Il microscopio elettronico a scansione (SEM) opera come un

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Il microscopio elettronico a scansione (SEM) opera come un
ICVBC STRUMENTAZIONE: DESCRIZIONE
Nome Strumento+ Marca
Diffrattometro a raggi X X’Pert Pro Panalytical con accessori per
microdiffrazione
GENERALITA’:
Lo strumento in dotazione consente l’analisi qualitativa e quantitativa di
materiali lapidei naturali ed artificiali, ceramiche, vetri, pigmenti, inchiostro,
legno, cellulosa, metalli, materiali compositi, di ogni componente cristallina in
qualsiasi tipo di matrice complessa.
Consente l’analisi di diversi tipi di campioni, poiché dotato di stage
portacampioni per alloggiare campioni massivi (peso massimo 5 kg) e di forme
irregolari ma anche campioni di piccole dimensioni nonché vetrini e
portacampioni piani per polveri (zerobackground stages).
Lo strumento è dotato di accessorio per microdiffrazione: monocapillare di
diametro di 100m e di lunghezza di 16 cm che consente l’analisi su campioni
tal quali, sezioni lucide e sottili. E’ possibile controllare il posizionamento dei
raggi X rispetto al campione tramite telecamera.
DETTAGLI TECNICI:
Diffrattometro PANalytical modello X’Pert Pro con Multirivelatore X’Celerator
realizzato con tecnologia RTMS “Real Time Multiple Strip”, dotato di
generatore di raggi X con massima potenza continua: 3.0 kW, tensione: da 20 a
60 kV impostabile con step da 1 kV, corrente da 5 a 60 mA impostabile con step
da 1 mA.
Tubo a raggi X ad anticatodo in Cu, con tecnologia LFF, compatto, a due
finestre, una con uscita con fuoco puntuale (per applicazioni in microdiffrazione)
e una uscita con fuoco lineare (per applicazioni su polveri), goniometro di tipo
verticale theta-theta, caratterizzato da due assi disaccoppiati theta/2 theta con
motori indipendenti e sistema di posizionamento e di controllo angolare accurati
e riproducibili nel tempo, raggio goniometrico variabile da 130 mm a 240 mm,
riproducibilità assi: ±0,0001°, velocità minima di scansione 0,001°/s, velocità
massima 1,27°/s, step minimo 0,001°, range angolare -40°-200°
Lo strumento è dotato di software Highscore per la gestione e l’interpretazione
dei diffrattogrammi acquisiti.
Figura: Diffrattometro a raggi X X’Pert Pro Panalytical con accessori per
microdiffrazione