ARPA SICILIA Agenzia Regionale per la Protezione

ARPA SICILIA
Agenzia Regionale per la Protezione dell’Ambiente
sede legale in Corso Calatafimi n.219
90129 PALERMO
tel./fax 091.6563582
Programma Operativo Regionale 2000–2006
Misura 1.1
Sottomisura 1.1A
Azione a.4
Attività di Controllo e Monitoraggio Ambientale
Sotto Azione a.4.5
“Rete Regionale di Monitoraggio del Suolo”
Codice Identificativo
C.I. 1999.IT.16.1PO.011/1.01A/11.2.2/0019
Codice Unico di Progetto
C.U.P. E 15 E 06 00005 000 6
PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO
ELETTRONICO A SCANSIONE E MICROANALISI A RAGGI X.
CAPITOLATO TECNICO
SPECIFICHE TECNICHE
N. 1 MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE E MICROANALISI A RAGGI X
Il microscopio elettronico a scansione deve poter operare sia in condizione di alto vuoto che di
pressione variabile.
CARATTERISTICHE MINIME DEL MICROSCOPIO:
•
risoluzione in condizione di alto vuoto almeno 3 nm
•
pressione variabile: almeno fino a 350 Pa
•
ingrandimenti: almeno da 10x a 700.000X
•
distanza di lavoro analitica (AWD): massimo 15 mm
•
sistema porta aperture multiplo atto a consentire di cambiare ed allineare le aperture finali senza
interrompere il vuoto;
•
camera di lavoro di ampie dimensioni con diametro o lato maggiore del piano di almeno 300 mm;
•
tavolino traslatore motorizzato su tutti i cinque assi. Deve garantire almeno le seguenti escursioni: X
= 80 mm, Y = 80 mm, Z = 35 mm, tilt = 0 – 90°, rotazione = 360°;
•
il sistema deve essere equipaggiato almeno con i seguenti rivelatori:
− rivelatore di elettroni secondari ET per osservazioni in alto vuoto,
− rivelatore di elettroni secondari dedicato per osservazioni in basso vuoto,
− rivelatore di elettroni retrodiffusi almeno a 2 settori per osservazioni sia in alto vuoto che in
basso vuoto;
•
il sistema di vuoto deve poter garantire un vuoto ultrapulito e deve essere dotato di sistemi di
misura dell’alto vuoto e del basso vuoto.
•
sistema di microanalisi a dispersione di energia con le seguenti caratteristiche minime:
a. rivelatore al Si(Li) con finestra polimerica per la rilevazione degli elementi leggeri a partire dal
Boro/Berillio ed area attiva di almeno 30 mm2;
b. risoluzione almeno 133eV su Mn K ;
c. software del sistema di microanalisi atto a garantire almeno la:
−
possibilità di effettuare simultaneamente mappature x multiple e di acquisire immagini
digitali;
−
possibilità di effettuare profili elementali, nonché profili di concentrazione;
−
possibilità di acquisizione di spettri da punti o aree del campione localizzate sullo schermo
del SEM;
−
possibilità di identificazione automatica dei picchi, di effettuazione di analisi quantitative con
e senza standard (anche di campioni rugosi, particelle etc.) e di confronto di spettri.
•
sistema di controllo attraverso un personal computer (versione più aggiornata) con caratteristiche
adeguate a supportare il sistema con:
−
con almeno due monitor da 19” (uno per il Sem e l’altro per il sistema di microanalisi);
−
n.2 stampanti Laser con risoluzione 600 – 1000 dpi di cui quella dedicata al SEM b/n e
quella dedicata alla microanalisi a colori entrambe dotate di n. 5 toner;
−
mouse ottico;
−
masterizzatore DVD e scheda di rete.
2
−
Il sistema deve consentire di salvare le immagini in formato TIFF, BMP e JPEG ed
effettuare, tramite apposito software, misure dirette, sia lineari che angolari, e radiali;
•
La ditta dovrà altresì fornire idoneo strumento per la metallizzazione in oro e la ricopertura con
carbone dei campioni non conduttivi
•
gruppo di continuità idoneo a garantire il funzionamento continuo dell’apparecchiatura in caso di
black out per un tempo di almeno 15 minuti.
CORSO DI FORMAZIONE
La ditta aggiudicataria deve provvedere a fornire:
• Corso di formazione di almeno 2 giorni, per complessive 12 ore, da effettuarsi in fase di collaudo
presso il DAP di Catania ove viene installato e collaudato lo strumento per almeno n. 3 persone.
• Successivamente, in accordo con il Responsabile del DAP di Catania, un corso di formazione (per
almeno n. 3 persone) relativo all’utilizzo dell’apparecchiatura, la manutenzione ed il controllo
ordinario di essa della durata di ulteriori 3 giornate per non meno di 18 ore complessive).
3
CRITERI DI VALUTAZIONE
Criteri
generali
Sub
punteggi
Sub Criteri
Sorgente di emissione a Cristallo di LaB6
6
R > 2,0 nm e R < 3,0 nm
R 2.0 nm
Dimensione del piano della camera di lavoro (diametro o lato
maggiore) > 300 mm
2
5
Risoluzione “R” massima in HV
Distanza di Lavoro Analitica
(AWD)
1
AWD
4
8
9 mm
Caratteristiche
AWD < 9 mm
del
Sistema di realizzazione del vuoto nella colonna con pompa rotativa
microscopio
e pompa turbomolercolare
Tempi di
intervento
degli
5
41
2
Pressione variabile misurata in Pascal > di 350 Pa
Rivelatore
retrodiffusi
3
AWD < 15 mm e AWD > 10 mm
10 mm e AWD
Max
Punteggi
elettroni Detector anulare più terzo settore
2
Detector a quattro settori
4
Sistema di gestione realizzato con n. due P.C. distinti: uno per la
gestione del SEM e uno per la Microanalisi
4
Sistema di raffreddamento del dispositivo per la microanalisi a gas
elio
4
Tempi di intervento di riparazione
Entro 36h
Tempi di intervento di riparazione
Entro 24h
Estensione del Di 1anno oltre i 24 mesi
periodo di
Di 2 anni oltre i 24 mesi
garanzia
Per 5 gg in meno rispetto a quelli indicati nel capitolato
Tempi di
consegna e di Per 10 gg in meno rispetto a quelli indicati nel capitolato
installazione Per 15 gg in meno rispetto a quelli indicati nel capitolato
2
3
3
5
10
10
2
4
6
6
TOTALE
60
IL DIRETTORE GENERALE
Ing. Sergio Marino