CAPITOLATO TECNICO TEM - Istituto Italiano di Tecnologia

Transcript

CAPITOLATO TECNICO TEM - Istituto Italiano di Tecnologia
CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico
Pagina 1 di 1
Gara a procedura aperta per l’affidamento del contratto per la
fornitura e installazione di un microscopio elettronico a trasmissione
(TEM) presso il Center for Nanotechnology Innovation dell’Istituto
Italiano di Tecnologia
CIG 04162371A3
Capitolato Tecnico
Fondazione
Istituto
Italiano
di
Tecnologia
‐
Italian
Institute
of
Technology
Sede
Legale:
Via
Morego,
30
16163
Genova
Uffici
di
Roma:
Via
Sicilia,
194
00187
Roma
Tel.
010
71781
Fax.
010
720321
C.F.
97329350587
CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico
Pagina 2 di 2
SPECIFICHE TECNICHE
Le caratteristiche di seguito indicate rappresentano i requisiti tecnici minimi
che il Microscopio Elettronico a Trasmissione (nel seguito anche “TEM”) deve
possedere. E’ accettabile un TEM con requisiti tecnici superiori a quelli minimi
richiesti.
Il TEM si intende nuovo di fabbrica, esente da vizi, completo di tutti gli
accessori necessari al suo funzionamento e al soddisfacimento delle specifiche
tecniche richieste.
Nel sito di installazione verranno garantite tutte le utenze necessarie al
funzionamento del TEM (gas tecnici quali azoto, elio, CO2 e aria compressa,
elettricità, acqua raffreddata a 15 gradi) e le specifiche tecniche offerte in termini di
risoluzione finale dovranno essere fornite insieme ai parametri ambientali minimi di
funzionamento (rumore elettromagnetico, vibrazionale, acustico).
Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) con filtro in energia (EELS)
•
Sorgente di emissione: W o LaB6;
•
Tensione di accelerazione: fino a 120 kV con regolazione continua o a
piccoli passi della tensione stessa fino a partire da un minimo di almeno 40
kV;
•
Risoluzione di reticolo: almeno 0.2 nm con allegata descrizione tecnica
dettagliata della risoluzione stimata nelle varie condizioni di lavoro;
•
Risoluzione di punto: almeno 0.4 nm, con allegata descrizione tecnica
dettagliata della risoluzione stimata nelle varie condizioni di lavoro;
•
Descrizione tecnica accurata del sistema elettro-ottico (zoom, parallelismo,
omogeneità, aberrazioni) con particolare dettaglio delle soluzioni adottate
per migliorare la risoluzione e l’illuminazione del campione;
•
Goniometro di tipo eucentrico con 5 assi motorizzati predisposto per
contenere una vasta gamma di portacampioni (analitici, singolo e doppio tilt
e di tipo speciale);
•
Portacampioni ad alto angolo di tilt (uguale o superiore a +-70°) per
tomografia;
•
Predisposizione per analisi di campioni biologici, con allegata descrizione
tecnica che garantisca il miglior contrasto e la migliore risoluzione;
•
Software di acquisizioni immagini tomografiche in automatico e di
generazione delle immagini ricostruite in 3D;
•
Sistema da vuoto con almeno una pompa primaria (a secco) ed una pompa
turbomolecolare e presenza di una configurazione di vuoto con allegata
descrizione tecnica che dimostri la minimizzazione del grado di
contaminazione del campione nella camera di lavoro; descrizione tecnica
dettagliata del sistema di vuoto impiegato;
•
Predisposizione per tecnica di criomicroscopia;
•
Imaging sia in tecnica TEM che STEM, sia in campo chiaro che in campo
scuro con relativo software di gestione e controllo;
•
Risoluzione STEM di almeno 1.5 nm;
Fondazione
Istituto
Italiano
di
Tecnologia
‐
Italian
Institute
of
Technology
Sede
Legale:
Via
Morego,
30
16163
Genova
Uffici
di
Roma:
Via
Sicilia,
194
00187
Roma
Tel.
010
71781
Fax.
010
720321
C.F.
97329350587
CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico
•
•
•
•
•
•
•
•
Pagina 3 di 3
Filtro in energia in colonna o post-column (EELS) con risoluzione in energia
migliore o uguale a 2 eV;
Predisposizione o presenza di imaging EELS a perdita zero di energia o a
perdita di energia definita, con relativo software di gestione e controllo
(imaging parallelo, risolto lateralmente, risolto per angolo);
Diffrazione TEM e software per l’acquisizione e la misura dei parametri del
pattern di diffrazione ottenuto;
CCD-camera in asse con la colonna da almeno 2k x 2k pixel raffreddata ad
effetto Peltier;
Schermo a fluorescenza con microscopio ottico con ingrandimento di
almeno 5x per l’osservazione diretta dell’immagine TEM su di esso;
Predisposizione per la installazione di un sistema di microanalisi a
dispersione di energia (EDS) sia hardware che software che non riduca le
specifiche tecniche del microscopio stesso in termini di risoluzione TEM,
STEM, EELS;
Interfaccia di controllo manuale analogico/digitale (hard panel) per la
gestione dei parametri di controllo elettro-ottici;
Sistema di acquisizione e controllo costituito da una workstation (PC) con
sistema operativo pari in caratteristiche tecniche a sistemi quali “Windows
XP”, Vista o “Windows 7”, uno o due monitor da minimo 19”, hard disk da
almeno 500 Gbytes, interfacce di rete e USB, lettore e masterizzatore DVD,
software di gestione dell’acquisizione dati;
GARANZIA E SERVIZI RICOMPRESI NELLA FORNITURA
INSTALLAZIONE
Il TEM dovrà essere consegnato, montato e reso funzionante, a completa cura ed
onere del fornitore, al piano terra dell’edificio sito a Pisa, in Piazza San Silvestro
12.
Il montaggio comprenderà, inoltre, il cablaggio elettrico alle prese predisposte in
sede e la connessione ai punti di erogazione dei gas tecnici, dotati di attacco per
tubo di tipo rilsan.
FORMAZIONE
A completa cura ed onere del fornitore, dovrà essere tenuto un corso di
formazione all’uso degli strumenti, di durata complessiva non inferiore a 5 gg.
presso la sede del CNI di Pisa.
Le modalità di svolgimento del corso saranno definite successivamente
all’installazione.
ASSISTENZA TECNICA
Per un periodo di almeno dieci anni successivo al positivo collaudo degli
strumenti, il fornitore è obbligato a fornire la componentistica di ricambio
necessaria per la corretta manutenzione e riparazione degli strumenti.
Fondazione
Istituto
Italiano
di
Tecnologia
‐
Italian
Institute
of
Technology
Sede
Legale:
Via
Morego,
30
16163
Genova
Uffici
di
Roma:
Via
Sicilia,
194
00187
Roma
Tel.
010
71781
Fax.
010
720321
C.F.
97329350587
CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico
Pagina 4 di 4
CONDIZIONI DI GARANZIA
Durata non inferiore a mesi 12.
Intervento on-site entro il termine di 5 (cinque) giorni lavorativi dalla
comunicazione.
Eliminazione del vizio entro 15 giorni lavorativi dalla comunicazione.
Penale di Euro 250,00/gg per ritardata eliminazione del vizio oltre il termine di cui
sopra, oltre rimborso per eventuali danni indiretti.
AGGIORNAMENTI SOFTWARE
Il fornitore è obbligato a fornire al committente, per almeno 10 anni
dall’installazione e senza costi a carico del committente, tutti gli aggiornamenti dei
software installati;
Fondazione
Istituto
Italiano
di
Tecnologia
‐
Italian
Institute
of
Technology
Sede
Legale:
Via
Morego,
30
16163
Genova
Uffici
di
Roma:
Via
Sicilia,
194
00187
Roma
Tel.
010
71781
Fax.
010
720321
C.F.
97329350587