto mostra
una strada con carrozze trainate da cavalli
e cavi sospesi.
Immagine elementale della distribuzione di Ag (L): questa sezione
mostra due carrozze con cavalli a sinistra mentre in basso a destra si
notano due cavalli.
TEST NON-DISTRUTTIVI:
Studio di Meteoriti.
Una estesa regione di questa sezione del
meteorite Odessa è stata sottoposta ad immagine elementale per evidenziare la
struttura di questo oggetto extraterrestre impattato sulla Terra alcune decine di migliaia di anni fà.
Mappa di S(K): lo zolfo in questa forma
nodulare è spesso associato con la Troilite.
Mappa di Ni(K): mostra fasi ricche di nichel in
Taenite e Schreibersite intervallate da un fase
maggioritaria di Kamacite.
Immagine sovrapposta: Fe (rosso), Ni (verde),
S (blue) mostrano una fase nodulare di troilite
(FeS) in porpora che circonda un’inclusione
di grafite.
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Introduzione alla Microsonda Elettronica EPMA (Electron-Probe Micro Analysis)
La EPMA consiste nel bombardare un micro-volume di campione tramite un fascio focalizzato di elettroni (di energia
tipica nel range 5 – 30 keV) e raccogliere i raggi X emessi dai vari elementi che compongono il campione.
Poiché le lunghezze d’onda di questi raggi X sono caratteristiche delle specie emittenti, la composizione del campione
viene identificata con facilità registrando gli spettri WDS (Wavelength Dispersive Spectroscopy). Gli spettrometri WDS si
basano sulla legge di Bragg e sono composti da vari mono-cristalli di grandi dimensioni che fungono da monocromatori.
• EPMA è una tecnica non-distruttiva di analisi elementale qualitativa e quantitativa su volumi di dimensione
micrometrica su superfici di materiali, con sensibilità ai livelli dei ppm. E’ la tecnica di micro-analisi più precisa ed
accurata che esista e permette di analizzare tutti gli elementi dal B a U e oltre.
• EPMA è completamente compatibile con sessioni di analisi in routine, con interpretazione semplice e diretta dei risultati.
• Gli strumenti EPMA sono equipaggiati con un kit completo integrato di accessori di microscopia che permettono imaging
simultaneo di raggi X (WDS ed EDS), immagini SEM e BSE (Back-Scattered Electrons), microscopia ottica e catodoluminescenza;
tutto ciò permette una ispezione molto flessibile del campione con ingrandimento d’immagine da 40X a 400.000X.
• E’ inoltre possibile la determinazione di spessori (da nm a mm) e composizione elementale di materiali multistrato.
Le maggiori applicazioni sono nel campo della geochimica, mineralogia, geocronologia, metallurgia, metallurgia nucleare,
scienze dei materiali inclusi vetro, ceramiche, superconduttori, cementi, microelettronica, biochimica…
EPMA è una tecnica molto più accurata e precisa rispetto ai sistemi SEM-EDS. Grazie ai sistemi WDS, la risoluzione spettrale,
sensibilità e velocità dei detector sono di gran lunga superior. Inoltre, il sistema di regolazione del fascio di elettroni garantiscono
stabilità e ripetitività delle misure.
Tecnica LEXES (Low energy Electron induced X-ray Emission Spectrometry)
Il principio della LEXES è identico alla EPMA. La differenza risiede nel fatto che il fascio di elettroni incidente
possiede una bassa energia (fino a 0.3 keV). I raggi X soft che vengono emessi dal campione vengono analizzati
tramite spettrometri a dispersione di lunghezza d’onda (WDS). Poichè i raggi X sono caratteristici dell’elemento
che li ha emessi, si riesce ad eseguire un’analisi elementale selettiva. La profondità che viene analizzata può
essere variata da 1nm fino a 700nm, a seconda di parametri quali l’elemento, la matrice e l’energia del fascio
primario di elettroni.
La precisa modellizzazione dell’interazione elettrone/materia e assorbimento da parte di essa dei raggi X soft
permettono una precisa quantificazione elementale della porzione in profondità di campione su un vasto range di
concentrazioni (da 100 at% fino a decine di ppm). Gli effetti-matrice sono bassi e ben correggibili grazie alla disponibilità di
campioni standard (materiali puri o composti stechiometrici). Una delle applicazioni più importanti della tecnica LEXES è
la rapida misura quantitativa di dose di impianti ultra-superficiali su un vasto range di dosi. Congiuntamente alla misura
della dose si possono ricavare informazioni di distribuzione in profondità variando l’energia del fascio primario. LEXES è
quindi una tecnica estremamente sensibile in accordo con le necessità delle tecnologie di impianto LE (Low Energy) e ULE
(Ultra Low Energy). Le dimensioni del fascio sono pienamente compatibili con i ‘patterned wafers’.
Oltre alla metrologia di impianto, può essere sempre monitorata la composizione chimica in tutti gli strati di metalli/ossidi
(da pochi Angstrom a centinaia di nm). Vengono affrontati studi critici molto importanti, come dosi di Alluminio e Lantanio
in HKMG (High K Metal Gate) e quantificazione di Azoto e Ossigeno negli ossi-nitriti. Negli strati epitassiali come SiGe, si
può misurare la composizione e spessore dello strato SiGe simultaneamente alla concentrazione dei dopanti (tipo Boro o
Fosforo).
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Introduzione alla Tecnica SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry)
Le tecnica SIMS, spettrometria di massa a ioni secondari, consiste in un bombardamento (sputtering) della
superficie del campione solido tramite un fascio di ioni primari ad energie di pochi keV. La micro-superficie
investita viene ‘polverizzata’ e una frazione di particelle emesse viene ionizzata (detti ioni secondari). La SIMS
consiste nel raccogliere ed analizzare questi ioni secondari tramite spettrometria di massa. Si hanno quindi
informazioni sulla composizione isotopica, elementale e molecolare dei primi strati atomici superficiali.
L’efficienza di ionizzazione secondaria varia molto a seconda delle condizioni chimiche e di sputtering (specie ioni
primari, energia, angolo incidenza) e ciò aggiunge una complessità all’aspetto quantitativo della tecnica.
In ogni caso SIMS è universalmente riconosciuta come la tecnica più sensibile di analisi elementale ed isotopica
superficiale.
La tecnica SIMS permette una combinazione unica di altissima sensibilità su tutti gli elementi, dall’Idrogeno all’Uranio e
oltre (limiti di rivelabilità sotto i ppb per molti elementi), imaging ad alta risoluzione laterale (fino a 40nm), e background
molto basso che consente un elevato range dinamico (più di 5 ordini di grandezza). La tecnica è distruttiva per via dello
sputtering e può essere utilizzata su qualsiasi tipo di materiale che possa essere posto sotto vuoto, sia esso isolante,
semiconduttore o conduttore.
Esistono due differenti tipologie di questa tecnica: la SIMS statica, che si concentra sul primo strato superficiale, ricavando
principalmente informazioni a livello molecolare e la SIMS dinamica nella quale possono essere eseguite analisi di bulk
e profilo di distribuzione in profondità degli elementi in traccia, con risoluzione in profondità da sub-nm a decine di nm.
Introduzione alla Atom Probe Tomography (APT-3D)
La Atom Probe Tomography (APT o 3D Atom Probe) è l’unica tecnica di analisi dei materiali ad offrire ampie
capacità sia di imaging 3D che di misure di composizione chimica su scala atomica (con circa 0.1-0.3nm di
risoluzione in profondità e 0.3-0.5nm laterale). A partire dal suo primo sviluppo, Atom Probe Tomography ha
contribuito ai maggiori progressi nella scienza dei materiali.
Il campione viene preparato come una punta acuminata. Tale punta è raffreddata e posta ad alta tensione
DC (5-20 kV). Il raggio di curvature estremamente piccolo della punta e l’Alta Tensione inducono un altissimo
campo elettrostatico (decine di V/nm) alla superficie del campione, di poco al di sotto del punto di evaporazione
atomica. Tramite pulsaggio laser o HV, alcuni atomi vengono evaporati dalla superficie del campione dall’effetto
campo (circa 100% di efficienza di ionizzazione), e proiettati su un Detector sensibile alla posizione (PSD) con una
altissima efficienza.
Il detector permette così di misurare simultaneamente:
• Il Tempo di Volo (TOF) degli ioni: misurando il tempo che intercorre tra un impulso del laser e l’arrivo dello ione sul PSD
è possibile determinare il rapporto m/q (massa su carica).
• La posizione (X,Y) dell’impatto dello ione sul detector: misurando la posizione X-Y e l’ordine di arrivo degli ioni sul PSD
si può ricostruire la posizione originale degli atomi nella punta.
Ripetendo questa sequenza, gli atomi vengono progressivamente rimossi dalla punta, ed è possibile ricostruire una
immagine 3D del materiale, su scala atomica.
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PRODOTTI EPMA
MICROSONDA ELETTRONICA SXFIVE
La Microsonda Elettronica SXFive, combinando un’avanzata tecnologia nell’ottica
elettronica, design e software allo stato dell’arte, permette precise micro-analisi qualitative
e quantitative per applicazioni in geochimica, mineralogia, geocronologia, metallurgia e
nucleare, scienze dei materiali, biochimica, microelettronica…
Colonna elettronica Ottimizzata
La microsonda SXFive viene equipaggiata con una colonna elettronica compatibile con
sorgenti in W e LaB6. La corrente del fascio è continuamente regolata, raggiungendo una
stabilità dello 0.3% per 12 ore, assicurando analisi quantitative a lungo termine. L’intensità
del fascio è accuratamente misurata tramite una Faraday cup anulare e a deflessione
elettrostatica. Il sistema ad alta tensione opera fino a 30 kV per elementi ad alto numero
atomico. Correnti ad alta intensità (svariati µA) possono essere impiegate per analisi di
elementi in traccia e mappatura a raggi-X ad alta velocità.
LA SXFive può essere implementata con una sorgente a Field Emission (vedi modello
SXFiveFE).
I migliori spettrometri a Dispersione di Lunghezza D’onda (WDS)
La spettrometria WDS è riconosciuta come un metodo per analisi quantitativa ad alta
precisione. Fino a 5 spettrometri WDS, più uno spettrometro EDS, possono essere montati
sulla microsonda SXFive. Encoders ottici assicurano il posizionamento accurate degli
spettrometri che possono essere montati sia verticalmente (per superfici piatte e polished),
che inclinati per superfici rugose. Cristalli ad alta sensibilità permettono un incremento dei
conteggi di almeno di 3 volte mantenendo il rapporto picco/background e la risoluzione
spettrale su tutto il range analitico coperto da ciascun spettrometro.
A destra un esempio mostra la mappatura ottimizzata di Ca, Fe e Mg tramite i cristalli ad
alta intensità CAMECA.
Microscopio ottico completamente integrato
Usando una camera digitale CCD, campioni opachi vengono visualizzati in luce riflessa
mentre campioni a sezione sottile in luce trasmessa. Il campo visivo (FOV: Field of View)
dell’immagine ottica è completamente variabile da 250 a 1700 µm grazie ad una lente
motorizzata. Un sistema di autofocus fà sì che la superficie del campione si trovi sempre
nella corretta posizione focale.
Automazione dedicate e pacchetti software di analisi
La SXFive è equipaggiata con le moderne tecnologie di acquisizione immagini a raggi-X,
automazione controllata da PC con la versione Windows più aggiornata, e un’interfaccia
user-friendly. Tutti i processi analitici sono completamente automatizzati per raggiungere la
massima efficienza.
Combined elemental maps with Ti (red), Ca (green)
and Al (blue) Kα X-rays.
Di=diopside, An=Anorthite, Sp=Spinel, Hib=Hibonite,
Pv=Perovskite, Grss=grossite, Ge=gehlenite
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MICROSONDA ELETTRONICA SXFIVE - FE
La microsonda SXFiveFE è un upgrade della SXFive con sorgente a Field Emission
(FE) (Schottky emitter). La Colonna elettronica è ottimizzata in modo da minimizzare il
diametro del fascio ad alto flusso anche a basse tensioni di accelerazione permettendo
mappature di raggi-X ed analisi qualitativa e quantitativa ad altissima risoluzione
spaziale.
A sinistra:
Mappe a raggi-X di Cr e Al su un superconduttore
a base Nichel, a dimostrazione dell’alta risoluzione
spaziale della SXFiveFE.
Cortesia di Dr.-Ing. I. Lopez-Galilea, Ruhr-Universität
Bochum, Germany.
Vuoto Ottimizzato
La SXFiveFE ha un sistema da vuoto compost da una pompa turbomolecolare collegata
ad un pompa a secco per assicurare atmosfera in vuoto pulito. LA Colonna è pompata
da 2 pompe per raggiungere l’ultra-alto-vuoto (UHV) nella sorgente Field Emission. Tutte
le valvole sono attivate pneumaticamente e tutte le sequenze di vuoto controllate con un
nuovo processore.
MICROSONDA ELETTRONICA SHIELDED SX
La microsonda SX –Shielded è stata progettata per maneggiare ed analizzare campioni
radioattivi (es. combustibile nucleare) che emettono radiazioni gamma fino a 3 Curies
all’energia di 0.75MeV. Basata sull’architettura della SXFive, è dotata di spettrometri WDS e
stage portacampione schermati in modo da rendere sicura la manipolazione del campione,
preservando le performance analitiche.
Equipaggiamento ed ambiente analitico completamente customizzati
• I componenti (colonna, spettrometri e stage portacampioni) sono istallati in una cella
“calda” (camera schermata in piombo o calcestruzzo).
• Lo strumento è completamente controllato da remoto (stage, Colonna, diagrammi...) con
elettronica e computer posti al di fuori della cella schermata.
• Manipolatori da remote sono usati per inserire e montare campioni radioattivi.
• Tutti gli analizzatori WDS e detectors sono schermati per minimizzare il fondo dovuto alle
radiazioni gamma.
• Lo stage è in materiale Denal.
• Il Detector per Elettroni Secondari ha un orientamento speciale per eliminare
perturbazioni dovute a raggi gamma.
• Il sistema automatizzato tramite PC controlla tutti i parametri della microsonda Shielded
SX e permette analisi quantitative, mappature di raggi X (vedasi immagine in basso relativa
a mappatura del Cesio), acquisizione di profili lineari e processamento dati.
• Il nostro dipartimento di ingegneria meccanica ha l’esperienza per sviluppare soluzioni
customizzate per trasferimento e manipolazione di campioni in modo da soddisfare tutte le
specifiche richieste dei laboratori di ricerca nucleari.
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PRODOTTI LEXES
SHALLOW PROBE EX-300:
La nuova generazione di Shallow Probe CAMECA: la soluzione metrologica per
integrazione avanzata di nuovi processi
La EX-300 è risultato di un’esperienza pluridecennale nella tecnologia LEXES per
l’industria di semiconduttori. Decine di LEXFAB-300 Shallow Probes nelle fabbriche
della classifica top-ten delle più grandi e prestigiose industrie di semiconduttori. La
EX-300 è progettata per affrontare le nuove sfide tecnologiche come SiGe e HKMG, ed è
ottimizzata per accelerare il tempo di sviluppo e messa sul mercato di logiche avanzate
e dispositivi di memoria raggiungendo un’alta efficienza di produzione.
Lo strumento da scegliere per tecnologie con nodi da 32nm e oltre…
La tecnica LEXES, a non-contatto e non-distruttiva è importante per la misura diretta
della composizione chimica di superficie.
La EX-300 è lo strumento ideale per la metrologia nei nuovi processi:
• Impianti ultra-superficiali: Monitoraggio di impianti ad alte concentrazioni e bassa
energia.
• Controllo spessori: Composizione chimica e spessori di strati epitassiali come B:SiGe e
P:SiC, senza alcuna limitazione nella composizione del layer.
• Metrologia HKMG: sia gli ossidi che gli elementi vengono monitorati da una singola
piattaforma EX-300.
La EX-300 è caratterizzata da una maggiore stabilità a lungo termine con limite di
vuoto migliore. Il grafico sottostante mostra la riproducibilità su svariati mesi per una
dose media di As di 1.97e15 at/cm2 con una precisione globale RSD (1σ) dello 0.622%.
Analisi avanzata e robusta di patterns
La EX-300 è stata concepita per la metrologia su wafers con pattern fino a 30x30µm.
La nuova sorgente di LaB6 genera un’elevata brillanza, assicurando così una sonda
più densa. Una migliore fonte di luce, migliori ottiche e una nuova fotocamera digitale
con possibilità di zoom consentono una navigazione visuale mentre il nuovo sensore
elettrostatico assicura il bloccaggio del wafer.
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PRODOTTI SIMS
IMS 7F
SIMS universale a settore magnetico per Scienze dei Materiali
Il IMS 7f di Cameca è un SIMS a doppio settore magnetico con
performance analitiche ben consolidate: esso coniuga alta sensibilità,
alta risoluzione in massa, elevato range dinamico e migliori limiti di
rivelabilità su elementi leggeri e in traccia.
Versatilità analitica per applicazioni su vasta scala...
Il IMS 7f offre un’ineguagliabile capacità di profili in profondità con
alta risoluzione e alto range dinamico. Un gate ottico ad alta efficienza
è usato per eliminare gli effetti dovuti al bordo del cratere e l’elevata
risoluzione in massa assicura una reale analisi elementale eliminando
i vari ioni interferenti (31P/30SiH, 56Fe/28Si2…). Lo spettrometro
di massa ad alta trasmissione è accoppiato a due sorgenti ioniche
reattive ad alta densità O2+ e Cs+, fornendo un’alta frequenza di
bombardamento ed eccellenti limiti di rivelabilità.
Grazie ad un unico sistema ottico stigmatico, il IMS 7f può
contemporaneamente eseguire microscopia ionica diretta e micro
imaging a scansione. Inoltre, la sua sorgente a flusso di elettroni fornisce
una modalità di auto-compensazione che rende possibile misurare profili
in profondità su complesse strutture isolanti.
Per questi motivi, il IMS 7f è estremamente efficace per affrontare
le varie problematiche nell’analisi dei materiali: concentrazione e
distribuzione dopanti, controllo delle impurezze, qualità delle interfacce
dei vari layers (impurezze di giunzione, diffusione di contaminanti,...),
riducendo in modo sostanziale i tempi della R&D e aumentando
l’efficienza di produzione.
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IMS 7F-AUTO
Nuovo SIMS dinamico completamente automatizzato per alta produttività
Il IMS 7f-Auto è l’ultima versione del IMS 7f. E’ stato progettato per apportare un’elevata
precisione nell’analisi elementale ed isotopica e massimizzare la semplicità di utilizzo e
la produttività. Le maggiori applicazioni per il IMS 7f-Auto sono vetri, metalli, ceramiche,
dispositivi basati su Si, III-V e II-VI film sottili...
Automazione ed efficienza
Il IMS 7f-Auto combina tutte le qualità del IMS 7f con sviluppi addizionali
nell’automazione e d efficienza:
• Nuova Colonna primaria per tuning più semplice e rapido e stabilità del fascio
primario ottimizzata
• Camera portacampioni motorizzata con carico/estrazione automatizzata e
controllabile da remoto, aumentando notevolmente il numero dei campioni da analizzare
nel minimo tempo.
Elevata riproducibilità
Grazie alla complete automazione, il IMS 7f-Auto può analizzare un numero elevato di
campioni anche durante la notte. Può essere ottenuta un’ elevata riproducibilità (RSD <
0.5 %, vedasi figura a destra), mantenendo ottimi limiti di rivelabilità, alta frequenza di
campioni e produttività (lo strumento può essere utilizzato 24 ore al giorno con il minimo
intervento esterno).
IMS 7FR
SIMS ad alte performance per analisi campioni radioattivi
Il IMS 7fR è un SIMS a settore magnetico schermato, sviluppato specificatamente per
l’analisi di materiali altamente radioattivi. Mantiene tutte le caratteristiche analitiche dello
IMS 7f.
Un tunnel di trasferimento permette un trasporto sicuro del campione radioattivo
all’interno dello strumento. Il campione è introdotto in una glove box tramite una porta
stagna per emissioni alfa. Una schermatura in piombo circonda la glove box e tutte
le manipolazioni del campione e operazioni di manutenzione possono essere viste
attraverso una finestra in vetro piombato.
Principali caratteristiche del IMS 7fR:
• Alta risoluzione per eliminare le interferenze in massa per l’analisi degli attinidi e dei
prodotti di fissione.
• Ottica stigmatica per ioni secondari per fornire imaging e distribuzione degli elementi.
• Monitoraggio in tempo reale della dose di contaminazione durante la fase di
calibrazione strumentale e analisi.
• Controllo totale computerizzato dello strumento, allineamento delle sorgenti, sorgente
di elettroni, sistemi ottici primari e secondari, fenditure e diaframmi.
• Glove box per protezione da raggi Alfa con porta a tenuta stagna per introduzione
campione.
• Cella con pareti in piombo e finestra in vetro piombato per protezione dell’operatore
da raggi Gamma durante l’analisi di campioni altamente radioattivi.
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IMS WF
SIMS a settore magnetico per la metrologia avanzata dei semiconduttori
Il IMS Wf è un SIMS completamente automatizzato con performance di
riferimento per profili in profondità ad energia ultra-low nel campo dei
semiconduttori. Esso soddisfa la crescente domanda di rapide analisi
SIMS con monitoraggio della contaminazione in impianti ultra-superficiali
e layers sottili.
Mappatura ed analisi dell’intero wafer
Derivato dallo SC Ultra (SIMS a settore magnetico che unisce ad una
bassissima energia di impatto un’alta risoluzione in massa e alta
sensibilità), il IMS Wf offre in più la possibilità di analisi e mappatura
completa di wafer da 300mm. La manipolazione del wafer avviene in
modo motorizzato e la camera è progettata per accomodare wafer da 50
a 300mm di diametro.
Automazione e semplicità di utilizzo
Un sistema opzionale di riconoscimento pattern fornisce allo strumento
la capacità di eseguire misure su wafers a pattern. Il IMS Wf è perciò
l’ideale per un’ampia gamma di applicazioni nella tecnologia a
semiconduttore: Si, composti III-V, etc…
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IMS 7F- GEO
SIMS ad alte performance per laboratori di Scienze Geologiche
Il IMS 7f-GEO è un nuovo e compatto modello di SIMS a monocollettore
realizzato per eseguire misure ad alta precisione su campioni geologici,
ad esempio isotopi stabili, Terre Rare, elementi in traccia... Le
dimesnsioni del fascio per l’analisi possono essere variate fino a poche
decine di micron. Le immagini di elementi ed isotopi in traccia possono
essere registrati su un Campo Visivo da pochi micron fino a 500µm.
Un sistema di rivelazione unico per alta riproducibilità nei rapporti
isotopici
Derivato dal IMS 7f , il IMS 7f-GEO è equipaggiato con un sistema di
rivelazione unico del suo genere, che combina una doppia coppa di
Faraday ed un Elettro-Moltiplicatore. Grazie a questa configurazione, i
tempi di acquisizione sono notevolmente ridotti e le analisi avvengono
in modalità bi-collettore assicurando così una precisione su misure di
rapporti isotopici al di sotto di millesimi.
Analisi di isotopi stabili:
Delta18O misurato su un campione standard di quarzo.
Ogni dato corrisponde ad un differente punto sul campione.
Tali punti sono disposti su un’area di circa 15mm in diametro.
Tempo totale di misura: 56s
Riproducibilità punto per punto (1s):
0.37 permille
Errore medio interno (1s): 0.27 permille
Il IMS 7f-GEO raggiunge un sostanziale miglioramento in analisi grazie
all’implementazione del detector a doppia coppa di Faraday, dimostrato
nelle analisi di cui sopra sui rapporti isotopici 18O/16O isotope ratio:
• Precisione richiesta: 0.4‰
• Intensità del segnale di 18O: ~2e6c/s
• Nella modalità standard EM/EM il tempo di misura è di 3016s, mentre
nel nuovo IMS 7f-GEO in modalità FC/FC esso scende a 56s.
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IMS 1280-HR
SIMS a settore magnetico, con altissima sensibilità e risoluzione per Geoscienze
Il IMS 1280-HR è un SIMS a larga geometria caratterizzato da performance analitiche
ineguagliabili per un vasto range di applicazioni: tracciatura di processi geologici usando
isotopi stabili, datazione dei minerali, determinazione di elementi in traccia, monitoraggio
ed analisi di un vasto numero di particelle...
Altissima risoluzione in massa
Il nuovo modello di IMS 1280-HR presenta nuovi sviluppi orientate verso applicazioni
specifiche di scienze geologiche che richiedono un’elevatissima risoluzione in massa
sia in mono- che in multi-collection.
Le applicazioni più richieste sono le datazioni K/Ca e Rb/Sr in modalità monocollettore
alla risoluzione (MRP) > 20,000, come pure l’analisi isotopica del Mg e altri metalli in
modalità multicollettore a MRP > 5,000.
Queste caratteristiche superiori aprono il cammino verso un nuovo tipo di investigazioni
scientifiche nell’ambito delle scienze geologiche.
A sinistra e mostrata la trasmissività ad altissima risoluzione (monocollection) in un
campione di Adularia. Una segnale di >75 c/s/ppm/nA può essere acquisito a MRP
(10%) ~ 34,000.
Performance uniche per analisi isotopica in situ
Il bombardamento tramite un fascio primario ad alta densità di ioni di cesio od ossigeno
combinato con una trasmissione ottimizzata permettono studi ad alta precisione sugli
isotopi stabili e l’analisi di elementi in traccia ad alta sensibilità (necessaria ad esempio
per analisi di Pb nello Zirconio). Il sistema multicollettore dello IMS 1280-HR assicura la
massima riproducibilità di misure su rapporti isotopici (H, C, O, S, Li, B, Mg...) riducendo il
tempo totale di acquisizione.
Capacità di imaging uniche
Il IMS 1280-HR è l’unica microsonda ionica a larga geometria a poter effettuare sia
imaging a microscopio ionico che microanalisi. Grazie a queste caratteristiche uniche,
il IMS 1280-HR può eseguire una mappatura della distribuzione di elementi ed isotopi
maggioritari, minoritari ed in traccia con risoluzione spaziale sub-micrometrica.
In basso a sinistra: Screening di particolato di Uranio impoverito in modalità microsonda
(immagine a scansione ionica)
In basso a destra: Identificazione automatica di particelle contenenti Uranio tramite
Software APM (Automated Particle Measurement).
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NANOSIMS 50L
SIMS a settore magnetico,
per analisi elementale ed isotopiche ad alta risoluzione spaziale
Il NanoSIMS 50L della Cameca è l’unico strumento SIMS ottimizzato per performance
analitiche ad altissima risoluzione spaziale. E’ basato su un design coassiale della sorgente
ionica primaria e del fascio estratto di ioni secondari, e su un originale spettrometro di
massa a settore magnetico con rivelazione multicollettore.
Caratteristiche Uniche
Il NanoSIMS 50L presenta contemporaneamente diversi punti chiave non raggiungibili da
alter tecniche:
• Alta risoluzione spaziale in analisi (fino a 50 nanometri),
• Alta sensibilità (ppm nell’imaging elementale),
• Alta risoluzione in massa (M/dM),
• Acquisizione parallela di 7 masse (multicollection),
• Rapida acquisizione (modalità DC mode, non impulsata),
• Analisi di campioni isolanti senza alcun problema.
E, grazie a recenti miglioramenti, può essere raggiunta una precisione su rapporti isotopici
nell’ordine di pochi millesimi.
Svariati campi di applicazione
Microbiologia:
Il NanoSIMS 50L opre nuove possibilità di accoppiamento d’identità filogenetico (tramite
FISH o El-FISH) e funzione metabolica (usando ‘etichettature’ con isotopi stabili) di cellule
singole in studi di comunità microbiotiche miste.
Biologia Cellulare:
La risoluzione di 50nm e le prestazioni sui rapporti isotopici del
NanoSIMS 50L permettono una misura intra-cellulare di accumulazioni
e flussi di svariate molecole etichettate con differenti isotopi stabili.
Geologia e Scienze Spaziali:
Il NanoSIMS 50L permette precise misure isotopiche ed elementali
su aree sub-micrometriche, grani o inclusioni di particelle di polvere
interplanetaria, meteoriti, e sezioni di minerali.
Ricerca sui Materiali:
Grazie alla sua elevate sensibilità e risoluzione in massa (senza interferenze in massa), il
NanoSIMS 50L permette la quantificazione e imaging di elementi in traccia (dopanti) con
risoluzione SIMS spaziale di 50nm SIMS, anche su materiali isolanti.
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PRODOTTI ATOM PROBE TOMOGRAPHY 3D
LEAP 4000X –HR
Tomografia atomica 3d ad alta performance per
applicazioni su materiali innovativi e metalli
IIl LEAP 4000X HRTM è una microsonda atomica 3D che effettua
analisi in nano-scala di superfici, volumi ed interfacce di materiali, di
semplice o complesse strutture tramite un’identificazione atomo per
atomo ed accurato posizionamento spaziale.
Il sistema lavora sfruttando il principio dell’evaporazione da campo,
tramite il quale un elevato campo elettrico applicato sul campione è
sufficiente a causare la rimozione dei atomi tramite ionizzazione. La
rimozione atomica è innescata tramite un impulso in tensione elettrica
o laser applicato sul campione.
Il LEAP HR offre un’eccellente risoluzione in massa
sia in modalità di voltaggio impulsato che laser.
Lo spettro a sinistra è stato acquisito in modalità
voltaggio; notare la chiara differenziazione dei picchi.
Il LEAP HR presenta le seguenti caratteristiche salienti:
• Campo di visione (Field-of-View)
eccellente con buona risoluzione in massa
• Compatibilità tra elettrodo locale e micropunta
Elettrodo Locale e Micropunte:
"LEAP" deriva da Local ElectrodeTM Atom Probe. Il Local ElectrodeTM
offre un forte vantaggio tecnologico massimizzando la semplicità di
utilizzo e la qualità delle analisi. L’Elettrodo Locale permette anche
l’utilizzo di arrays Micropunte prefabbricate.
Reflectron
Il LEAP 4000X HR utilizza un nuovo design a compensazione di
energia che combina una risoluzione in massa ottimizzata per
interpretazione spettrale dettagliata con un ampio Field-of-View (250
nm raggiungibili). Per applicazioni ad impulsi di voltaggio (metalli
tradizionali), le performance sono eccellenti ed il sistema presenta
un’elevata risoluzione in massa.
Laser UV a piccolo diametro
Il sistema utilizza un laser UV con un fascio ben focalizzato. Lo
stretto fascio laser UV permette il raggiungimento di un’eccezionale
risoluzione in massa e l’uso di lunghezza d’onda nell’ UV consente
ad una vasta varietà di materiali, inclusi molti isolanti, di essere
analizzati con una elevata efficienza. Utilizzando puoi alte frequenze di
ripetizione degli impulsi laser, si riducono i tempi di analisi.
Mapping della siliciurizzazione di un sistema NiPd/Si.
Gli atomi di silicio sono in blue, Pd in rosso e Ni in
verde.
Atom map with various isoconcentration surfaces highlighting the
complex nanostructure observed in this Fe75.3 C7.0 Si3.3 B5.0 P8.7 Cu0.7
metallic glass.
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LEAP 4000X –Si
Tomografia Atomica 3D ad alta performance per
semiconduttori, dispositive elettronici e nano-magnetici
Il LEAP 4000X SiTM è una microsonda atomica 3D che effettua analisi
in nano-scala di superfici, volumi ed interfacce di materiali, di semplice
o complesse strutture tramite un’identificazione atomo per atomo ed
accurato posizionamento spaziale.
Il sistema lavora sfruttando il principio dell’evaporazione da campo,
tramite il quale un elevato campo elettrico applicato sul campione è
sufficiente a causare la rimozione dei atomi tramite ionizzazione. La
rimozione atomica è innescata tramite un impulso in tensione elettrica o
laser applicato sul campione.
Il LEAP HR presenta le seguenti caratteristiche salienti:
• Velocità più elevata di raccolta dati
• Compatibilità tra elettrodo locale e micropunta
• Percorso di volo degli ioni variabile
Laser UV a piccolo diametro
Il sistema utilizza un laser UV con un fascio ben focalizzato. Lo stretto
fascio laser UV permette il raggiungimento di un’eccezionale risoluzione
in massa e l’uso di lunghezza d’onda nell’ UV consente ad una vasta
varietà di materiali, inclusi molti isolanti, di essere analizzati con una
elevata efficienza.
Elettrodo Locale e Micropunte:
"LEAP" deriva da Local ElectrodeTM Atom Probe. Il Local ElectrodeTM
offre un forte vantaggio tecnologico massimizzando la semplicità di
utilizzo e la qualità delle analisi. L’Elettrodo Locale permette anche
l’utilizzo di arrays Micropunte prefabbricate.
Percorso di volo variabile
Il LEAP 4000X SiTM è caratterizzato da un percorso di volo degli ioni
rettilineo che permette impulsi laser fino a 1 MHz per elevata efficienza
di acquisizione dati, ed elevato campo di visione. La lunghezza del
percorso di volo è variabile, il che permette all’utente la flessibilità nella
scelta del MIGLIOR COMPROMESSO TRA RISOLUZIONE IN MASSA E
FIELD-OF-VIEW.
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Cari clienti,
Siamo lieti di presentarvi il catalogo di LAND INSTRUMENTS, azienda da oltre 60 anni presente sul mercato
mondiale e leader nella progettazione e commercializzazione di strumenti di misura.
LAND INSTRUMENTS, con le due divisioni INFRARED e COMBUSTION, è in grado di offrivi soluzioni dedicate
per la misura della temperatura non a contatto ad infrarossi, per l’analisi della combustione ed il monitoraggio delle
emissioni.
Acciaio, vetro, elettronica, lavorazione dei minerali, turbine a gas, aeronautica, petrolchimico: qualunque sia il vostro
settore, abbiamo risposte pronte alle vostre esigenze e soluzioni tecnologiche all’avanguardia realizzate grazie alla
pluriennale esperienza nei più svariati settori industriali.
Sfogliando queste pagine, troverete le specifiche tecniche dei nostri strumenti, alcune note suddivise per tipologia di
applicazione e i riferimenti per contattare direttamente i nostri esperti.
Grazie della fiducia che ci dimostrate e buona lettura.
Paolo Arrichiello
Sales Manager
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Tom Land, le origini e la storia
La famiglia Land, originaria di Sheffield (UK) è stata fondatrice del gruppo Land, società presente
sul mercato da circa un secolo. Inizialmente avviata nel 1860 come “Hanry Land & CO”, viene poi
trasformata in “T. Land & Son Ltd.”, società attiva per il commercio di oggetti placcati in argento con
sede in Dronfield. Nel 1947 è stata trasformata da Tom Land in una società ad alto livello tecnologico,
sviluppando prodotti per la misura della temperatura nel settore industriale.
Tom Land, nel pieno degli anni della Seconda Guerra Mondiale e dopo aver terminato il servizio
militare, è stato impiegato nel dipartimento di pirometria presso la società “Jessop & Sons Ltd”, una
delle tante acciaierie di Sheffield.
Il suo lavoro presso la Jessop, durato dal 1939 al 1946, consisteva nel verificare che tutti gli strumenti
per la misura della temperatura impiegati presso l’acciaieria funzionassero correttamente.
Le sue conoscenze tecnologiche, il suo attuale impiego presso la Jessop e le esperienze precedenti
presso l’azienda di famiglia, hanno permesso a Tom Land di iniziare a sviluppare i primi progetti per
la costruzione di pirometri più avanzati.
L’idea di inserire all’interno di un pirometro uno specchio emisferico è stata brevettata proprio in
quegli anni da Tom Land; questa tecnologia ha completamente rivoluzionato il mondo della pirometria
ed è attualmente in uso per la costruzione e la progettazione di pirometri.
Ed è così che nel 1947 Tom Land decide di trasformare l’azienda di famiglia in “Land Pyrometers
Ltd.” dedicando tutte le risorse per la ricerca di nuove tecnologie nell’ambito della misura della
temperatura ad infrarossi senza contatto. L’azienda viene spostata nella vicina cittadina di Dronfield,
dove tutt’ora risiedono gli stabilimenti produttivi e gli uffici di Land.
Dopo oltre vent’anni di lavoro e successo nell’ambito della pirometria e della termografia, dopo
aver espanso il proprio mercato anche nel resto del mondo, nella metà degli anni settanta l’azienda
decide di includere nella rosa di produzione della Land, strumenti per il monitoraggio ambientale e
per il controllo della combustione. Viene così costituita la divisione “Combustion & Environmental
Monitoring”.
Lo studio, la progettazione e la costruzione di tutti gli strumenti
Land hanno sede principale a Dronfield, Inghilterra ed in
Pensilvanya, USA. Le filiali in Europa, America, Giappone e Cina si
occupano direttamente dell'assistenza al cliente e delle vendite.
Tutti gli altri paesi sono "coperti" da distributori, adeguatamente
istruiti presso la casa madre di Dronfiled. L'assistenza e il
supporto tecnico al cliente hanno e avranno sempre un ruolo
importante nella politica di sviluppo della Land.
Cogliendo i risultati di un secolo di esperienza, Land ha iniziato il
ventunesimo secolo con una politica attiva riguardo la copertura
globale del mercato e dell’investimento nello sviluppo del
prodotto, impegnandosi così a migliorare sempre di più il servizio
rivolto ai clienti presenti e futuri.
Nell’immagine:
TOM LAND alla fine degli anni cinquanta presenta il “Land Surface
Pyrometer” presso la Master Cutler, la prima fiera tecnologica a
cui partecipa Land Instruments.
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Cenni sulla Teoria della Misura Temperatura ad infrarossi
Per la maggior parte dei processi di produzione industriali, la temperatura è una variabile
estremamente importante da misurare e monitorare. Il controllo della temperatura permette di
incrementare la qualità e la produttività e i dati analizzati possono essere utilizzati per l’individuazione
di programmi di manutenzione preventiva.
La misura della temperatura, richiesta dalla maggior parte dei processi industriali, può essere
eseguita per punti o in modo continuo utilizzando la conduzione diretta del calore tra corpo in esame
e sensore (misura a contatto) o captando le radiazioni infrarosso emesse dal corpo in esame, con
l’aiuto di elementi sensibili (misura a distanza) senza contatto.
I dispositivi per la misura della temperatura senza contatto non contaminano, danneggiano o
interferiscono in alcun modo con la superficie da monitorare ed hanno molti vantaggi (semplicità
di utilizzo, misura di oggetti in movimento ecc.) rispetto ad altri dispositivi di misura. Inoltre gli
strumenti per la misura della temperatura ad infrarossi possono essere installati anche a distanza
dalla superficie da misurare rendendoli così adatti ad operare per lunghi periodi di tempo con
minima manutenzione. L’esistenza di questi strumenti è legata alla scoperta casuale, nello spettro
elettromagnetico, della banda infrarosso da parte di Sir Frederik William Herschel. La sua scoperta
ha portato, molti anni dopo, all’utilizzo dell’infrarosso per scopi militari (seconda guerra mondiale
– visione notturna dei carri armati) e per scopi civili e industriali (1960). Poiché ogni oggetto con
temperatura superiore allo zero assoluto irradia energia elettromagnetica, la sua temperatura
può essere determinata per mezzo di uno strumento per la misura della temperatura ad infrarossi
misurando l’energia elettromagnetica che emette. I pirometri, le termocamere e gli scanner ad
infrarossi sono quindi progettati per lavorare nella porzione dello spettro elettromagnetico
chiamata “infrarosso” e misurano la temperatura rilevando lunghezze d’onda nell’intervallo da 0,8
a 20 µm.
Tecnologie per l’analisi della combustione e il monitoraggio delle emissioni
Esperti nella progettazione, realizzazione e vendita di analizzatori di fumi per monitorare il rendimento
della combustione e le emissioni inquinanti, misurare le polveri e il particolato, per la rilevazione/
prevenzione incendi, e per controllare le condizioni manutentive delle palette di una turbina a gas.
Un importante linea di prodotti include strumentazione sia portatile che fissa di analizzatori di fumi di
combustione a camino per numerose applicazioni industriali, come le centrali elettriche, inceneritori,
cementifici, vetrerie, acciaierie e impianti petrolchimici.
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CONTROLLO E MONITORAGGIO DEI PROCESSI PRODUTTIVI
LSP-HD SCANNER A INFRAROSSI
Lo scanner LSP-HD rappresenta l’ultima generazione di prodotti Linescanner a infrarossi. Con i suoi 1000
punti di misura per linea fino alla massima velocità di scansione di 150Hz rappresenta un nuovo punto di
riferimento in termini di definizione del processo di scansione. Una connessione Ethernet diretta elimina
la necessita di un processore separato mentre l’adozione della tecnologia Power over Ethernet (PoE)
permette di avere un unico connettore Ethernet M12 industriale.
Il Linescanner LSP-HD di LAND è progettato per funzionare in condizioni di lavoro gravose e ha una
forma identica al suo predecessore LSP, così da mantenere la compatibilità con tutti gli accessori di
protezione e montaggio della precedente gamma.
APPLICAZIONI PRINCIPALI:
• Rilievo Punti Caldi - cemento (mantello del forno), nastri trasportatori, carri siluro, siviere,
accoppiamento, rivestimento, supercalandre
• Qualità della produzione - vetro float, vetro cavo, tempra, formatura, ricottura, laminatorio a caldo per
nastri, barre e tondo, colata continua, zincatura e ricottura
• Plastica - termoformatura, sigillatura imballaggi
ARC TERMOCAMERA SMART
Arc è una gamma di termocamere general purpose abbastanza robuste da resistere alle pesanti
applicazioni industriali e abbastanza compatte da essere utilizzate nei reparti Ricerca e Sviluppo e
Automazione. Tutte le camere Arc dispongono di un corpo IP65/NEMA 4X con un’ampia gamma di opzioni
configurabili. Le opzioni delle camere Arc includono due range di temperatura, quattro lenti, due modalità
di inquadratura e tre varianti di software per soddisfare tutte le esigenze degli utenti.
FTI-E TERMOCAMERA PER INSTALLAZIONE FISSA
FTI-E termocamere fisse con trasmissione delle informazioni direttamente sulla rete ethernet aziendale.
La nuova serie di termocamere FTI-E sono state progettate per l’acquisizione di immagini termiche di
processo nei più svariati settori industriali come:
• Sorveglianza ed uso generale - processi produttivi che necessitano di mappatura termica: schede
elettroniche, frigoriferi, sorveglianza depositi di combustibile, discariche, esterno di forni, inceneritori.
• Controllo della scoria riportata in siviera durante la colata da forno elettrico o convertitore ad ossigeno
in acciaieria.
• Monitoraggio delle siviere in acciaieria - controllo della consistenza del refrattario delle siviere,
che si consuma nel tempo; un software particolare consente di verificare il trend di incremento della
temperatura, fissare allarmi e programmare le azioni di manutenzione.
• Bobinatura - controllo della temperatura del nastro di alluminio durante l’avvolgimento nei laminatoi sia
a caldo che a freddo; è l’unico sistema che fornisce senza contatto il profilo termico di tutta la larghezza
del nastro, indispensabile per determinare le qualità meccaniche del prodotto.
NIR TERMOCAMERA PER INSTALLAZIONE FISSA
Termocamera radiometrica ad alta risoluzione con trasmissione dati direttamente su rete ethernet tramite
un unico cavo di collegamento. I quattro modelli permettono di coprire la gamma di temperature da
600 a 3000°C. L’alta precisione nella misura permette di effettuare un ottimale controllo dei processi
produttivi. E’ di facile installazione e semplice nell’uso, riduce in questo modo i costi di installazione e di
manutenzione in impianto.
BOROSCOPIO
Le termocamere NIR e FTI-E sono disponibili anche in versione "Boroscopio", dotate di una prolunga
dell'ottica per consentire la visione all'interno di forni, oltre lo spessore di rivestimento refrattario.
DIsponibili in tutti i campi di misura di FTI-E e NIR con varie aperture ottiche per ogni esigenza applicativa
(reformer, forni di riscaldo a gas o a induzione, inceneritori, forni per vetro).
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SISTEMI DEDICATI
SCANNER NELLA PRODUZIONE DI VETRO PIANO
E PER LA TEMPRA/CURVATURA
Oltre 60 anni di esperienza nel settore vetrario, hanno permesso a Land di rendere i propri prodotti
estremamente affidabili per la misura della temperatura: dalle linee di produzione float fino ai forni di
lavorazione (tempra e curvatura). Il sistema LANDSCAN è la perfetta soluzione alle richieste di OEM
e clienti finali di avere uno strumento di misura affidabile e perfettamente integrabile con le più svariate
tipologie di protocolli di comunicazione industriale.
Inoltre, l’abbinamento dei due sistemi Landscan e SOLOnet, fornisce una soluzione alla misura del vetro
basso emissivo nei forni di tempra.
Il sistema è costituito da testa scanner e modulo I/O collegati tramite un solo cavo e da un compatto
pirometro serie SOLOnet SN5 che, misurando la parte inferiore del vetro, permette di effettuare
un’accurata compensazione della temperatura per ottenere una corretta visualizzazione della distribuzione
di temperatura di un vetro basso emissivo.
SCANNER IN AMBIENTE SIDERURGICO
LAND produce una gamma completa di strumenti per la misura della temperatura
progettati appositamente per le applicazioni nei laminatoi. Gli strumenti sono conformi
ai più alti standard di qualità e affidabilità per assicurare misure di temperatura
estremamente accurate anche in condizioni di funzionamento gravose come quelle dei
laminatori a caldo nelle colate continue
SLAG DETECTION
(CONTROLLO SCORIA IN ACCIAIERIA)
Il sistema di rilevamento scorie è stato sviluppato utilizzando la conoscenza di Land delle applicazioni nel
settore dell’acciaio per rilevare e allarmare la quantità di scoria riportata da forno o convertitore in paniera
o siviera.
Il sistema di rilevamento scorie è progettato appositamente per resistere alle difficili condizioni di
funzionamento continuo negli impianti di produzione dell’acciaio, con un bisogno di manutenzione
minimo. Il sensore industriale per la scansione termica delle immagini è protetto in una custodia robusta,
raffreddata ad acqua e con aria di pulizia della lente, che visualizza continuamente la zona di interesse.
Appena inizia la colata il software dedicato inizia automaticamente a registrare e a produrre un grafico dei
dati rilevanti acciaio/scoria e genera un allarme al superamento della soglia prefissata.
CONTROLLO GRIGLIA PER INCREMENTO
EFFICIENZA NEI TERMOVALORIZZATORI
Un termovalorizzatore smaltisce i rifiuti riducendone la quantità da conferire in
discarica e produce energia elettrica e calore
(fino a 3 MWh di elettricità e 2 MWh di calore per tonnellata di rifiuto). I rifiuti
vengono bruciati su una griglia con apporto controllato di aria; il processo
di combustione viene monitorato dalla termocamera e le temperature del materiale
sulla griglia vengono utilizzate e integrate nel sistema di controllo per migliorare la
combustione, aumentare l’efficienza dell’impianto, controllare e ridurre l’emissione di
inquinanti, incrementare la resa producendo più energia
e calore con la stessa quantità di rifiuti.
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TERMOMETRI SPOT PER INSTALLAZIONE FISSA
SYSTEM5
Pirometro compatto e innovativo con capacità di elaborazione all’avanguardia. Le più recenti
tecnologie utilizzate rendono la misurazione della temperatura senza contatto precisa, versatile
e immediata.
System5 combina in un unico dispositivo le connessioni Ethernet, Modbus TCP e Video,
le uscite analogiche e di allarme, e le rende comodamente disponibili all’operatore. La lettura
della temperatura e i dati di configurazione sono disponibili nel display posteriore e sono
inoltre consultabili da remoto mediante un web browser o attraverso il software SPOTViewer.
Due sensori in uno – Lo stesso strumento può lavorare in funzione monocromatica, bicolore o
combinata ad ampio range di misura.
Messa a fuoco motorizzata – Messa a fuoco regolabile localmente e da remoto.
SYSTEM4 – UNO
System 4 e UNO sono una gamma completa di sistemi per il monitoraggio della temperatura senza contatto, flessibili sia nella scelta delle
prestazioni che nel costo per far fronte alle richieste di misura nel range di temperatura da 0°C a 2600°C.
Ampia scelta di sistema ottico: focalizzabile con focale standard e corta, con puntamento ottico o con fibra ottica. Il target viene identificato
da un cerchio di 6° nel campo visivo. Nella versione a fibra ottica si possono scegliere differenti teste ottiche e lunghezze della fibra, oltre al
puntamento laser. A corredo dei termometri è disponibile un’ampia gamma di accessori e processori perfettamente intercambiabili tra di loro.
CARATTERISTICHE PRINCIPALI:
• Termometri e processori completamente intercambiabili.
• Precisi, alta accuratezza della misura.
• Possibilità di scelta tra processori analogici o digitali.
• Output industriali standard.
• Vasta gamma di accessori, semplici nel montaggio.
• Tre anni di garanzia!
• Design robusto, flessibile e modulare.
EX 1 ATEX PER AREE CLASSIFICATE
La gamma di termometri EX 1 fornisce le prestazioni migliori combinate a una precisione
leader sul mercato, grazie al puntamento ottico focalizzabile e alla custodia di protezione.
La serie di strumenti EX 1 comprende i termometri industriali fissi non a contatto
certificati HAZLOC senza il bisogno di custodie ingombranti.
L’ingombro ridotto, il collegamento a sgancio rapido e I/O industriali standard
rappresentano la soluzione perfetta per le applicazioni di controllo di processo.
SOLONET
La serie SOLOnet di termometri digitali a infrarossi fornisce misurazioniaffidabili a costi
contenuti in un’ampia varietà di applicazioni di controllo di processo. Ci sono quattro
differenti tipi di termometri con scelta della lunghezza d’onda operativa, varianti delle
ottiche, allineamento laser, e range di misurazione per adattarsi all’applicazione scelta
all’interno della gamma operativa da 200 a 1750°C.
TERMOMETRI DEDICATI AD APPLICAZIONI SPECIFICHE
Misura della
temperatura
del vetro nella
produzione di
vetro piano e
vetro cavo
Misura della
temperatura
all’interno dei
forni di riscaldo
e di zincatura
Misura
dell’alluminio
durante i
processi di
laminazione ed
estrusione
Misura di
conglomerati
bituminosi
e dei gas di
combustione
negli inceneritori
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TERMOMETRI PORTATILI
C100B CON CAMPO DA 550 A 3000°C
La temperatura misurata viene visualizzata in quattro modalità simultanee: continua, picco massimo, media
e picco minimo con modalità selezionate dall’utente. Il puntamento è assicurato da un campo di visuale
chiaro ed ampio (9°) e da una zona di misurazione piccola chiaramente definita (1/3°). La messa a fuoco è
variabile da 1m a infinito, e al di sotto di 1mt utilizzando lenti ausiliarie. La compensazione dell’emissività è
fornita tramite un menu basato su icone. La banda spettrale di funzionamento è stata scelta attentamente
per minimizzare gli errori dovute a incertezza nell’emissività e agli effetti dei componenti del vapore
atmosferico. Cyclops 100B è dotato di comunicazione wireless “Bluetooth” user-friendly. Cyclops
100B è ideale per l’utilizzo in un’ampia gamma di settori e applicazioni: acciaio, vetro, materiali refrattari,
trattamenti termici, semiconduttori.
C055B SPECIFICO PER METALLI LIQUIDI
Misurazione della temperatura del metallo liquido ad alta precisione con modalità di misurazione
“Meltmaster” avanzata – Alta precisione e ripetibilità – misurazione senza deriva a lungo termine
– quattro modalità simultanee di misurazione – filtraggio spettrale avanzato per prestazioni migliorate
– elaborazione del segnale digitale – output per la registrazione dei dati
– tecnologia wireless Bluetooth – gamma di accessori opzionali – Nessuna contaminazione, interferenza
o danno al processo o al materiale – misurazione della temperatura affidabile, precisa e stabile per
aiutare il controllo della qualità del prodotto – riduce il numero di letture rispetto alle
più care termocoppie ad immersione – massimizza la produzione e l’efficienza
– funzionamento con una sola mano che permette maggiore sicurezza nei luoghi più pericolosi
– custodia termica opzionale che assicura la resistenza anche negli ambienti più ostili.
C160B CON CAMPO DA 200 A 1400°C
La temperatura misurata viene visualizzata in quattro modalità simultanee: continua, picco massimo,
media e picco minimo con modalità selezionate dall’utente. Il puntamento è assicurato da un campo
di visuale chiaro ed ampio (9°) e da una zona di misurazione piccola chiaramente definita (1/3°).
La messa a fuoco è variabile da 1m a infinito, e al di sotto di 1 mt lenti ausiliarie. La compensazione
dell’emissività è fornita tramite un menu basato su icone. La banda spettrale di funzionamento è stata
scelta attentamente per minimizzare gli errori dovute a incertezza nell’emissività e agli effetti dei
componenti del vapore atmosferico. Cyclops 160B è dotato di comunicazione wireless “Bluetooth” userfriendly. Cyclops 160B è ideale per l’utilizzo in un’ampia gamma di settori e applicazioni: acciaio - vetro
- materiali refrattari - trattamenti termici - semiconduttori – forni in vuoto – superfici degli stampi in
metallo – ceramica – laboratori ricerca e sviluppo – laboratori di taratura come standard di riferimento.
C390B SPECIFICO PER FORNI A COMBUSTIBILE
Cyclops 390B utilizza la tecnologia wireless Bluetooth per la trasmissione dei dati. La temperatura
misurata viene visualizzata in quattro modalità simultanee: continua, picco massimo, media e picco
minimo con modalità selezionate dall’utente. La messa a fuoco è variabile da 1mt a infinito.
La banda operativa (3.9um) è stata scelta attentamente poiché elimina gli errori causati dalle bande di
assorbimento/emissione presenti nei gas di combustione.
Accessori comuni a tutta la serie Cyclops:
custodia di protezione termica e alla polvere, valigetta a tenuta d’acqua, software di acquisizione dati e computer palmare per
ambienti gravosi, prolunga oculare per l’utilizzo con elmetto, lenti addizionali per ridurre il target
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ANALIZZATORE PORTATILE PER CONTROLLO EMISSIONI
LANCOM 4
Il nuovo Lancom 4 è il miglior analizzatore di
gas portatile del mondo
Il nuovo Lancom 4 è un analizzatore di gas
portatile per le applicazioni industriali. Il suo design
compatto assicura semplicità d’utilizzo sul posto
per le misurazioni dell’efficienza di combustione e
del monitoraggio delle emissioni in tutte le caldaie
e i processi con gas inquinanti.
Costruito in seguito al successo di Lancom III,
Lancom 4 rappresenta l’ultima generazione di
analizzatori di gas portatili. Ha la capacità di
monitorare fino a 9 differenti gas e un totale di 17
parametri di misurazione simultaneamente – tutto
in un unico strumento.
Lancom 4 offre la massima precisione disponibile e
una risoluzione di misurazione fino a 0.1
ppm. Ciò è possibile utilizzando un sistema di
condizionamento del campione avanzato.
Configurazione e misurazione in pochi minuti –
letture istantanee
La semplicità è incarnata nel design di Lancom
4. Accendilo, connetti la sonda di campionamento
e avrai istantaneamente letture del gas in tempo
reale.
Durata della batteria eccezionale – Creato per
funzionare tutto il giorno
La durata eccezionale della batteria è fondamentale
per un analizzatore di gas portatile. Lancom 4 ha
una doppia batteria ricaricabile per l’utilizzo fino a
8 ore continuate.
Condizionamento del campione avanzato
integrato – Misurazioni ad alta prestazione
Il condizionamento del campione fornisce
precisione e ripetibilità mai viste prima.
Tutto in un unico dispositivo portatile e leggero.
Non c’è bisogno di contenitori aggiuntivi.
Nove misurazioni simultanee del gas –
Soluzione tutto in uno
Lancom 4 ha la capacità e la flessibilità per
soddisfare tutte le esigenze di misurazione in un
unico strumento.
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SISTEMI PER MONITORAGGIO EMISSIONI A CAMINO
LAND ha una gamma di analizzatori delle emissioni a camino adatta a misurare una vasta serie di gas inquinanti. Questi analizzatori sono per
il monitoraggio delle emissioni a camino di CO, O2, NO, NO2, NOx, e CO2 nei fumi. Possono operare autonomamente, come parte di un sistema
di misurazione automatizzato (AMS) o di un sistema di monitoraggio delle emissioni continuo (CEM).
FGA900
La gamma di analizzatori FGA utilizza la tecnologia a doppio sensore per misurare i
livelli di ossido di azoto, monossido di carbonio e ossigeno nei fumi.
• Adatto a un’ampia gamma di applicazioni – fino a 3 gas in un unico analizzatore
• Non richiede competenze specialistiche per l’effettuazione della manutenzione ordinaria
• Alte prestazioni provate – tecnica di misurazione a doppio sensore, certificata TÜV e
MCerts e conforme agli standard US EPA
• Misurazione tramite calcolo degli NOx
• Installazione semplice anche all’esterno
• Opzione di taratura automatica – per un funzionamento continuo non presidiato in
conformità con le applicazioni di monitoraggio.
SME (SISTEMA MONITORAGGIO EMISSIONI)
SISTEMA DI ACQUISIZIONE ED ELABORAZIONE DATI IN CONFORMITÀ - D.L. 152 / 06
Caratteristiche:
• Acquisizione dati con frequenza programmabile
Visualizzazione dei dati acquisiti ed elaborati dal sistema su pagine grafiche di
immediata lettura e personalizzabili per impianto
• Registrazione dati con capacità di mantenere in archivio almeno 20 anni di dati.
• Visualizzazione e stampa per ogni parametro di dati elementari, medie del minuto,
medie semiorarie, medie orarie, medie giornaliere, massimi e minimi giornalieri,
media di 48 ore, medie mensili, medie settimanali, medie annuali,
storico allarmi e report di calibrazione.
• Messaggi di allarme ottici/acustici al raggiungimento
di soglie e per eventi configurati come livello “grave”
• Gestione completa utenti con possibilità di accesso a vari livelli per:
amministrazione sistema, configurazione sistema, visualizzazione dati
• Possibilità di impostare la stampa in automatico
di uno o più report disponibili nel sistema.
• Emissione file in formato ASCII ed in formato Excel per ogni parametro di dati
istantanei, medie minuto, medie semiorarie, medie orarie, medie giornaliere,
massimi giornalieri su un qualsiasi periodo di tempo selezionato.
• Condivisione dei files dati e report in rete Ethernet
per esportazioni ed elaborazioni con altri programmi applicativi.
• Possibilità di configurare l’acquisizione dei dati
dallo stesso sistema per più linee di analisi (multistream).
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MISURATORI OPACITÀ E POLVERI
LAND ha la gamma più avanzata sul mercato di dispositivi di monitoraggio delle polveri e del particolato nei fumi,
che utilizza la tecnologia di misurazione brevettata per una precisione elevata. Gli analizzatori (che comprendono un
trasmettitore e un riflettore) vengono montati sul camino, la tecnica di misurazione ottica non utilizza parti mobili, dando una
più elevata affidabilità con una bassa necessità di manutenzione.
SERIE 4500
Questi dispositivi per il monitoraggio sono conformi ad un’ampia gamma
di standard incluse l’US-EPA, l’inglese MCerts e la tedesca TÜV.
4500 MKIII
Il modello 4500 MKIII di LAND ha azzerato lo standard del settore
nella misurazione della concentrazione delle polveri e dell’opacità.
Combinando le caratteristiche uniche di tre tecnologie brevettate, il
4500MKIII raggiunge le massime specifiche disponibili per i principali
parametri di prestazione come definito dallo standard internazionale
ASTM D 6216-07. Lo strumento è conforme con lo standard QAL1
4200
Il modello 4200 è un dispositivo compatto di monitoraggio dei
fumi, delle polveri e del particolato per misurare le concentrazioni
dell’emissione di polveri nei processi industriali dove non è richiesta
certificazione. Questo dispositivo per il monitoraggio delle polveri
è adatto anche ad impianti dove i processi confluiscono in camini
comuni.
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MONITORAGGIO EFFICIENZA DELLA COMBUSTIONE
LAND ha una gamma di analizzatori di gas adatti per il monitoraggio e il controllo della combustione delle caldaie. Il
monitoraggio serrato di ossigeno, monossido di carbonio e della temperatura del punto di rugiada dell’acido solforico
possono aiutare a migliorare l’efficienza di combustione, a ridurre l’eccesso di aria, le perdite di energia e a prevenire la
corrosione degli impianti dovuta alla formazione di acido solforico.
SERIE 9000 CO MONITOR
La serie di dispositivi per il monitoraggio a infrarossi in loco del
monossido di carbonio fornisce elevata precisione e affidabilità, unite
a installazione e configurazione semplici ed è adatta per un’ampia
gamma di applicazioni di monitoraggio dell’efficienza di combustione
industriale. Questo dispositivo per il monitoraggio del monossido
di carbonio è progettato per fornire all’operatore una risposta di
misurazione veloce, essenziale per un controllo della combustione
efficiente di qualsiasi caldaia.
Genesis WDG
Una gamma completa di analizzatori di ossigeno presente nei gas di
scarico per tutte le applicazioni. Genesis WDG è una gamma di
analizzatori di ossigeno presente nei fumi sviluppato appositamente
per l’analisi della combustione e le applicazioni di controllo. La
flessibilità impareggiabile e la sua semplicità d’uso permettono alla
gamma di strumenti Genesis WDG di soddisfare tutte le esigenze
di processo. La gamma di analizzatori di ossigeno per applicazioni
general purpose include sonde di misurazione in situ per un ampio
range di temperature dei fumi (0-675°C / 32-1250°F), unità di
controllo remote e locali e un’unità di calibrazione automatica.
CEMS
LAND ha un’esperienza imbattibile nel fornire sistemi di monitoraggio
delle emissioni continui (CEM Systems) per soddisfare i requisiti dei
clienti. Lunghe partnership di successo sono state stabilite con
imprenditori e utilizzatori finali in tutto il mondo.
Tutte le applicazioni sono considerate su base individuale, con ogni
soluzione progettata e documentata per soddisfare le specifiche
esigenze del progetto.
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MONITORAGGIO TERMICO REFRATTARI E ISOLANTI
Quando nei processi industriali vengono utilizzati vessel rivestiti di materiale refrattario, è di fondamentale importanza verificarne l’integrità
strutturale. In caso di cedimento dei refrattari i gas e i materiali fusi entrano in contatto e danneggiano il mantello esterno del reattore. Se non
si interviene rapidamente la situazione può degenerare fino a provocare danni catastrofici.
Un team di ingegneri di comprovata esperienza in campo applicativo è in grado di offrire soluzioni personalizzate anche in casi di esigenze
particolarmente complesse.
Monitoraggio Gassificatori
Il sistema brevettato da LAND rappresenta ad oggi uno degli
strumenti più efficaci ed affidabili per il monitoraggio dei reattori nella
produzione di Syngas.Grazie all'utilizzo delle nuove termocamere
"smart", il sistema è in grado di lavorare in modo continuo e del tutto
autonomo.
Tra le principali caratteristiche ne elenchiamo l'elevato grado di
risoluzione, in grado di individuare la minima anomalia, l'attitudine
a lavorare in ambienti particolarmente ostili e il bassissimo grado di
manutenzione richiesto.
Sistema certificato ATEX, IECEx
Monitoraggio dei carri siluro
Il carro siluro è rivestito internamente di materiale refrattario
protettivo. Con il continuo utilizzo il refrattario può diventare molto
sottile e il calore del metallo fuso può riscaldare il mantello esterno
fino a perforarlo. La scansione continua della temperatura consente di
individuare i punti in cui il refrattario è maggiormente danneggiato. In
questo modo è possibile ridurre i danni, programmare gli interventi di
manutenzione e aumentare l'efficienza dell'impianto.
Sistema di monitoraggio refrattari siviere
L’uso delle siviere per il trasporto della ghisa e dell'acciaio fuso è
una pratica comune nelle acciaierie di tutto il mondo. Con il passare
del tempo, le condizioni del refrattario peggiorano gradualmente.
Il sistema di monitoraggio Land, interfacciando più termocamere,
è in grado di verificare le condizioni delle siviere mentre le stesse
effettuano il normale trasferimento del metallo fuso durante la
produzione. Ogni stazione può utilizzare da 1 a 5 termocamere. Ciò
garantisce la massima copertura nel controllo del mantello esterno.
Le immagini termiche e i dati di temperatura correlati ad ogni
singola siviera possono essere archiviati. L'analisi dei dati archiviati
permette di valutare i gradi di usura nel tempo consentendo una
pianificazione preventiva degli interventi di manutenzione.
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PROTEZIONE DEI BENI E DEGLI IMPIANTI (ASSET MANAGEMENT)
MONITORAGGIO INCENDI AREE SENSIBILI
Parchi forestali, discariche, siti di stoccaggio di materiale infiammabile; un rapido
intervento di contenimento può limitare i danni provocati dal fuoco e in alcuni casi la
combustione di sostanze tossiche.
Land offre soluzioni personalizzate per il controllo e la prevenzione incendi per tutte
quelle aree considerate a rischio.
MONITORAGGIO DEL PUNTO DI RUGIADA ACIDO
La formazione di acido solforico nelle condotte di scarico dei fumi esausti di
combustione è direttamente proporzionale ad un aumento della manutenzione e ad una
riduzione dell'efficienza dell'impianto.
Gli analizzatori Land sono stati progettati in modo specifico per consentire una rapida
misura del punto di rugiada acido consentendo all’utente di migliorare l’efficienza,
proteggere l’impianto dalla corrosione e valutare le misure correttive da adottare.
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PROTEZIONE DEGLI IMPIANTI
RILEVAMENTO INCENDI DEL CARBON COKE
Le attività di trattamento del Carbon Coke comportano un elevato rischio di combustione spontanea.Questo tipo di materiale infatti non si
incendia direttamente se esposto ad una fiamma ma, in alcuni casi, può ossidarsi e dare luogo a fenomeni di autocombustione. Esistono
molte linee guida nel settore per regolarne i metodi di stoccaggio e la lavorazione, ma anche il rispetto di queste procedure può non essere
sufficiente. L'individuazione precoce di un incendio è vitale per il funzionamento sicuro ed efficiente di qualsiasi impianto
LAND offre una gamma di prodotti per la prevenzione degli incendi basata sulla migliore tecnologia di monitoraggio disponibile. Le
applicazioni includono sistemi dedicati per il trasporto (nastri trasportatori), per la macinazione e l’immagazzinamento.
Rilevamento degli incendi nei parchi di stoccaggio
Il dispositivo di monitoraggio incendi per i banchi di carbone funziona
in continuo e in modo totalmente automatico. Il sistema permette
una chiara visualizzazione degli "hot spot" presenti su tutta l'area di
stoccaggio. Segnali di allarme a più livelli avvisano prontamente il
personale in caso si verifichino situazioni di rischio.
Sistema certificato ATEX, IECEx
Prevenzione degli incendi nei mulini di macinazione e nei silos
Questo dispositivo è appositamente progettato per rilevare la rapida
formazione di monossido di carbonio all’interno dei mulini e dei silos.
Il sistema effettua un monitoraggio in continuo e rispondere
velocemente alle variazioni dei livelli di CO causati dalla combustione.
Ciò permette all’operatore di intervenire rapidamente prima che
la situazione possa provocare incidenti agli operatori e danni
all'impianto.
Rilevamento degli incendi per nastri trasportatori
Il sistema è costituito da uno Scanner I.R. in grado di effettuare un
monitoraggio su tutta la sezione del nastro trasportatore.L'elevata
velocità di scansione lo rende particolarmente adatto al controllo
degli "hot spot" su materiali in movimento. Quando viene
individuato un punto con temperatura anomala, il dispositivo invia
istantaneamente un segnale di allarme alla sala controllo.
Sistema certificato ATEX, IECEx
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ASSISTENZA E SUPPORTO TECNICO
Certificazioni UKAS
Il laboratorio di calibrazione UKAS di Land Instruments International
fornisce un servizio completo ed un supporto di qualità per la
calibrazione degli strumenti per la misura della temperatura ad
infrarossi.
Creato nel 1970, è stato il primo laboratorio inglese ad ottenere
l’accreditamento per l’emissione di certificati di calibrazione per le
misure termiche.
Il laboratorio offre un servizio completo per la taratura termometri
a radiazione, termocamere,termocoppie e forni di calibrazione a
corpo nero.
Rapporti di comparazione e manutenzione programmata
Verifica, check funzionale, controllo dell’accuratezza della misura dei Vs.
strumenti e dei loro accessori concordata con i Vs. tecnici.
Ogni strumento analizzato verrà corredato da un Rapporto di
Comparazione ovvero la verifica della corretta lettura del Vs strumento
su forni di calibrazione a corpo nero, comparato con i nostri campioni
primari con certificazione UKAS in corso di validità.
Tutte le operazioni di verifica e manutenzione dei vostri strumenti
vengono effettuate presso i nostri laboratori italiani da tecnici di 2° livello
specializzati nella tecnica di Pirometria e Termografia, accreditati EN 473
(qualifica e certificazione europea del personale addetto alle prove non
distruttive)
Forni di calibrazione e Sorgenti a Corpo Nero
Per avere l’immediata certezza della corretta lettura dei vostri
strumenti, LAND offre una gamma completa di forni con cavità a
corpo nero da utilizzare come sorgenti per la taratura e la verifica
dell’accuratezza di misura, nonchè termometri
portatili certificati UKAS con risoluzione 0,1°C.
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SOLUZIONI
PERSONALIZZATE
AVVIAMENTO VERIFICHE
MANUTENZIONE RIPARAZIONE
Oltre alla gamma di prodotti standard vengono progettate
da LAND soluzioni per l’analisi termica e dispositivi di
monitoraggio dei gas per soddisfare i particolari requisiti di
diverse tipologie di impianto, processo o applicazione.
Le soluzioni personalizzate costituiscono, generalmente, la
modifica di un prodotto standard (una range di misura più
elevato o più basso, la creazione di custodie dedicate per
zone particolarmente pericolose ecc…) o la progettazione di
sistemi di monitoraggio continuo delle emissioni (SME).
La registrazione e l'analisi dei dati misurati secondo un
formato già in uso dal cliente o regolato da uno stardard.
Tutti i più recenti standard, come la EN 14181 vengono
strettamente monitorati dal ns team di progettazione per
assicurare che i dati forniti dai nostri strumenti soddisfino i
requisiti necessari.
Tutte le richieste di soluzioni personalizzate che pervengono
al nostro ufficio progettazione sono studiate considerando
qualsiasi potenziale problematica dovuta al tipo di applicazione
o di settore.
Land mette a disposizione servizi per fornire una
completa assistenza post vendita e aiutare i clienti ad
ottenere le migliori performance di misura.
Questi includono la certificazione UKAS (United Kingdom
Accreditation Service) servizio di taratura accreditato in
Inghilterra ed il NIST (National Institute of Standards and
Technology) laboratorio di taratura presente negli Stati
Uniti completo di centro di riparazione.
I laboratori di taratura LAND inglese e americano sono
entrambi conformi allo standard internazionale
ISO 17025. Oltre al servizio di riparazione e
manutenzione interna che offrono i nostri laboratori,
LAND offre servizi di avviamento e taratura on-site
mediante l’utilizzo di campioni primari e forni di
calibrazione a corpo nero.
Il nostro servizio di assistenza tecnica include inoltre la
riparazione degli strumenti con rilascio del rapporto di
conformità e il service termografico per la manutenzione
preventiva e predittiva degli impianti corredata da una
relazione con elaborazione delle immagini termiche e
indicazione dei punti critici.
Tutte le analisi, le verifiche e le manutenzioni vengono
effettuate da nostri tecnici di 2° livello specializzati nella
tecnica di pirometria e termografia, accreditati EN 473.
La progettazione di soluzioni personalizzate include
normalmente i seguenti passaggi:
• Progetto del sistema
• Approvazione del progetto
• Fabbricazione
• Test
• Accettazione di fabbrica
• Documentazione
• Imballaggio e spedizione
Un team speciale di ingegneri fornirà i dettagli di pianificazione
del progetto. Il piano strutturato coinvolgerà:
• Considerazioni sulla normative di sicurezza locale
• Installazione
• Messa in servizio
• Verifica del corretto funzionamento del sistema
• Misurazione e taratura
• Manutenzione
• Requisiti di assistenza
• Certificazione
• Parti di ricambio e materiali di consumo
• Formazione
TRAINING
Formazione On line
I corsi di formazione on line offrono ai clienti una
panoramica sulle nozioni di base della teoria a infrarossi
e del funzionamento di un pirometro, del monitoraggio
delle emissioni e del funzionamento degli analizzatori.
Per accedere al sistema di formazione on line è
necessario registrarsi sul sito www.landinst.com.
Formazione in Land
Il know-how applicativo è così importante per i
nostri clienti che LAND ha predisposto un servizio di
formazione completa per i propri tecnici dedicata a
trasmettere l’esperienza acquisita da oltre 60 anni
in tutto il mondo. La formazione sul monitoraggio
ambientale e della combustione comprende sia la
strumentazione standard sia le applicazioni della nostra
gamma di prodotti portatili per i gas e le polveri. La
formazione sull’infrarosso comprende non solo la teoria
degli infrarossi ma anche l’applicazione dei termometri
a infrarossi in un’ampia gamma di settori e processi di
produzione.
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Gentili clienti,
la protezione dalle radiazioni, il controllo e la sicurezza di tutte le fasi legate alla realizzazione, gestione e lo smantellamento
delle centrali nucleari, e in generale, la gestione delle scorie radioattive sono diventati sempre più importanti in un mondo
in evoluzione che richiede maggiore impegno per la salute degli uomini e del pianeta.
La strumentazione prodotta da ORTEC per le applicazioni nella ricerca scientifica, nell’industria nucleare, per la
sicurezza nazionale e mondiale, risponde a questo bisogno.
Laboratori di radiochimica di istituti universitari, aziende alimentari, analisi delle acque, ospedali, enti governativi
nazionali e regionali: gli strumenti ORTEC sono utilizzati per i più importanti aspetti della nostra vita e sono in grado di
prendersi cura di noi da oltre 50 anni.
Vi offriamo più di 1600 prodotti high-tech per la migliore ricerca in campo scientifico e industriale e per la sicurezza
delle nostre società e della popolazione (anti-terrorismo, misurazione della radioattività dei siti umani, analisi di matrici
alimentari, ecc...).
In questo catalogo troverete tutti i nostri prodotti, frutto di un’approfondita ricerca e di una costante attenzione alla qualità
e all’avanguardia tecnologica.
Saluti cordiali.
Vittorio Moroni
Sales Manager
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Ametek S.r.l. Divisione AMT, attraverso la propria casa produttrice AMETEK INC ORTEC, situata a
Oak Ridge, Tennessee (USA), produce sistemi avanzati di spettrometria nucleare (alfa e gamma) per
centrali nucleari, centri per la salvaguardia nucleare (JRC-Ispra), centri di ricerca di base in fisica
del nucleo (INFN, CNR, Università), ARPA, ENEA, Ospedali (Fisica Sanitaria), aziende private (Alenia,
Fiat), Esperti Qualificati.
Da oltre 50 anni ORTEC è leader nella progettazione e realizzazione di strumentazione per la
rivelazione di radiazioni ionizzanti per mezzo di rivelatori a stato solido ed elettronica avanzata per il
processamento dei segnali.
I prodotti ORTEC sono impiegati in numerose applicazioni sperimentali con soluzioni “chiavi in mano”
quali: sistemi per laboratori di radiochimica, analisi di matrici alimentari, analisi delle acque, misure
di contaminazione interna (Whole Body Counters), caratterizzazione di rifiuti nucleari, controllo della
purezza dei radiofarmaci, analisi di elementi in traccia “Neutron Activation Analysis”, ecc.
ORTEC fu fondata nel 1960, da un gruppo di ricercatori del Oak Ridge National Laboratory, esperti
nell’ambito dei rivelatori al Silicio a barriera superficiale utilizzati per misure di particelle cariche,
con l’intento di soddisfare le esigenze del mercato crescente nel settore della ricerca scientifica
nucleare, attraverso lo sviluppo di prodotti innovativi riguardanti i rivelatori a semiconduttore e
l’elettronica per l’elaborazione e il processamento del segnale.
Attualmente la linea di prodotti ORTEC comprende più di 1600 prodotti, tra strumenti e sistemi,
per misure radiometriche nelle Centrali Nucleari, per l’identificazione degli SNM (Special Nuclear
Material), per misure in ambito radioprotezionistico e per esperimenti di fisica nucleare.
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La strumentazione sviluppata da ORTEC utilizza tecnologia High-Tech e viene utilizzata per esperimenti
in ambito scientifico per gli studi della struttura della materia e della fisica dell’atomo, per ricerche di
fisica applicata e biomedica e nel settore industriale per analisi non distruttive dei materiali.
Nel settore HLS (Homeland Security) ORTEC si è specializzata nella progettazione e realizzazione
di sistemi completi di monitoraggio e identificazione di radionuclidi, del traffico veicolare mediante
rivelatori al germanio iperpuro raffreddato elettricamente montati su portali. Tre sistemi di questo
tipo sono stati forniti e installati al Ministero della Sicurezza Nazionale degli Stati Uniti negli anni
2005-2006. I sistemi hanno lo scopo di monitorare passeggeri e containers per sorvegliare potenziali
trasporti illeciti di materiali radioattivi utilizzati per produrre bombe sporche e/o ordigni nucleari. I
sistemi consistono in un array di rivelatori al germanio iperpuro integrati e alcune tecniche innovative
di processamento dati da emettitori gamma e neutroni che possono essere irradiati da individui,
veicoli o containers. I sistemi sono in grado di determinare, con i veicoli in movimento, se un allarme
è dovuto a radionuclidi naturali, radiofarmaci oppure se è dovuto a materiale pericoloso.
I sistemi ORTEC rappresentano una sostanziale innovazione rispetto alle tecnologie esistenti in
quanto sono in grado di identificare e quantificare la presenza di radionuclidi.
La Divisione AMT è anche distributrice esclusiva dei prodotti Berthold Technologies GmbH Divisione Radioprotezione di Bad Wildbad, (Germania), azienda che produce sistemi e monitor per la
radioprotezione: monitor per la misura della contaminazione superficiale, misuratori di rateo di dose,
sistemi di monitoraggio in continuo della radioattività, monitor per la misura della contaminazione
personale, sistemi di misura del tritio, iodio e gas nobili in aria, sistemi di misura della radioattività
alfa-beta a basso fondo.
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NELL’ANALISI AMBIENTALE
CON SISTEMI DI SPETTROMETRIA GAMMA
• Rivelatori HpGe ottimizzati al tipo di applicazione
• Raffreddamento X-cooler- III elettrico affidabile,
a basso costo e di dimensioni e peso contenuti
• Elettronica digitale con soppressione dei rumori
• Software GammaVision / Angle / Isotopic
• Sistemi fissi e portatili con rivelatori NaI(Tl)
• Base integrata digiBASE con ADC e HV
• Software Scinti Vision
ORTEC LDM-1
LA NUOVA FRONTIERA DEI SISTEMI DI SPETTROMETRIA GAMMA
Con la produzione della famiglia DETECTIVE, che rappresenta
l’insieme dei sistemi di identificazione portatili con rivelatore al
Germanio iperpuro raffreddato elettricamente a batterie, ORTEC ha
riscosso un indiscutibile successo su scala internazionale.
Sulla base di questa esperienza, maturata nell’ultimo decennio,
ORTEC introduce il modello LDM-1: un sistema di spettrometria
gamma completo e totalmente integrato, concepito per le analisi di
routine nei laboratori di conteggio.
Lo sviluppo continuo di nuovi sistemi di raffreddamento elettrico,
nel quale ORTEC si sta cimentando da parecchi anni con l’intento di
progettare soluzioni sempre più affidabili in termini di performance
e durata (es. l’introduzione di nuovi prodotti come XCooler-III e IDM200), ha consentito la realizzazione di questo nuovo sistema integrato.
LDM-1 include in un unico corpo compatto e ridotto un sistema
di spettrometria gamma HpGe ad alta risoluzione, raffreddato
elettricamente, che richiede la sola connessione di due cavi:
l’alimentazione elettrica di rete e il cavo USB di interfaccia al personal
computer; in tal modo l’installazione e l’uso del sistema diventano
veramente semplici e immediati. L’impiego di LDM-1 spazia
dalle applicazioni convenzionali dei laboratori di conteggio (fisica
ambientale e sanitaria, radiochimica e radiofarmaci) a quelle dei
laboratori su mezzo mobile (analisi in situ).
vincolo di effettuare cicli termici completi, in caso di riscaldamenti
parziali del cristallo dovuti ad improvvise mancanze di alimentazione
elettrica.
Il cuore di LDM-1 è costituito da un cristallo di Germanio iperpuro
tipo “P” di efficienza relativa 40%, con un supporto orientabile a
360° senza problemi di movimento di fluidi di raffreddamento, in
quanto il cooler utilizzato ne è del tutto privo. Il sistema è inoltre
dotato di un set di batterie ricaricabili, che consente un’autonomia di
funzionamento di quattro ore in caso di black-out della rete elettrica.
E’ prevista come opzione un set di batterie esterne che consente di
estendere l’autonomia fino a 18 ore di funzionamento in continuo
senza alcuna interruzione del conteggio. In questo modo è possibile
evitare la dotazione di un sistema UPS di intervento per mancanza di
alimentazione.
L’elettronica di processamento del segnale si basa sulla ormai
collaudata tecnologia digitale DSP, accoppiata al filtro di abbattimento
dei rumori a basse frequenze LFR e un cooler di raffreddamento
miniaturizzato, funzionante con ciclo termodinamico di Stirling. Questo
tipo di tecnologia, oltre ad aver consentito di abbattere le dimensioni,
la rumorosità acustica e il carico di potenza richiesta (< 30 Watt),
ha portato alla realizzazione di un criostato speciale che abolisce il
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LDM-1 è ovviamente compatibile con tutti i software di acquisizione
e analisi ORTEC della famiglia Connection-32, quali su tutti Maestro
e GammaVision.
Elenchiamo le principali caratteristiche del sistema:
• Rivelatore HpGe coassiale tipo “P” 65mm (d) x 50mm (s)
• Efficienza relativa: 40% (ANSI / IEEE 325-1996)
• Risoluzione caratteristica: 2,3keV @ 1332,5 keV
• Range energetico: 40 keV – 7 MeV
• Sistema di raffreddamento: elettrico minicooler a ciclo di Stirling,
con criostato speciale di raffreddamento.
• Sistema di acquisizione integrato nello strumento con elettronica
digitale tipo DSP e filtro LFR, comprendente alimetazione HV,
Preamplificatore, Amplificatore e ADC.
• Controllo di tutti i parametri hardware direttamente da PC
• Pacco batterie ricaricabili incorporato nello strumento, con
autonomia 4 ore.
• Alimentazione da rete elettrica, con trasformatore incorporato
10-17V dc, 30W.
• Comunicazione con PC tramite USB 2.0
• Dimensioni: LDM 64 x 16 x 16 cm Supporto: 78cm
• Peso: LDM 7 Kg Supporto: 7 Kg
Per ulteriori informazioni vi invitiamo a contattare il nostro ufficio
commerciale
ORTEC MOBIUS RECYCLER
INNOVATIVO SISTEMA CRIOGENICO
Con la recente acquisizione da parte di AMETEK dell’azienda
SUNPOWER®, leader nel settore dei sistemi di raffreddamento
elettrico, continua da parte di ORTEC il grosso sforzo teso a migliorare
i propri sistemi di criogenia per l’ottimale utilizzo dei rivelatori al
Germanio iperpuro impiegati in spettrometria gamma.
Forti di questo nuovo know-how acquisito, ORTEC introduce il
modello MOBIUS Recycler: un sistema di raffreddamento ad Azoto
liquido convenzionale combinato ad un cooler elettrico che, agendo
sui vapori di condensa del primo, garantisce un elevato risparmio nei
consumi di Azoto durante la normale routine di utilizzo.
MOBIUS Recycler è costituito da uno speciale dewar di contenimento
dell’azoto liquido da 28 litri, integrato all’innovativo cooler Sunpower
CryoTel ®. Il cryocooler consente di condensare l'azoto presente
in fase di vapore nella parte alta del dewar, garantendo quindi un
cospicuo risparmio sui consumi e sull’approvvigionamento nel tempo.
In caso di temporanea mancanza di corrente elettrica, il cryocooler è
disabilitato e MOBIUS continuerà il raffreddamento del rivelatore HpGe
come un normale dewar standard.
Un sistema di pressurizzazione controllato da PC mantiene la
pressione fissa all’interno del dewar nello spazio dell’azoto in fase di
vapore a 3,45 kPa. Un trasduttore comunica la pressione nel dewar
al computer il quale gestisce il lavoro di ricondensa del Sunpower
Cryotel, che riporta l’azoto in fase liquida.
Questa tecnologia combinata consente di disporre nel proprio
laboratorio di conteggio di un sistema che racchiude tutti gli aspetti
positivi del raffreddamento convenzionale ad azoto liquido, ma con il
grande vantaggio che gli intervalli temporali di rabbocco del dewar si
estendono ad una periodicità BIENNALE.
MOBIUS Recycler rappresenta quindi un valido sistema per gestire al
meglio i consumi e i costi relativi all’approvvigionamento dell’ azoto,
in particolar modo nei laboratori di conteggio dove il suo impiego è
diffuso ed esteso a più catene di spettrometria gamma.
Elenchiamo le principali caratteristiche del sistema:
• Dewar di contenimento per Azoto liquido capacità 28 litri.
• Tecnologia Sunpower CryoTel ® con sistema antivibrazione.
• Display remoto integrato di lettura dei parametri di sistema.
• Possibilità di controllo direttamente da PC Windows.
• Rumorosità acustica < 60 dB (A) a 1 metro di distanza.
• Dimensioni: 66 (h) x 44 (Ø) cm
• Operatività 0-40°C, 20-90% umidità relativa.
Per ulteriori informazioni vi invitiamo a contattare il nostro ufficio
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GAMMAVISION 7
UNA NUOVA PAGINA NELLA STORIA DEI SOFTWARE DI ANALISI ORTEC
Dopo dieci anni e nove versioni periodiche di upgrade, la storia del software GammaVision 6 si conclude per lasciare spazio ad una nuova
release. ORTEC immette sul mercato GammaVision 7, una versione innovativa che introduce il nostro software per spettrometria gamma con
rivelatori HpGe nell’ambiente dei sistemi operativi a 64bit.
GammaVision 7 si muove nel solco della tradizione, mantenendo inalterata l’interfaccia grafica e il layout principale, che da sempre
contraddistinguono il nostro software per semplicità di utilizzo e immediatezza di approccio. Dietro al velo della forma si celano però importanti
novità di sostanza, che rendono GammaVision 7 uno strumento analitico ancora più potente e affidabile, per le complesse analisi che la
disciplina spettrometrica richiede.
Illustriamo le principali novità introdotte in GammaVision 7.
• Windows 7 – 64bit. GammaVision è da ora totalmente compatibile
con la versione a 64 bit del sistema operativo Microsoft® Windows 7.
• Peak Background Correction (PBC). La funzione di sottrazione del
fondo PBC è stata rivista, in modo tale che non sia più obbligatorio
associare ad uno specifico nuclide il contributo da sottrarre – ad
una data energia – ad un campione in fase di analisi. Sarà in oltre
possibile stampare la tabella PBC per esplicitare tutti i contributi
contenuti nel file associato.
• Report di QA. Il report di analisi di un campione di riferimento in
fase di controllo qualità (QA) è stato migliorato nel formato e nella
presentazione dei risultati ottenuti.
• Immagini spettri acquisiti. Gli spettri acquisiti e salvati potranno
essere esportati in formato immagine BMP/JPG per necessità di tipo
grafico o di visualizzazione.
• Incertezze. Possibilità da parte dell’utilizzatore di inserire ulteriori
campi addizionali nella definizione dell’incertezza totale di analisi.
• List Mode. Aggiunta della funzione List Mode per il salvataggio in
un file sequenziale di acquisizioni istantanee e ripetitive nel tempo.
• Peak Info. La funzione Peak Info di visualizzazione immediata
delle informazioni spettrali è stata implementata e migliorata nella
visualizzazione e nella precisione delle informazioni fornite (FWHM,
Net/Gross area, etc).
• JOB Files. Aggiunta di OTTO nuovi comandi e funzioni disponibili
per la creazione di routines automatiche attraverso i Job Files.
• Report Writer. Il software di supporto per la creazione di report
personalizzati Report Writer è stato migliorato e adattato alla nuova
versione di GammaVision 7.
• ISO/DIS – 11929. L’opzione di generazione del report di analisi
compatibile con lo standard ISO/DIS – 11929 è stata ampliata con
l’aggiunta di nuove funzioni e variabili.
• Correzione TCC. Il metodo di correzione per Effetto Somma (TCC)
è stato rivisto, con la possibilità di un maggiore intervento da parte
dell’utilizzatore nel definire i parametri di ingresso e la possibilità di
utilizzare direttamente librerie in formato GammaVision (.lib).
• Calibrazioni. Gli algoritmi di fit nelle procedure di calibrazione
in Energia ed Efficienza sono stati implementati e migliorati
nell’accuratezza di calcolo soprattutto in presenza di picchi a bassa
statistica.
Siamo fermamente convinti di poter fornire ai nostri clienti, con
l’introduzione di Gammavision 7, un rinnovato strumento di analisi
ancora più robusto e affidabile.
Vi invitiamo a contattarci per qualunque informazione aggiuntiva.
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NELLA SICUREZZA NAZIONALE
E NELLA RICERCA DI SORGENTI ORFANE
“Famiglia Detective” più strumenti in uno:
• Identificatore di radionuclidi in tempo reale
• Misuratore di dose
• Spettrometro gamma con GPS
• Contatore di neutroni
Soluzioni modulari con IDM-200:
• Portali con HpGe per veicoli, treni, navi, persone
•Sistemi a portale trasportabili con HpGe
•Sistemi di ricerca aerei per mappature
IDM-200
IL NUOVO HPGE MODULARE PER APPLICAZIONI INDUSTRIALI
Nel 2007 ORTEC lanciò sul mercato IDM - Interchangeable Detector
Module - il primo sistema di spettrometria gamma HpGe per scopi
industriali: modulare, integrato e raffreddato elettricamente.
Oggi ORTEC introduce il modello IDM-200-P, il nuovo sistema basato
sulla medesima tecnologia dei modelli precedenti ma con l’utilizzo
di un nuovo cooler di raffreddamento, che garantisce una maggiore
affidabilità ed un minor consumo energetico, oltre a
svariate migliorie strutturali.
IDM-200-P riveste un ruolo fondamentale per tutti quegli scopi
industriali che richiedano sistemi di identificazione ad alta risoluzione,
come ad esempio: portali veicolari in siti transfrontalieri, box-counter
ad elevata sensibilità, sistemi complessi di misura tipo TGS.
Ecco le principali caratteristiche di IDM-200-P:
• Rivelatore HpGe coassiale tipo “P” di grosso volume:
85mm diametro x 30mm spessore – 50% efficienza relativa.
• Sistema di raffreddamento elettrico a ciclo di Stirling con consumo
inferiore a 2A e alimentazione 10-17V DC.
• Pacco batterie interno con autonomia di 3 ore.
• Elettronica integrata con amplificatore a filtro digitale DSP.
• ADC 16k canali
• Temperatura di utilizzo -10°C +50°C Umidità 95%
• Connessione con PC tramite USB 2.0
• Indicatore luminoso di stato (Ready / Not Ready)
• Input disponibili per segnali TTL in ingresso, sincronizzabili con
l’acquisizione spettrale.
• Fedele alle specifiche ANSI N42.38.
• Dimensioni: 41 cm L x 34 cm P x 21 cm H Peso: 17Kg
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MICRO-DETECTIVE
La qualità di uno spettrometro HPGe di laboratorio in uno strumento
conveniente per misure in campo.
Sorprendentemente leggero: 15 lb (6.8 kg).
Lo strumento è resistente all'umidità in presenza di condensa e alla
polvere
Alta sensibilità - Dimensione del rivelatore HpGe: 50 mmx 30 mm
Alta stabilità - Elettronica digitale.
Chiaro e luminoso - Display VGA con schermo sensibile al tocco
dell'operatore.
Identificazione automatica di radionuclidi classificati in diverse classi.
USB 2.0 e wireless 802.11, GPS e scheda di memoria SD per gli
spettri acquisiti.
Flessibile - una vasta scelta di modalità di alimentazione: batteria
interna ed esterna, ricaricabile in automobile, alimentazione a rete
elettrica.
Raffreddamento elettrico mediante mini-cooler a ciclo di Stirling che
elimina la necessità dell'azoto liquido.
TRANS-SPEC-DX-100T
Spettrometria gamma in loco con Germanio iperpuro (HPGe),
strumento digitale alimentato a batteria.
Ciclo di raffreddamento Stirling in miniatura, a funzionamento continuo
e ad alta efficienza.
Alta sensibilità – rilevatore di grandi dimensioni HPGe (> 40% di
efficienza relativa).
Alta stabilità.
Chiaro e luminoso - display con risoluzione VGA, touch screen
sensibile al tocco dell’operatore.
Pacchetto integrato “All-in-one” - Robusto e compatto, facile da
installare e da avviare.
Rapido - Identificazione di radionuclidi mediante libreria e calcolo
attività.
USB 2.0 e Wireless 802.11, GPS integrato, e input/output digitali
(SDIO), archiviazione degli spettri acquisiti.
Flessibile - Possono essere utilizzati diversi tipi di alimentazione,
comprese la batteria interna, la batteria supplementare esterna,
l’alimentazione da automobile (qualsiasi12 V cc) e l'alimentazione da
rete elettrica.
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SPETTROSCOPIA ALFA
SPETTROMETRI ALPHA “ALPHA SUITE”
Alpha Duo
Compatto, Spettrometro alfa a due canali da banco.
Analizzatore multicanale a processamento digitale controllato dacomputer.
Connettività USB.
Alpha Ensemble
Spettrometro alfa fino ad otto canali da banco o montato su rack.
Analizzatore multicanale a processamento digitale fino a otto canali.
Espandibilità del sistema a due canali.
Connettività USB.
Alpha Aria
Spettrometro alfa a canale singolo.
Include analizzatore multicanale MCA digitale integrato.
Modulo NIM a due posti.
Facilmente integrabile ai moduli NIM esistenti.
Controllo del vuoto manuale.
Connettività USB
ORTEC ALPHA MEGA
UN SISTEMA DI SPETTROMETRIA ALFA PER CAMPIONI A LARGA SUPERFICIE
La famiglia degli spettrometri ORTEC ALPHA SUITE si amplia ulteriormente con un nuovo sistema di spettrometria per l’analisi di campioni di
grande superficie. Ai già noti moduli Alpha ARIA, Alpha DUO e Alpha ENSEMBLE, Ortec affianca e introduce ALPHA MEGA, un sistema integrato
di spettrometria alfa a campione singolo. ALPHA MEGA è uno spettrometro alfa stand-alone, con la possibilità di essere montato in uno chassis
di un sistema Ortec Alpha ENSEMBLE, contenente altre camere di conteggio. Il sistema è completamente controllato da PC con una semplice
connessione USB 2.0.
Ecco le principali caratteristiche del sistema ALPHA MEGA:
• Camera di conteggio singola per campioni 106mm diametro
• Pareti in ottone nikelato per facile decontaminazione
• Possibilità di montare rivelatori SiLi da 3000 mm2
• Amplificatore, Pulser, ADC interni, integrati controllati da PC
• Connessione USB 2.0
• Dimensioni: 25.6 x 36.5 x 15.2 cm. Peso: 8.3 Kg
Per ulteriori informazioni vi invitiamo a contattare il nostro
ufficio commerciale.
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SISTEMI DI ANALISI WHOLE-BODY
SISTEMI DI SCREENING RAPIDO
ANALIZZATORE WHOLE-BODY IN PIEDI
STANDFAST II
Un sistema in cui il soggetto da analizzare passa attraverso un
dispositivo di screening rapido e che è in grado di esaminare fino a 45
soggetti in un’ora.
La struttura attraverso cui il soggetto da esaminare deve passare è
a forma esagonale in modo da inserirsi perfettamente in uno spazio
limitato come un angolo di due muri.
Il software di sistema è basato su Windows® con database dei
soggetti integrato.
Si interfaccia ad altri sistemi informatici se necessario
Le funzioni di controllo qualità garantiscono la validità dei risultati
Elettronica controllata tramite computer
Il tempo di analisi di un minuto soddisfa i requisiti di screening della
Norma ANSI N13.30.
Il design segmentato permette l’installazione anche in zone anguste
senza aver bisogno di gru a ponte.
LETTINO PER L’ANALISI WHOLE-BODY
WBC-BSCAN
Un analizzatore Whole-body ad alta risoluzione per l’analisi di routine.
WBC-BSCAN utilizza il sistema di refrigeramento LN2 e il rivelatore
serie PROFILE modello GEM-F8250, per l'acquisizione di spettri ad
alta risoluzione per l’analisi Whole-body. Un modulo di controllo e
configurazione molto semplice guida la piattaforma di scansione.
SISTEMI DI ANALISI PER TIROIDE WBC-T
Semplice dispositivo da banco con rivelatore NaI 2”x2” per l’analisi
dello iodio in tiroide.
Dispositivo regolabile.
Semplice configurazione.
Disponibile singolarmente o abbinato con diversi modelli di sedie per
l’analisi Whole-body.
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STRUMENTAZIONE PER LA SICUREZZA NAZIONALE
DETECTIVE REMOTE: IL NUOVO SOFTWARE DI MONITORAGGIO IN TEMPO REALE
Un ulteriore strumento nella famiglia degli identificatori di radionuclidi.
Con il 2012 e l’introduzione del modello Detective-200 ORTEC è entrata nell'ottavo anno di produzione della famiglia DETECTIVE che, lo
ricordiamo, rappresenta l’insieme dei sistemi di identificazione portatili con rivelatore al Germanio iperpuro raffreddato elettricamente a batterie.
ORTEC introduce il nuovo software DETECTIVE REMOTE, un’applicazione studiata per l’identificazione e la mappatura in tempo reale negli
scenari di monitoraggio in campo. Detective Remote rivestirà un ruolo fondamentale negli scopi legati alla sicurezza contro il traffico illecito di
materiale nucleare ed è compatibile con tutti gli strumenti appartenenti alla famiglia
ORTEC: Microdetective, Detective-100T e Detective-200.
Il software consente di visualizzare su una piattaforma PC remotizzata (via USB o Wireless) un insieme di informazioni relative all’identificazione
radionuclidica, degli stati di allarme (gamma e neutroni) e il superamento delle soglie di attenzione impostate dall’utente. I dati sono inoltre tutti
georeferenziati tramite il dispositivo GPS incluso nello strumento.
Ecco le principali caratteristiche di DETECTIVE REMOTE:
• Interfaccia semplice e intuitiva anche in fase di installazione.
• Gestione multipla degli strumenti Detective connessi.
• Visualizzazione in tempo reale del rateo di conteggio (gamma e neutroni) e salvataggio
delle misure integrate nel tempo.
• Impostazione delle soglie di attenzione e allarme personalizzate.
• Indicazione degli eventi di allarme in tempo reale.
• Visualizzazione della tipologia di evento.
• Personalizzazione dei codici-colore per tipologia di evento.
• Possibilità di inserire commenti testuali sugli eventi monitorati.
• Allarmi acustici selezionabili dall’utente.
• Visualizzazione in tempo reale dello stato di salute di Detective.
• Possibilità di salvataggio di tutti i dati acquisiti.
• Compatibilità con i sistemi operativi WINDOWS.
GAMMA NAI-SS
E SISTEMI DI RICERCA NEUTRONICA
Il sistema NaI-SS è stato realizzato per rispondere alla necessità
di un sistema facilmente trasportabile e compatto capace di
localizzare neutroni e/o sorgenti di raggi gamma da un veicolo in
movimento. Questo tipo di sistema è largamente impiegato nelle
mappature di controllo quotidiane dagli organi competenti, in tutte
le situazioni che lo richiedano.
Localizzazione in tempo reale di sorgenti di raggi gamma o
neutroni dal cielo o in movimento via terra.
Localizza trasporti illeciti o sorgenti orfane
Sensibilità omni-direzionale
GPS integrato e software di mappatura
Presentazione dei dati chiara e flessibile
Compatto e modulare
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XCOOLER-III
L’ULTIMA GENERAZIONE DEI SISTEMI DI RAFFREDDAMENTO ELETTRICO
L’anno 2000 di ORTEC iniziò con l’introduzione di un innovativo
sistema di raffreddamento elettrico per rivelatori al Germanio
iperpuro: XCOOLER rappresentò una vera novità nel panorama
di questi sistemi, sviluppati negli anni ’80, sia per le compatte
dimensioni che per il prezzo decisamente vantaggioso rispetto al
passato. Nel 2004, sulla base dell’ampia diffusione e consenso
riscontrati da parte dei numerosi utilizzatori, è stato realizzato
XCOOLER-II, un sistema analogo per dimensione e costi, ma con
alcune migliorie apportate all’apparato refrigeratore, che consentiva
l’adeguato raffreddamento anche di rivelatori HpGe di grosso volume
ed efficienza.
assemblaggio del rivelatore richiede pochi minuti ed è realizzabile in
sito anche da un utilizzatore esperto.
Le dimensioni contenute (32 x 32 x 28 cm) e il peso limitato (16
kg) costituiscono un ulteriore vantaggio, specialmente in termini di
movimentazione e assemblaggio del sistema.
L’eliminazione del problema dell’approvvigionamento dell’Azoto
liquido oggi non è più un problema. Contattateci per conoscere il
nuovo sistema elettrico criogenico XCOOLER-III.
Oggi ORTEC introduce la terza generazione della famiglia: XCOOLER-III.
Questo nuovo modello, quasi identico a XC-II nell’aspetto, nelle
contenute dimensioni e peso, è stato riprogettato in alcune sue parti,
specialmente nel criostato di raffreddamento per il quale è stato
realizzato un modello altamente “sigillato” e quindi senza necessità di
periodici interventi di evacuazione del vuoto.
XCOOLER-III quindi non necessita di operazioni di manutenzione
periodica in quanto progettato per funzionare in continuo, senza punti
deboli di perdita del vuoto in nessuna delle sue parti.
Le potenzialità del motore elettrico, con un regime di operazione
contenuto sotto i 400 W, consente di utilizzare XCOOLER-III con
rivelatori ORTEC-PopTop di qualunque efficienza. L’operazione di
ORTEC PINS-3CF
UN NUOVO SISTEMA DI IDENTIFICAZIONE CHIMICO-FISICO.
Il già collaudato sistema portatile ORTEC PINS, per l’identificazione
mediante analisi non-distruttiva di esplosivi, composti chimici di varia
natura e gas tossici, assume oggi una nuova veste mediante l’utilizzo
di un rivelatore HpGe appartenente alla famiglia ORTEC Detective.
Sfruttando i progressi degli ultimi anni compiuti nella realizzazione
di spettrometri portatili raffreddati elettricamente, ORTEC introduce il
sistema PINS-3CF.
Il metodo di analisi del sistema PINS – Portable Isotopic Neutron
Spectroscopy – sfrutta l’approccio non-distruttivo di analisi dello
spettro di emissione gamma derivante dall’interazione di un flusso di
neutroni con il materiale da analizzare. I neutroni vengono emessi da
un’apposita sorgente di Californio-252, andando ad eccitare i nuclei
atomici del mezzo incognito. I fotoni emessi successivamente per
diseccitazione vengono analizzati in spettrometria gamma mediante
l’utilizzo di un rivelatore HpGe, sfruttando la caratteristica di unicità
delle emissioni gamma di ogni singolo elemento chimico presente nel
composto. Un apposito software di identificazione, combinando i dati
acquisiti, fornisce la risposta circa la tipologia di composto chimico
presente nel contenitore incognito analizzato.
Elenchiamo le principali caratteristiche dell’analizzatore PINS-3CF:
• Sistema HpGe integrato a raffreddamento elettrico Transpec-P
• Cristallo HpGe 67 x 69 mm N-type. Efficienza relativa ≥ 40%.
• Sorgente di neutroni Cf-252, 92.5 MBq (2.5 mCi) – 5µgr.
• Software di spettrometria gamma e identificazione chimica.
• PC Laptop Win7 incluso.
Per ulteriori informazioni vi invitiamo a contattare il nostro ufficio
commerciale.
L’utilizzo del sistema di spettrometria gamma HpGe integrato,
portatile e raffreddato elettricamente a batterie ORTEC TRANSPEC-P,
ha consentito la rimozione dell’Azoto liquido e la riduzione degli
ingombri complessivi del sistema stesso.
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LB 124 SCINT D
UN NUOVO CONTAMINAMETRO ALFA/BETA-GAMMA
Nel 2006 BERTHOLD Technologies, con la realizzazione del contaminametro LB 124 SCINT, introduceva
sul mercato il primo prodotto di una linea di nuova concezione e brevetto per la misura simultanea
alfa/beta-gamma con rivelatore a scintillazione a Solfuro di Zinco.
Il sistema, lo ricordiamo, si basa su una tecnica di discriminazione delle particelle alfa e beta
mediante un rivelatore a scintillazione Zn(S) di larga superficie. Mediante questa tecnica lo strumento
non necessita di altri tipi di rivelatori (esempio uno scintillatore plastico messo in combinazione “a
sandwich” con il Zn(S)) e consente di ottenere un’elevata sensibilità con una risposta uniforme.
L’impiego di questa innovativa sonda è stata accolta con favore dagli utilizzatori poiché, non usando
alcun tipo di gas, la sua riparabilità ne è risultata notevolmente migliorata.
Oggi BERTHOLD introduce il nuovo modello LB124Scint-D.
La novità consiste nell’aggiunta di un rivelatore Geiger-Muller all’interno del corpo dello strumento,
che consente la misura e visualizzazione del rateo di dose gamma in aria in standard H*(10), con
range dinamico da 0.1 μSv/h a 20 mSv/h in un intervallo energetico da 50 KeV a 1.3 MeV.
In questo modo LB 124 Scint-D diventa un monitor completo per l’impiego simultaneo come
contaminametro superficiale e rateometro dose gamma.
Entrambi i valori sono visualizzati simultaneamente sul display LCD retroilluminato. Le caratteristiche
dimensionali e funzionali sono rimaste invariate rispetto al modello precedente. La presenza di
un’interfaccia RS232 assicura un facile trasferimento dei dati memorizzati su PC.
Per qualsiasi informazione di natura tecnico-commerciale non esitate a contattarci.
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LB148
IL NUOVO MONITOR MANI-PIEDI-VESTI PER LA CONTAMINAZIONE
ALFA – BETA – GAMMA
Nel 2007 BERTHOLD Technologies ha introdotto sul mercato il modello LB147,
monitor di contaminazione Mani-Piedi-Vesti per la misura di radiazione AlfaBeta-Gamma.
Sfruttando l’innovativa tecnica di discriminazione elettronica del segnale,
sviluppata per prima da Berthold nel 2005, questo monitor è stato dotato
di quattro sonde a scintillazione di tipo Solfuro di Zinco (ZnS-Ag) ad alta
efficienza di rivelazione. Il salto di qualità dunque è consistito nell’aver
eliminato l’utilizzo del gas di riempimento dei rivelatori, con tutti i problemi
ad esso connessi. Lo sviluppo della nuova elettronica di processamento inoltre
ha permesso di ridurre notevolmente le dimensioni e il peso dello strumento
rispetto ai precedenti modelli realizzati nel passato.
Sulla base del successo riscontrato in questi anni, BERTHOLD Technologies
introduce il nuovo modello LB148, analogo al precedente LB147 nelle
prestazioni e nella tecnologia, ma dotato di due rivelatori aggiuntivi per la
misura della contaminazione DORSALE delle mani. LB148 è quindi dotato di
sei rivelatori a ZnS(Ag): due per la misura piedi e quattro per la misura mani,
con la possibilità di utilizzare una delle due sonde mani, rimuovendola dal
proprio supporto, come sonda per la misura vesti.
Il display digitale è integrato nella parte superiore del monitor, e le sue funzioni
“touch-screen” consento un rapido e intuitivo accesso ai menu di utilizzo.
Fra le varie funzioni del menu menzioniamo la possibilità di controllare
e gestire le misure di plateau sui singoli rivelatori, eseguire test sulle
performance di misura, avviare procedure di calibrazione e accedere alla
libreria di radionuclidi precaricata. La memoria statica di LB148 consente
il salvataggio delle misure effettuate fino ad un numero massimo di 1750. I
risultati delle misure possono essere visualizzati in CPS o Bq/cm2 a seconda
della scelta dell’operatore.
Ogni singola sonda esegue una rivelazione periodica del fondo ambientale che
verrà poi automaticamente sottratta al momento della misura.
LB148 è inoltre uno strumento flessibile che consente, su richiesta, la
realizzazione di interessanti modifiche, come l’aggiunta di rivelatori per la
misura di particolari parti del corpo o la misura diretta in tiroide. Inoltre è
possibile prevedere un lettore di badge magnetico per la memorizzazione dei
dati personali dell’operatore e la possibilità di connessione ad un PC per il
download dei dati tramite porta USB o RS232 o RS485. Un semplice protocollo
consente inoltre di inserire fino ad un massimo di 32 unità LB147 e LB148 in
una rete entro un’estensione limite di 1200m.
Caratteristiche dei rivelatori MANI
ZnS(Ag) 150 x 230 mm ed area efficace di misura 345 cm2.
Efficienze tipiche: Sr90/Y90- 52%, Cl36- 49%, Am241- 33%
Caratteristiche dei rivelatori PIEDI
ZnS(Ag) 150 x 370 mm ed area efficace di misura 555 cm2.
Efficienze tipiche: Sr90/Y90- 43%, Cl36- 54%, Am241- 19%
L’efficacia e l’affidabilità dei monitor BERTHOLD mantengono i loro elevati
standard qualitativi. Contattateci per avere maggiori informazioni relative a
LB148.
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INTENSITÀ DI DOSE GAMMA
E MONITORAGGIO DELL’INTENSITÀ DI DOSE
TOL/F
TOL/F è un dosimetro con camera a ionizzazione aria equivalente e amplificazione a gas.
Lavora sul range di energia per fotoni da 10 keV fino a 7 MeV. TOL/F è lo strumento ideale per
il monitoraggio dell’intensità di dose in virtù soprattutto della sensibilità a basse energie.
È adatto per il rilevamento di radiazioni in regimi continui o pulsati.
Gamma di energia dei fotoni da 10 keV fino a 7 MeV Gamma di intensità di dose da 100 nSv/h a 100 Sv/h
(in due differenti modalità di misurazione) Gamma dose da 10 nSv a 500 Sv
(in due differenti modalità di misurazione) Archiviazione fino a 250 risultati con data e orario nella memoria interna
Porta seriale per output di stampa o per il trasferimento dei dati a computer host Sorgente di riferimento interna per l'auto taratura
TOL/F è omologato e approvato dal German National Bureau of Standards
LB 123N MONITORAGGIO DELL’INTENSITÀ
DI DOSE NEUTRONICA
Sistema LB123
LB123 non è solo uno strumento, ma è un sistema completo di strumentazione per la
protezione da radiazioni. Permette la misurazione della contaminazione superficiale,
l’intensità di dose gamma, l’intensità di dose neutronica e l’attività superficiale.
Una varietà di rilevatori di contaminazione differenti permette la misurazione di
emettitori alfa/beta, beta/gamma e persino di trizio. LB123 consiste in un’unità di
registrazione dei dati a batteria, dove può essere connesso uno dei sette rilevatori
a radiazione disponibili integrati nelle sonde. Alimentazioni, pre amplificatori e
discriminatori sono integrati nelle sonde che vengono identificate automaticamente dal
sistema. Il funzionamento di LB123 è molto semplice. Il programma µ-controller fornisce
molte funzioni e utility come per esempio la misurazione del background con sottrazione
automatica, modalità di tempo scalare, modalità auto-ripetizione, integrazione della
dose, misurazione plateau, archiviazione fino a 250 misure effettuate, trasferimento dei
dati a una stampante o a un computer host tramite porta ottica RS232.
Dosimetro neutronico LB6411
Da quando la Commissione Internazionale sulla Protezione Radiologica ha pubblicato
nella Pubblicazione 60 nuove raccomandazioni sulle protezioni dalle radiazioni, si è
manifestato interesse crescente negli strumenti disponibili sul mercato ottimizzati
e tarati per la misurazione di ambienti neutronici dose equivalenti H*(10) (Fattori di
conversione come pubblicati in ICRP74).
Il dosimetro per neutroni LB6411 è stato progettato in collaborazione con BERTHOLD e
il Forschungszentrum Karlsruhe GmbH. Il sistema di rilevazione con elettronica integrata
consiste in un tubo contatore He-3 proporzionale ed una sfera moderatore con diametro
250mm. La disposizione geometrica è stata ottimizzata con l’aiuto di modelli estensivi
MCNP Monte-Carlo successivamente brevettata.
Lo strumento ha una sensibilità molto elevata, di circa 3 conteggi per nSv e può essere
utilizzato sia come strumento portatile sia come dispositivo stazionario. Le risposte
sono state misurate in fasci neutronici mono energetici al Physikalisch-Technische
Bundesanstalt a Braunschweig, in Germania.
Tarato in ambiente neutronico dose equivalente H* (10) in base all’ICRP74
Rilevazione neutronica da energie termiche fino a 20 MeV
Capacità energetica +/- 30% tra 50 keV e 10 MeV
Dipendenza dall'energia
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Finito di stampare nel marzo 2014.
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Vietata la riproduzione anche parziale, immagini coperte da copyright ©.
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